本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。 本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的晶体的表面取向。 本标准包括两种试验方法: 方法A X射线衍射定向法。该方法可用于所有半导体单晶的定向。 方法B 光图定向法。该方法目前用于单一元素半导体单晶的定向。
GB/T 1555-1997由国家质检总局 CN-GB 发布于 1997-12-22,并于 1998-08-01 实施,于 2010-06-01 废止。
GB/T 1555-1997 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法,在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。
GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 于 2009-10-30 变更为 GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法。
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