半导体光电
本专题涉及半导体光电的标准有126条。
国际标准分类中，半导体光电涉及到光电子学、激光设备、半导体分立器件、光纤通信、陶瓷、词汇、集成电路、微电子学、光学和光学测量、电子显示器件、电子元器件综合。
在中国标准分类中，半导体光电涉及到半导体光敏器件、半导体发光器件、光电子器件综合、特种陶瓷、物理学与力学、半导体分立器件综合、半导体集成电路、微电路综合、光通信设备、激光器件、其他、标准化、质量管理、基础标准与通用方法。
国家质检总局，关于半导体光电的标准
- GB/T 18904.5-2003 半导体器件 第12-5部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范
国际电工委员会，关于半导体光电的标准
- IEC 60747-5-16-2023 半导体器件.第5-16部分:光电子器件.发光二极管.基于光电流光谱的GaN基发光二极管的平带电压的试验方法
- IEC 62007-1-2015/AMD1-2022 修改件1.光纤系统应用的半导体光电器件.第1部分:基本额定值和特性的规范模板
- IEC 62007-1:2015/AMD1:2022 修改件1.光纤系统应用的半导体光电器件.第1部分:基本额定值和特性的规范模板
- IEC 62007-1-2015+AMD1-2022 CSV 光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值和特性的规范模板
- IEC 60747-5-13-2021 半导体器件第5-13部分:光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验
- IEC 60747-5-5-2020 半导体器件第5-5部分:光电子器件光电耦合器
- IEC 60747-5-5:2020 半导体器件第5-5部分:光电子器件光电耦合器
- IEC 60747-5-8-2019 半导体器件第5-8部分:光电子器件发光二极管发光二极管光电效率试验方法
- IEC 60747-5-8:2019 半导体器件第5-8部分:光电子器件发光二极管发光二极管光电效率试验方法
- IEC 60747-5-7-2016 半导体器件 - 第5-7部分:光电器件 - 光电二极管和光电晶体管
- IEC 60747-5-7:2016 半导体设备. 第5-7部分: 光电设备. 光电二极管和光电晶体管
- IEC 60747-5-6:2016 半导体设备. 第5-6部分: 光电设备. 发光二极管
- IEC 62007-1:2015 纤维光学系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板
- IEC 60747-5-5-2007/AMD1-2013 修改件1.半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电子器件.光电耦合器
- IEC 60747-5-5:2007/AMD1:2013 修改件1.半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电子器件.光电耦合器
- IEC 60747-5-5-2007+AMD1-2013 CSV 半导体器件分立器件第5-5部分:光电器件 设备-光电耦合器
- IEC 60747-5-5:2007+AMD1:2013 CSV 半导体器件分立器件第5-5部分:光电器件 设备-光电耦合器
- IEC 60747-5-5 Edition 1.1:2013 半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电器件.光电耦合器
- IEC 60747-5-5 AMD 1:2013 半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电器件.光电耦合器
- IEC 60747-5-2 Edition 1.1:2009 分立半导体器件及集成电路.第5-2部分:光电元件.基本额定值及特性
- IEC 60747-5-3 Edition 1.1:2009 分立半导体器件及集成电路.第5-3部分:光电元件.测量方法
- IEC 62007-2-2009 用于光纤系统应用的半导体光电器件第2部分:测量方法
- IEC 62007-2 Edition 2.0:2009 纤维光学系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
- IEC 62007-2:2009 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
- IEC 62007-1:2008 纤维光学系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板
- IEC 60747-5-5-2007 半导体器件 - 分立器件 - 第5-5部分:光电器件 - 光电耦合器（Iec 60747-5-5:2007/A1:2013）
- IEC 60747-5-5:2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器
- IEC 60747-5-4-2006 半导体器件 - 分立器件 - 第5-4部分:光电器件 - 半导体激光器
- IEC 60747-5-4:2006 半导体器件.分立器件.第5-4部分:光电器件.半导体激光器
- IEC 62007-2 Edition 1.1:1999 纤维光学系统用半导体光电器件 第2部分:测量方法
- IEC 62007-1 Edition 1.1:1999 光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性.
- IEC 62007-1 AMD 1:1998 光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性.修改件1
- IEC 62007-2 AMD 1:1998 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法.修改件1
- IEC 60747-5-1-1997 分立半导体器件和集成电路第5-1部分:光电器件总则
- IEC 60747-5-3-1997 分立半导体器件和集成电路 - 第5-3部分:光电器件 - 测量方法
- IEC 62007-2:1997 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
- IEC 62007-1:1997 光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性
- IEC 60747-12-6:1997 半导体器件 第12-6部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的雪崩光电二极管空白详细规范
- IEC 60747-12-5:1997 半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的PIN光电二极管空白详细规范
，关于半导体光电的标准
- CSN 35 8761-1973 半导体设备．光电晶体管光电二极管．光电流测量
- CSN 35 8762-1973 半导体设备．光电晶体管光电二极管．暗电流测量
行业标准-电子，关于半导体光电的标准
- SJ/T 2658.16-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第16部分:光电转换效率
- SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
- SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
- SJ 20786.1-2002 半导体光电组件.CBGS2301微型双向光电定位器.详细规范
- SJ 20644.1-2001 半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范
- SJ 20644.2-2001 半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范
- SJ 20642.7-2000 半导体光电器件GR1325J型长波长发光二极管组件详细规范
- SJ 20786-2000 半导体光电组件总规范
- SJ 20642.3-1998 半导体光电模块GD83型PIN-FET光接收模块详细规范
- SJ 20642.2-1998 半导体光电模块GD82型PIN-FET光接收模块详细规范
- SJ 20642.6-1998 半导体光电模块GH83型光耦合器详细规范
- SJ 20642-1997 半导体光电模块总规范
- SJ 50033/113-1996 半导体光电子器件.GD3252Y型光电二极管详细规范
- SJ 50033/111-1996 半导体光电子器件GTI6型硅NPN光电晶体管详细规范
- SJ 50033/112-1996 半导体光电子器件.GD3251Y型光电二极管详细规范
- SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
- SJ 20642.5-1998 半导体光电模块GH82型光耦合器详细规范
- SJ 20642.1-1998 半导体光电模块GD81型DIN-FET光接收模块详细总规范
- SJ 20642.4-1998 半导体光电模块GH81型光耦合器详细规范
- SJ/T 11067-1996 红外探测材料中半导体光电材料和热释电材料常用名词术语
德国标准化学会，关于半导体光电的标准
- DIN EN 60747-5-5-2015 半导体设备.分离式元件.第5-5部分:光电元件.光融合元件(IEC 60747-5-5-2007+A1-2013);德文版本EN 60747-5-5-2011+A1-2015
- DIN EN 60747-5-5-2011 半导体设备.分离式元件.第5-5部分:光电元件.光融合元件(IEC 60747-5-5-2007);德文版本EN 60747-5-5-2011
- DIN EN 62007-2-2009 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法(IEC 62007-2-2009).德文版本EN 62007-2-2009
- DIN EN 62007-1-2009 光纤系统应用的半导体光电装置.第1部分:基本速率和特性用规范模板(IEC 62007-1-2008).德文版本EN 62007-1-2009
- DIN EN 60747-5-3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法 (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); 德文版本 EN 60747-5-3:2001 + A1:2002
- DIN EN 60747-5-2-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-2部分:光电器件.基础额定值及特性 (IEC 60747-5-2:1997 + A1:2002); 德文版本 EN 60747-5-2:2001 + A1:2002
- DIN EN 60747-5-1-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-1部分:光电器件.总则 (IEC 60747-5-1:1997 + A1:2001 + A2:2002); 德文版本 EN 60747-5-1:2001 + A1:2002 + A2:2002
法国标准化协会，关于半导体光电的标准
- NF C93-801-1-2015 光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板
- NF C96-005-5/A1-2015 半导体设备. 分离式设备. 第5-5部分: 光电设备. 光耦合器
- NF C96-005-5-2012 半导体器件.分立元件.第5-5部分:光电器件.光电耦合器
- NF C93-801-2-2009 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
- NF C93-801-1-2009 光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板
- NF C86-504-1988 半导体器件.电子器件质量评估协调体系.带光电晶体管输出的特定环境温度光电耦合器.空白详细规范
- NF C86-506-1986 半导体器件.电子元件统一质量评审体系.光导纤维用插脚式光电二极管.空白详细规范 .规范CECC 20 006
- NF C86-505-1986 半导体器件.电子元器件质量评估协调体系.光电二极管、光电二极管排列.空白详细规范 CECC 20 005
- NF C86-503-1986 半导体器件.电子元器件统一质量评审体系.光电晶体管、光电复合晶体管和光电半导体电路.空白详细规范CESS 20 003
国际标准化组织，关于半导体光电的标准
- ISO 14605:2013 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).室内照明环境用测试半导体光电材料光源
- ISO/TS 17915:2013 光学和光电.传感用半导体激光器测量方法
国家军用标准-总装备部，关于半导体光电的标准
- GJB 8120-2013 半导体光电模块通用规范
- GJB 8121-2013 半导体光电组件通用规范
- GJB 33/23-2011 半导体光电子器件.GH3201Z-4型光电耦合器详细规范
- GJB 33/17-2011 半导体光电子器件.GO11型半导体光电耦合器详细规范
- GJB 33/22-2011 半导体光电子器件.GO103型光电耦合器详细规范
- GJB 33/21-2011 半导体光电子器件.GD310A系列光电耦合器详细规范
- GJB 33/18-2011 半导体光电子器件.GO417型双向半导体光电耦合模拟开关详细规范
- GJB 33/20-2011 半导体光电子器件.GH302型光电耦合器详细规范
- GJB 33/19-2011 半导体光电子器件.GH302-4型光电耦合器详细规范
英国标准学会，关于半导体光电的标准
- BS EN 60747-5-5-2011 半导体器件.分立器件.光电器件.光电耦合器
- BS EN 62007-2-2009 光纤系统用半导体光电器件.测量方法
- BS IEC 60747-5-4:2006 半导体器件.分立器件.光电器件.半导体激光器
- BS EN 62007-1-2000 光纤系统半导体光电器件.基本额定值及特性
- BS EN 62007-2-2000 光纤系统半导体光电器件.测量方法
- BS IEC 60747-5-3:1998 分立半导体器件和集成电路.光电器件.测量方法
- BS IEC 60747-5-1:1998 分立半导体器件和集成电路.光电器件.概述
- BS EN 60747-5-1-2001 半导体分立器件和集成电路.光电器件.总则
- BS EN 60747-5-3-2001 半导体分立器件和集成电路.光电器件.测量方法
- BS EN 60747-5-2-2001 分立半导体器件和集成电路.光电器件.基本额定值和特征
- BS 6493-1.5-1992 半导体器件.分立器件.光电器件的推荐性规程.第5节:光电器件的的推荐性规程
- BS CECC 20000-1983 电子元器件质量评定协调体系.总规范.半导体光电和液晶器件
欧洲电工标准化委员会，关于半导体光电的标准
- EN 62007-2-2009 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
- EN 60747-5-2-2001 分立半导体器件和集成电路.第5-2部分:光电设备.基本额定值和特性;包含修改件A1-2002
- EN 60747-5-3-2001 分立半导体器件和集成电路.第5-3部分:光电设备.测量方法;包含修改件A1-2002
- EN 120000-1996 通用规范:半导体光电器件和液晶设备;由EN 61747-1-1999替代
韩国科技标准局，关于半导体光电的标准
- KS C IEC 62007-2:2003 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
- KS C IEC 62007-1:2003 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:基本额定值及特性.
台湾地方标准，关于半导体光电的标准
- CNS 13805-1997 光电半导体晶圆之光激光谱量测法
