GB/T 20726-2015
微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
Microbeam analysis.Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
GBT20726-2015, GB20726-2015
- 标准号
- GB/T 20726-2015
- 别名
- GBT20726-2015
GB20726-2015 - 发布
- 2015年
- 采用标准
- ISO 15632:2012 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 20726-2015
- 引用标准
- GB/T 21636-2008
- 被代替标准
- GB/T 20726-2006
- 适用范围
- 本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309和ASTM E1508中已有规范，不在本标准范围之内。
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