KDK-KDY-1 四探针电阻率测试仪
tel: 400-6699-117 转 1000恒奥德四探针测试仪, 本仪器的特点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电流。
咨询留言
产品型号:KDK-KDY-1
品牌:恒奥德
产品产地:北京
产品类型:国产
原制造商:恒奥德
状态:在售
厂商指导价格:未提供
上市时间: 2015-02-14
英文名称: KDK-KDY-1 Four probe resistivity tester
优点:本仪器的特点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电流。
参考成交价格: 1~5万元[人民币]
仪器导购
四探针测试仪
其他推荐
厂家资料
地址:北京市北洼路90号院16号楼317室(北京市地质工程勘察院院内)
电话:400-6699-117 转 1000
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 KDK-KDY-1 四探针电阻率测试仪 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- JJG 508-2004 四探针电阻率测试仪
- GB/T 39978-2021 纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法
- JJG 508-1987 四探针电阻率测试仪检定规程
- DB32/T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法
- GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
- SJ/T 10314-1992 直流四探针电阻率测试仪通用技术条件
- KS D 0260-1999 四点探针法测试单晶硅片电阻率的方法
- KS C 0256-2002(2022) 硅晶体和硅片电阻率的四点探针测试方法
- KS D 0260-1989(1994) 具有四点探针的单晶硅片的电阻率测试方法
- T/CASAS 019-2021 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法