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硅片表面形貌测量VIT系列

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FSM晶圆处理和测试, 硅片表面形貌测量,材料表面形貌分析

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硅片表面形貌测量VIT系列

  • FSM VIT

产品型号:VIT

品牌:FSM

产品产地:美国

产品类型:进口

原制造商:FSM

状态:在售

厂商指导价格:未提供

上市时间: 2017-10-30

英文名称:VIT series Measurement of silicon wafer surface morphology

优点:硅片表面形貌测量,材料表面形貌分析

参考成交价格: 30~50万元[人民币]

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    地址:上海市松江区莘砖公路518弄漕河泾开发区松江高科技园区28号楼3A

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