2.X射线荧光光谱仪(XRF)参见体相成分分析X射线荧光光谱仪(XRF)3.俄歇电子能谱仪(AES)原理:具有一定能量的电子束(或X射线)激发样品俄歇效应,通过检测俄歇电子的能量和强度,从而获得有关材料表面化学成分和结构的信息的方法。适合分析材料:金属、高分子等材料,薄膜,涂层等应用领域:半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等。...
这一过程被称之为俄歇效应一元素受激发后辐射出的X射线光子的能量等于受激原子中过渡电子在初始能态和终能态的能量差别,即发射的X射线光子能量与该特定元素的电子能态差成正比X射线荧光光谱仪是来源于样品组成的特征辐射。通过侧定和分析X射线的能量或波长,即可获知其为何种元素,故可用来识别物质组成,定量分析物质中的元素含量。 ...
光电子出射时有可能再次激发出原子中的其他电子,生成的光电子被称为俄歇电子,产生新的光电子。再次这一过程被称之为俄歇效应一元家受激发后辐射出的X射线光子的能量等于受激原子中过渡电子在初始能态和最终能态的能量差别,即发射的X射线光子能量与该特定元素的电子能态差成正比X射线荧光光谱仪是来源于样品组成的特征辐射。...
当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子.它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关.当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X 射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差.因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。 ...
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