GB/T 20726-2015
微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
Microbeam analysis.Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
GBT20726-2015, GB20726-2015
GB/T 20726-2015 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 20726-2015
- 别名
- GBT20726-2015
GB20726-2015 - 发布
- 2015年
- 采用标准
- ISO 15632:2012 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 20726-2015
- 引用标准
- GB/T 21636-2008
- 被代替标准
- GB/T 20726-2006
- 本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309和ASTM E1508中已有规范，不在本标准范围之内。
GB/T 20726-2015相似标准
推荐
【干货】电子探针显微分析仪这么飒？
2、波普仪与能谱仪的主要性能比较 3、电子探针显微分析的两种方法电子探针分析有两种基本分析方法：定性分析和定量分析。（1）定性分析 定性分析是对试样某一选定点（区域） 进行定性成分分析，以确定点区域内存在的元素。定性分析的原理：用光学显微镜或在荧光屏显示的图像上选定需要分析的点，使聚焦电子束照射在该点上，激发该点试样元素的特征X射线。...
电子探针显微分析的原理
用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征x射线。 分析特征x射线的波长(或特征能量)即可知道样品中所含元素的种类(定性分析)。 分析x射线的强度，则可知道样品中对应元素含量的多少(定量分析)。 电子探针仪镜筒部分的构造大体上和扫描电子显微镜相同，只是在检测器部分使用的是x射线谱仪，专门用来检测x射线的特征波长或特征能量，以此来对微区的化学成分进行分析。 ...
EPMA和EMPA区别
利用特征X射线波长来确定元素的叫做波谱仪(WDS），利用特征X射线能量不同来展谱的就称为能谱仪(EDS）。电子探针 利用电子显微探针原理和技术来分析样品的仪器。 仪器构造：主要由电子光学系统（镜筒），X射线谱仪和信息记录显示系统组成。 1.电子光学系统 为了提高X射线的信号强度，电子探针必须采用较扫描电镜更高的入射电子束流，常用的加速电压为10-30 KV，束斑直径约为0.5μm。...
xrf和epma两种成分分析方法有何区别
xrf和epma两种成分分析方法有何区别基本原理电子显微探针是指用聚焦很细的电子束照射要检测的样品表面，用X射线分光谱仪测量其产生的特征X射线的波长和强度。由于电子束照射面积很小，因而相应的X射线特征谱线将反映出该微小区域内的元素种类及其含量。 利用特征X射线波长来确定元素的叫做波谱仪(WDS），利用特征X射线能量不同来展谱的就称为能谱仪(EDS）。...