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光学显微镜 怎么校准
本专题涉及光学显微镜 怎么校准的标准有44条。
国际标准分类中，光学显微镜 怎么校准涉及到光学设备、分析化学、光学和光学测量、金属材料试验、玻璃、微生物学。
在中国标准分类中，光学显微镜 怎么校准涉及到光学计量、放大镜与显微镜、基础标准与通用方法、化学、陶瓷、玻璃综合、环境卫生。
国家计量技术规范，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- JJF 1092-2002 光切显微镜校准规范
德国标准化学会，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- DIN ISO 8576:2002 光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜基准系统 (ISO 8576:1996)
国际标准化组织，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
- ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限大光学校正系统
- ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 第2部分: 无限远校正光学系统
- ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
- ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
- ISO 29301:2017 微光束分析.分析电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
- ISO 9345:2019 显微镜 - 与机械参考平面有关的成像距离 - 第2部分:无限远校正的光学系统
- ISO 29301:2010 微光束分析.分析的透射电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
- ISO 24639:2022 微束分析.分析电子显微镜.用电子能量损失光谱法进行元素分析的能量标度校准程序
- ISO 8037-2:1997/cor 1:2002 光学和光学仪器.显微镜.载玻片.第2部分:材料质量、成品标准和包装模式.技术勘误1
英国标准学会，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- BS ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
- BS ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.无限大光学校正系统
- BS ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 无限远校正光学系统
- BS 7012-3:1997 光学显微镜.与机械基准面相关的长度160mm的镜筒成像距离
- BS ISO 11952:2019 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用 SPM 确定几何量：测量系统的校准
美国材料与试验协会，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- ASTM E1951-98 校准十字线和光学显微镜放大倍数的标准指南
- ASTM E1951-02 校准十字线和光学显微镜放大倍数的标准指南
- ASTM E1951-01 校准十字线和光学显微镜放大倍数的标准指南
- ASTM E1951-14(2019) 校准十字线和光学显微镜放大倍数的标准指南
- ASTM D8075-16 石墨光学显微镜中观察到的微结构和微观特征分类标准指南
- ASTM D8075-16(2021) 石墨光学显微镜中观察到的微结构和微观特征分类标准指南
- ASTM C978-87(1996) 用偏光显微镜和光学延迟补偿程序在透明玻璃容器中测定光弹性残余应力的标准试验方法
- ASTM C978-02 用偏光显微镜和光学延迟补偿程序在透明玻璃容器中测定光弹性残余应力的标准试验方法
- ASTM C978-04 用偏光显微镜和光学延迟补偿方法在透明玻璃基质中测定光弹性残余应力的标准试验方法
- ASTM C978-04(2009) 用偏光显微镜和光学延迟补偿方法在透明玻璃基质中测定光弹性残余应力的标准试验方法
- ASTM D7391-09 在惯性冲击样品中用光学显微镜对空气真菌结构分类和量化的标准试验方法
- ASTM C978-04(2014) 采用偏光显微镜和光学延迟补偿程序在透明玻璃基质中测定光弹性残余应力的标准试验方法
德国机械工程师协会，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 光学测量和微形貌 干涉显微镜的校准和粗糙度测量的深度测量标准
- VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 微形貌的光学测量 共焦显微镜的校准和粗糙度测量的深度设置标准
日本工业标准调查会，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
- JIS B 7132-2:2009 显微镜.成像距离相关的机械基准面.第2部分:无限大光学校正系统
- JIS B 7132-2:2022 显微镜 与机械参考平面相关的成像距离 第2部分：无限远校正光学系统
RU-GOST R，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
韩国科技标准局，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- KS B ISO 9345-2-2016(2021) 光学和光学仪器显微镜:与机械基准面有关的成像距离第2部分:无限校正光学系统
- KS B ISO 9345-2:2006 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限光学校正系统
- KS B ISO 9345-2:2016 光学和光学仪器 显微镜 相对机械参考面的象距 第2部分：无限光学校正系统
- KS B ISO 9345-1-2016(2021) 光学和光学仪器显微镜.与机械基准面有关的成像距离.第1部分:管长度160mm
KR-KS，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- KS B ISO 9345-2-2016 光学和光学仪器显微镜:与机械基准面有关的成像距离第2部分:无限校正光学系统
- KS B ISO 9345-2-2023 显微镜.与机械基准面有关的成像距离.第2部分:无限校正光学系统
国家质检总局，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准
- GB/T 22057.2-2008 显微镜.相对机械参考平面的成像距离.第2部分:无限远校正光学系统
美国国家标准学会，关于光学显微镜 怎么校准的标准
- ANSI/EIA/TIA 546AAOO:1989 光波导和相关设备的检查用现场移动式光学显微镜的空白详细规范.注:1989-07-10批准
