IEC 60749-1996
半导体器件 机械和气候试验方法已作废

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

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标准号

IEC 60749-1996

发布日期

1996年10月

实施日期

废止日期

2002-04

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

IX-IEC

代替标准

IEC 60749-6-2002 IEC 60749-9-2002 IEC 60749-11-2002 IEC 60749-13-2002 IEC 60749-12-2002 IEC 60749-1-2002 IEC 60749-8-2002 IEC 60749-31-2002 IEC 60749-32-2002 IEC 60749-22-2002 IEC 60749-3-2002 IEC 60749-7-2002 IEC 60749-10-2002 IEC 60749-4-2002 IEC 60749-

被代替标准

IEC 47/1394/FDIS-1996 IEC 60749-1984 IEC 60749 AMD 1-1991 IEC 60749 AMD 2-1993

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