EN

RU

ES

电子谱 能量 x射线

本专题涉及电子谱 能量 x射线的标准有73条。

国际标准分类中,电子谱 能量 x射线涉及到光学和光学测量、分析化学、光学设备、电子元器件综合、长度和角度测量、犯罪行为防范、无损检测、医学科学和保健装置综合、电学、磁学、电和磁的测量、核能工程。

在中国标准分类中,电子谱 能量 x射线涉及到电子光学与其他物理光学仪器、电化学、热化学、光学式分析仪器、基础标准与通用方法、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、标准化、质量管理、犯罪鉴定技术、化学、光学测试仪器、电子测量与仪器综合、核仪器与核探测器综合、综合测试系统、实验室基础设备。


国家质检总局,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
  • GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
  • GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
  • GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法
  • GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
  • GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
  • GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
  • GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
  • GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
  • GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
  • GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
  • GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
  • GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
  • GB 7667-1996 电子显微镜X射线泄漏剂量
  • GB 7667-2003 电子显微镜X射线泄漏剂量

德国标准化学会,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
  • DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)

英国标准学会,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
  • BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
  • BS ISO 22581:2021 表面化学分析 来自X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则
  • BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
  • BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
  • BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
  • BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
  • BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
  • BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南

国际标准化组织,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
  • ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
  • ISO 22581:2021 表面化学分析X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息含碳化合物表面污染的识别和校正规则
  • ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
  • ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
  • ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
  • ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
  • ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
  • ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
  • ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
  • ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
  • ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
  • ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电谱仪 能量刻度表校准

美国材料与试验协会,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • ASTM E2108-16 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
  • ASTM E996-10(2018) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
  • ASTM E996-19 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
  • ASTM E995-16 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
  • ASTM E996-04 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
  • ASTM E996-10 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
  • ASTM E995-11 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
  • ASTM E1588-10e1 扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法射击残留物分析的标准指南
  • ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
  • ASTM E2735-14(2020) 用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南
  • ASTM E902-94(1999) 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准实施规程
  • ASTM E1588-16 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准指南

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准

KR-KS,关于电子谱 能量 x射线的标准

行业标准-电子,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
  • SJ/T 10714-1996 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法

韩国科技标准局,关于电子谱 能量 x射线的标准

行业标准-司法,关于电子谱 能量 x射线的标准

未注明发布机构,关于电子谱 能量 x射线的标准

澳大利亚标准协会,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • AS ISO 15472:2006 表面化学分析.X射线光电子光谱法.能量标度的校准

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求

RU-GOST R,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • GOST 22091.2-1984 X射线仪.X射线电子回旋加速箱喷射电流和电压测量方法

法国标准化协会,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
  • NF X21-055:2006 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准

行业标准-公共安全标准,关于电子谱 能量 x射线的标准

  • GA/T 1939-2021 法庭科学 电流斑检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1522-2018 法庭科学 射击残留物检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1938-2021 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1937-2021 法庭科学 橡胶检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法

SE-SIS,关于电子谱 能量 x射线的标准

国家计量技术规范,关于电子谱 能量 x射线的标准





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号