LAYERTEC的标准检验流程包括基板的干涉测量和涂层光学元件在波长范围为120纳米到20微米的分光光度计测量。在波长范围λ=120纳米至20微米的标准分光光度计测量,使用紫外-可见-近红外分光光度计,真空紫外和傅里叶变换红外分光光度计。通过腔环衰减时间测量法,可以确定R、T=99.5%至99.9999%的高反射率和透射率。这种方法是一种高精度的绝对测量方法。...
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。#21时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)我司新推出的时域热反射测量系统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数,薄膜测量厚度可达纳米量级!在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。关于昊量光电:昊量光电 您的光电超市!上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外先进性与创新性的光电技术与可靠产品!...
VERTEX 80v采用真空光学台,可消除大气中的水蒸气、二氧化碳吸收干扰,从而实现极佳的灵敏度和稳定性,助力进行诸多高难度试验,如高分辨率、超快速扫描、步进扫描测量等。...
加拿大FISO公司的白光干涉原理的F-P传感器与调理器,通过位于读数仪中的菲佐干涉仪来确定应变传感元件中法布里-珀罗腔的长度,该菲佐干涉仪能光学再现法布里-珀罗腔的长度,并在沿干涉仪一侧固定的高密度线性光电二极管阵列上对腔长数字化。该技术获得技术专利(美国专利号5,202,939),在国内大坝等岩土工程领域获得推广与应用。...
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