GB/T 30854-2014
LED发光用氮化镓基外延片

Gallium nitride based epitaxial layer for LED lighting

GBT30854-2014, GB30854-2014


GB/T 30854-2014 发布历史

本标准规定了LEDBe FASUCRESDHEHr CLAPfh Rb BE)BASBESIEEDYASFABa 32 AEJEBSTREADAA.本标准适用于LED2056 FWCRALSPBEI.

GB/T 30854-2014由国家质检总局 CN-GB 发布于 2014-07-24,并于 2015-04-01 实施。

GB/T 30854-2014 在中国标准分类中归属于: H83 化合物半导体材料,在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。

GB/T 30854-2014 发布之时,引用了标准

  • GB/T 13387 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
  • GB/T 14140 硅片直径测量方法
  • GB/T 14142 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法*2017-09-29 更新
  • GB/T 14264 半导体材料术语
  • GB/T 14844 半导体材料牌号表示方法*2018-12-28 更新
  • GB/T 191 包装储运图示标志
  • GB/T 2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
  • GB/T 4326 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
  • GB/T 6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法
  • GB/T 6619 硅片弯曲度测试方法
  • GB/T 6620 硅片翘曲度非接触式测试方法
  • SJ/T 11399 半导体发光二极管芯片测试方法

* 在 GB/T 30854-2014 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。

GB/T 30854-2014的历代版本如下:

GB/T 30854-2014

标准号
GB/T 30854-2014
别名
GBT30854-2014
GB30854-2014
发布
2014年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 30854-2014
 
 
引用标准
GB/T 13387 GB/T 14140 GB/T 14142 GB/T 14264 GB/T 14844 GB/T 191 GB/T 2828.1 GB/T 4326 GB/T 6618 GB/T 6619 GB/T 6620 SJ/T 11399

推荐


GB/T 30854-2014 中可能用到的仪器设备





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