电子 x射线
本专题涉及电子 x射线的标准有142条。
国际标准分类中，电子 x射线涉及到分析化学、电子元器件综合、电学、磁学、电和磁的测量、长度和角度测量、光学设备、医疗设备、无损检测、医学科学和保健装置综合、光学和光学测量、辐射防护、计量学和测量综合、耐火材料、环保、保健和安全。
在中国标准分类中，电子 x射线涉及到基础标准与通用方法、电子元件综合、综合测试系统、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电子光学与其他物理光学仪器、基础标准与通用方法、化学、化学助剂基础标准与通用方法、医用电子仪器设备、、物理学与力学、光学测试仪器、电化学、热化学、光学式分析仪器、辐射防护仪器、硅质耐火材料、基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、颜料、基础标准与通用方法、标准化、质量管理。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子 x射线的标准
- GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
- GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
- GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子 x射线的标准
- GB/T 33352-2016 电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法
- GB/T 33352-2016 电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法
国家质检总局，关于电子 x射线的标准
- GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
- GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
- GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
- GB/Z 21277-2007 电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选.X射线荧光光谱法
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
- GB/T 32869-2016 纳米技术 单壁碳纳米管的扫描电子显微术和能量色散X射线谱表征方法
行业标准-医药，关于电子 x射线的标准
- YY 9706.268-2022 医用电气设备 第2-68部分：电子加速器、轻离子束治疗设备和放射性核素射束治疗设备用的X射线图像引…
国际标准化组织，关于电子 x射线的标准
- ISO 17109-2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
- ISO 15632:2021 微束分析.与扫描电子显微镜（SEM）或电子探针显微分析仪（EPMA）一起使用的能量色散X射线光谱仪（EDS）规范和检查用选定仪器性能参数
- ISO 20903-2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- ISO 22489-2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 18554:2016 表面化学分析.电子光谱法.用X射线光电子能谱法分析的材料中X射线非预期降解的评定和校正程序
- ISO 18554-2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- ISO 19830-2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO 19830:2015 表面化学分析 - 电子光谱 - X射线光电子能谱峰值拟合的最低报告要求
- ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- ISO 17109:2015 表面化学分析 - 深度分析 - X射线光电子能谱法中的溅射速率测定方法 俄歇电子能谱和二次离子质谱法使用单层和多层薄膜的溅射深度分析
- ISO 18118:2015 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.均匀材料定量分析用实验测定相对灵敏度因子的使用指南
- ISO 18118-2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO 17470:2014 微束分析——电子探针微量分析——波长色散X射线光谱法定性点分析指南
- ISO 17470-2014 微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
- ISO 15632:2012 微束分析——用于电子探针微分析的能量色散X射线光谱仪规范和检查的选定仪器性能参数
- ISO 20903-2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
- ISO 20903:2011 表面化学分析——俄歇电子能谱和X射线光电子能谱——报告结果时用于确定峰值强度和所需信息的方法
- ISO 22489-2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 18516-2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- ISO 18516:2006 表面化学分析——俄歇电子能谱和X射线光电子能谱——横向分辨率的测定
- ISO 20903:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.报告结果时确定峰值强度和所需信息的方法
- ISO 20903-2006 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X-射线光电光谱学.报告结果时测定峰强度的方法和必要信息的使用方法
- ISO 17470:2004 微束分析.电子探针微量分析.波长色散X射线光谱法定性点分析指南
- ISO 17470-2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
- ISO 21270:2004 表面化学分析——X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪——强度标度线性
- ISO 21270-2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- ISO 18118-2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO/TR 19319-2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.用分析仪观察横向分辨率 分析面积和样品面积的测定
美国材料与试验协会，关于电子 x射线的标准
- ASTM E1217-11(2019) 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
- ASTM E996-19 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E996-10(2018) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E1588-2017 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
- ASTM E995-16 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
- ASTM E2108-16 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
- ASTM E1588-2016 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准指南
- ASTM E1217-11 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
- ASTM E995-11 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
- ASTM E995-2011 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
- ASTM E1217-2011 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程
- ASTM E2108-10 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
- ASTM E996-10 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E996-2010 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E2108-2010 用X射线光电子分光计测定电子能量捆绑刻度的标准实施规程
- ASTM E1588-2010e1 扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法射击残留物分析的标准指南
- ASTM E2108-05 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
- ASTM E1217-05 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
- ASTM F1467-99(2005)e1 半导体器件和微电路电离辐射效应试验中X射线测试仪（[近似]10千电子伏光子）的使用标准指南
- ASTM F1467-99(2005) 半导体器件和微电路电离辐射效应试验中X射线测试仪（[近似]10千电子伏光子）的使用标准指南
- ASTM E1217-2005 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM E2108-2005 X-射线光电分光仪的电子结合能刻度表校准的标准实施规程
- ASTM E996-04 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E995-04 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
- ASTM E995-2004 螺旋电子光谱法和X射线光电光谱法中减去背景技术的标准指南
- ASTM E996-2004 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E2108-00 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
- ASTM E1217-00 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
- ASTM E1217-2000 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM E2108-2000 X射线光电子分光仪的电子结合能刻度表的校准的标准操作规程
- ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM F1467-99 半导体器件和微电路电离辐射效应试验中X射线测试仪（[近似]10千电子伏光子）的使用标准指南
- ASTM E995-97 俄歇电子和X射线光电子能谱中背景差减技术的标准指南
- ASTM E996-1994(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
- ASTM E1588-2016a 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
，关于电子 x射线的标准
- SIS SS-ISO 8963-1990 能量在8千电子伏特至1.3兆电子伏特范围内的辐射防护用X及γ射线相关辐射量测定器
英国标准学会，关于电子 x射线的标准
- BS ISO 22489-2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 18554-2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- BS ISO 19830-2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BS ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- BS ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- BS EN 60601-2-68-2015 医疗电气设备. 与电子加速器, 光离子束治疗设备以及放射性核素束治疗设备共同使用的基于X射线影像引导放射治疗设备基本安全和基本性能的特殊要求
- BS EN 60601-2-68-2015 医疗电气设备. 与电子加速器, 光离子束治疗设备以及放射性核素束治疗设备共同使用的基于X射线影像引导放射治疗设备基本安全和基本性能的特殊要求
- BS ISO 18118-2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
- BS ISO 17470-2014 微束分析. 电子探针显微分析. 采用波长分散X射线光谱测定法的定性点分析指南
- BS ISO 15632-2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
- BS ISO 20903-2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
- BS ISO 20903-2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
- BS ISO 22489-2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 18516-2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- BS ISO 21270-2005 表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度
- BS ISO 18118-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
- BS EN 100012-1996 电子元器件的质量评估协调体系.基础规范.X射线检验电子元件
国际电工委员会，关于电子 x射线的标准
- IEC 60601-2-68:2014 医用电气设备.第2-68部分:与电子加速器、光离子束治疗设备和放射性核素束治疗设备一起使用的基于X射线的图像引导放射治疗设备的基本安全和基本性能的特殊要求
- IEC 60601-2-68-2014 医疗电气设备. 第2-68部分: 与电子加速器, 轻离子束治疗设备以及放射性核束治疗设备一起使用的基于X射线的图像引导放射治疗设备的基本安全和基本性能的特殊要求
广东省质量技术监督局，关于电子 x射线的标准
- DB44/T 1215-2013 利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征单壁碳纳米管的特性
- DB44/T 1216-2013 利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征石墨烯的特性
日本工业标准调查会，关于电子 x射线的标准
- JIS K0189-2013 微束分析.电子探针显微分析.波长色散X射线光谱学用实验参数的测定
- JIS K0189-2013 微束分析.电子探针显微分析.波长色散X射线光谱学用实验参数的测定
- JIS K0167-2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
- JIS K0190-2010 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法对质量点分析用指南
韩国标准，关于电子 x射线的标准
- KS D ISO 22489-2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- KS D ISO 22489-2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- KS D ISO 21270-2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- KS D ISO 18118-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- KS D ISO 19319-2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- KS D ISO 18118-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- KS D ISO 19319-2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- KS D ISO 21270-2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
法国标准化协会，关于电子 x射线的标准
- NF X21-061-2008 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- NF B40-670-3-2007 硅酸铝耐火材料的化学分析(可选择X射线荧光法).第3部分:感应耦合等电子体和原子吸收光谱测定法
- NF X21-006-2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
- NF X21-058-2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
- NF X21-003-2006 微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南
美国国家标准学会，关于电子 x射线的标准
- ANSI N43.3-2008 一般辐射安全.用于非医疗的X射线和密封γ射线源辐射安全能量小于10Mev(兆电子伏特)的装置
- ANSI N43.3-1993 普通辐射安全用美国国家标准.利用非医疗X射线和密封γ射线源的辐射能量最高达10Mev(兆电子伏特)的装置
行业标准-商品检验，关于电子 x射线的标准
- SN/T 2003.4-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定.第4部分:能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
- SN/T 2003.5-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定 第5部分：能量色散X射线荧光光谱定量筛选法
- SN/T 2003.3-2006 电子电气产品中铅、汞、镉、铬和溴的测定.第3部分:X射线荧光光谱定量筛选法
- SN/T 2003.1-2005 电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法
福建省地方标准，关于电子 x射线的标准
- DB35/T 110-2000 油漆物证检测电子探针和扫描电镜X射线能谱分析方法
欧洲电工标准化委员会，关于电子 x射线的标准
- EN 100012-1995 基本规范:电子元器件的X射线检测
行业标准-航天，关于电子 x射线的标准
- QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
行业标准-电子，关于电子 x射线的标准
- SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
澳大利亚标准协会，关于电子 x射线的标准
- AS ISO 18118-2006 表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
- AS ISO 19319-2006 表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
