GB/T 20726-2015
微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
Microbeam analysis.Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
GBT20726-2015, GB20726-2015
GB/T 20726-2015 发布历史
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309和ASTM E1508中已有规范，不在本标准范围之内。
GB/T 20726-2015由国家质检总局 CN-GB 发布于 2015-10-09，并于 2016-09-01 实施。
GB/T 20726-2015 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 71.040.99 有关分析化学的其他标准。
GB/T 20726-2015 采用标准及采用方式
- IDT ISO 15632:2012微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
GB/T 20726-2015 发布之时，引用了标准
- GB/T 21636-2008 微束分析.电子探针显微分析(EPMA)术语
GB/T 20726-2015的历代版本如下：
- 2015年 GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
- 2006年 GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
- 标准号
- GB/T 20726-2015
- 别名
- GBT20726-2015
GB20726-2015 - 发布
- 2015年
- 采用标准
- ISO 15632:2012 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 20726-2015
- 引用标准
- GB/T 21636-2008
- 被代替标准
- GB/T 20726-2006
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