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x射线电子能量
本专题涉及x射线电子能量的标准有21条。
国际标准分类中，x射线电子能量涉及到分析化学、光学和光学测量。
在中国标准分类中，x射线电子能量涉及到基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、电化学、热化学、光学式分析仪器。
韩国科技标准局，关于x射线电子能量的标准
- KS D ISO 15472-2003(2018) 表面化学分析-X射线光电子分光器-能量刻度矫正
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x射线电子能量的标准
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
国家质检总局，关于x射线电子能量的标准
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
- GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
- GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
KR-KS，关于x射线电子能量的标准
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
日本工业标准调查会，关于x射线电子能量的标准
- JIS K 0145:2002 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量刻度的校准
澳大利亚标准协会，关于x射线电子能量的标准
- AS ISO 15472:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
英国标准学会，关于x射线电子能量的标准
- BS ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量等级的校准
- BS ISO 22581:2021 表面化学分析 来自X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- BS ISO 14701:2018 跟踪更改 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
德国标准化学会，关于x射线电子能量的标准
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
美国材料与试验协会，关于x射线电子能量的标准
- ASTM E2108-16 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
- ASTM E2108-10 用X射线光电子分光计测定电子能量捆绑刻度的标准实施规程
国际标准化组织，关于x射线电子能量的标准
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 22581:2021 表面化学分析X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息含碳化合物表面污染的识别和校正规则
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
