L50 光电子器件综合 标准查询与下载

IEC 60191-6-13:2007 半导体装置的机械标准化.第6-13部分:小间距球栅阵列和小间距盘栅阵列(FBGA/FLGA)用顶部开口型插座的设计指南

This part of IEC 60191 gives a design guideline of open-top-type semiconductor sockets for Fine-pitch Ball Grid Array ("FBGA" hereafter) and Fine-pitch Land Grid Array ("FLGA" hereafter). This standard is intended to establish the outline drawings and dimensions of the open-top-type socket out of the test and burn-in sockets applied to FBGA and FLGA.

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-13: Design guideline for open-top type sockets for Fine-pitch Ball Grid Array and Fine-pitch Land Grid Array (FBGA/FLGA)

JEDEC JESD8-3A-2007 数字集成电路的GTL低水平高速度接口标准

This standard defines the dc input and output specifications for a low-level, high-speed interface for integrated circuits.

Gunning Transceiver Logic (GTL) Low-Level, High Speed Interface Standard for Digital Integrated Circuits

TIA PN 3-0002-RV1-2007 基本试验和测量程序.检查和测量单套管多芯光纤连接器抛光角度和光纤位置

(This Foreword is informative only and is not part of this Standard.)From TIA (Telecommunications Industry Association) Project No. 3-0002, formulated under the cognizance of TIA FO-4, Committee on Fiber Optics, FO-4.3, Passive Optical Devices and Compon

Examinations and measurements ?Polish angle and fiber position on single ferrule multifiber connectors To be published as TIA-455-219-A

KS B ISO 11455:2006 未加工光学玻璃.双折射的测定

이 규격은 유리 특히 벌크 및 프리쉐입 형태의 광학 유리 원재료에서의 복굴절을 판단하는

Raw optical glass-Determination of birefringence

KS B ISO 12123:2006 散装与成型光学玻璃原材料.气泡与异物.试验方法与分类

이 규격은 벌크 및 성형된 광학 유리 원재료에서의 이물 결정을 위한 시험 방법을 규정한다.

Raw optical glass in bulk and preshaped forms-Bubblesand other inclusions-Test method and classification

KS B ISO 14881:2006 集成光学.接口.有关耦合特性的参数

이 규격은 집적 광학칩(IOC)과 광전 집적 회로(OEIC)를 가진 칩에 출입하는 빛의 결

Integrated optics－Interfaces－Parameters relevant to coupling properties

KS B ISO 15367-2:2006 激光及激光相关设备.激光束波前形状测定用试验方法.第2部分:Shack.Hartmann传感器

적용 범위 이 규격은 하트만 센서 또는 샤크-하트만(shack-Hartmann) 파면 센서

Lasers and laser-related equipment-Test methods fordetermination of the shape of a laser beam wavefront-Part 2:Shark-Hartmann sensors

KS B ISO 13694:2006 光学和光学仪器.激光和激光设备.激光束能量密度分布的试验方法

이 규격은 레이저의 출력(에너지) 밀도 분포를 측정하는 방법들을 규정하고, 주어진 평면상의

Optics and optical instruments-Lasers and laser-related equipments-Test methods for laser beam power(energy) density distribution

KS B ISO 13695:2006 光学和光子学.激光及其相关设备.激光光谱特性的试验方法

이 규격은 연속파 및 펄스 레이저 광속의 파장, 대역폭, 분광 분포, 파장 안정성 등의 여

Optics and photonics-Lasers and laser-related equipments-Test methods for the spectral characteristics of lasers

KS B ISO 12844:2006 未加工光学玻璃.金刚砂可磨性.试验方法和分类

이 규격은 다이아몬드 펠릿에 의한 광학 유리 원재료에 대한 연삭능을 결정하는 시험 방법

Raw optical glass-Grindability with diamond pellets-Test method and classification

KS B ISO 13696:2006 光学和光学仪器.用光学元件进行辐射散射的试验方法

이 규격은 코팅되거나 코팅되지 않은 광학면에 의한 총 산란을 결정하는 절차를 규정한다.

Optics and optical instruments－Test methods for radiation scattered by optical components

KS B ISO 13653:2006 光学和光学仪器.常规光学测试方法.像场中相对照度的测量

이 규격은 광학 분광 파장(l)의 범위가 100 nm에서 1 mm인 광학 결상계에 대하여

Optics and optical instruments-General optical test methods-Measurement of relative irradiance in the image field

KS B ISO 15368:2006 光学和光学仪器.平面表面反射率和平面平行元件投射率的测量

이 규격은 분광 대역이 190 nm∼25 mm인 분광 광도계를 사용하여 평면의 분광 반사율

Optics and optical instruments-Measurement of reflectance of plane surfaces and transmittance of plane parallel elements

KS B ISO 12853:2006 光学和光学仪器.显微镜.为用户提供的信息

이 규격은 현미경 제조업체가 사용자에게 제공해야 할 최소한의 필수 정보에 대하여 규정 한

Optics and optical instruments-Microscopes-Information provided to the user

KS B ISO 15362:2006 光学和光学仪器.体视显微镜.提供给用户的信息

이 규격은 입체 현미경 제조업체가 사용자에게 제공해야 할 최소한의 정보에 대하여 규정 한다

Optics and optical instruments-Stereomicroscopes-Information provided to the user

KS B ISO 14135-2:2006 光学及光学仪器.望远镜瞄准具规范.第2部分:高性能仪器

이 규격은 휴대용 소화기 및 공기총에 사용되는 고성능 망원 조준경에 대하여 규정한다. 또

Optics and optical instruments-Specifications for telescopic sights-Part 2:High-performance instruments

KS B ISO 14135-1:2006 光学及光学仪器.望远镜瞄准具规范.第1部分:通用仪器

이 규격은 휴대용 소화기 및 공기총에 사용되는 범용 망원 조준경에 대하여 규정한다. 또한

Optics and optical instruments-Specifications for telescopic sights-Part 1:General-purpose instruments

KS B ISO 14490-3:2006 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第3部分:望远镜式瞄准具的试验方法

이 규격은 다음과 같은 망원 조준경의 광학 특성을 측정하기 위한 시험 장치 및 시험 절 차

Optics and optical instruments－Test methods for telescopic systems－Part 3：Test methods for telescopic sights

JEDEC JESD8C-2006 标称电压3 V/3.3 V供电数字集成电路的接口标准

This standard (a replacement of JEDEC Standards 8, 8-1, 8-1A, and 8B) defines dc interface parameters for a family of digital circuits operating from a power supply of nominal 3 V/3.3 V and driving/driven by parts of the same family. Clause 2 describes normal DC electrical characteristics and clause 2.4 (added by revision C) describes the optional characteristics for Schmitt trigger operation. The specifications in this standard represent a minimum set, or ‘base line’ set, of interface specifications for LVTTL compatible and LVCMOS compatible circuits.

Interface Standard for Nominal 3 V/3.3 V Supply Digital Integrated Circuits

JEDEC JESD8-7A-2006 非终结数字集成电路的1.8V(正负)0.15V(正常范围)和1.2V到1.95V(宽量程)供电电压和接口标准

This standard defines power supply voltages, dc interface and switching parameters for a high speed, low voltage family of non-terminated digital circuits driving/driven by parts of the same family, or mixed families which comply with the input/output interface specifications. The specifications in this standard represent a minimum set of interface specifications for CMOS compatible circuits, they also allow limited interoperability with JESD8-6 compliant HSTL devices.

1.8 V (PLUS OR MINUS) 0.15 V (Normal Range), and 1.2 - 1.95 V (Wide Range) Power Supply Voltage and Interface Standard for Non-Terminated Digital Integrated Circuit