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Elektromigrationstest

Für die Elektromigrationstest gibt es insgesamt 10 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Elektromigrationstest die folgenden Kategorien: Diskrete Halbleitergeräte, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte.

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Elektromigrationstest

• JEDEC JESD61A.01-2007 Testverfahren für isotherme Elektromigration
• JEDEC JESD61A-2007 Testverfahren für isotherme Elektromigration
• JEDEC JESD61-1997 Testverfahren für isotherme Elektromigration

Danish Standards Foundation, Elektromigrationstest

• DS/EN 62415:2010 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Elektromigrationstest

• EN 62415:2010 Semiconductor devices - Constant current electromigration test

Association Francaise de Normalisation, Elektromigrationstest

• NF EN 62415:2010 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest

ES-UNE, Elektromigrationstest

• UNE-EN 62415:2010 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest (von AENOR im September 2010 empfohlen.)

German Institute for Standardization, Elektromigrationstest

• DIN EN 62415:2010-12 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest (IEC 62415:2010); Deutsche Fassung EN 62415:2010

Lithuanian Standards Office , Elektromigrationstest

• LST EN 62415-2010 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest (IEC 62415:2010)

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Elektromigrationstest

• IPC TM-650 2.6.14.1-2000 Elektrochemischer Migrationswiderstandstest

Sonstige:   Elektromigrationsstandards, +++++Migrationstest+, Elektromigration von Metallen, Elektromigrationspartikelgröße, Elektromigration, Elektromigration, Elektromigration von Metallen, Elektromigration von Metallen, Elektromigration von Tellur, Migrationstests, Elektromigrationsanalyse, Elektromigrationstemperatur, Elektromigrationsanalyse, Elektromigrationsspektrum, Nachweis der Elektromigration, Elektromigration von Gold, Indium-Elektromigration, Migration des Schaltkastens, Elektromigrationstest, Elektromigrationsparameter.