Halbleitersystem

Für die Halbleitersystem gibt es insgesamt 29 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Halbleitersystem die folgenden Kategorien: Diskrete Halbleitergeräte, Kernenergietechnik, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Optoelektronik, Lasergeräte, Glasfaserkommunikation, Qualität, Gleichrichter, Wandler, geregelte Netzteile.

Association Francaise de Normalisation, Halbleitersystem

NF EN IEC 63364-1:2023 Halbleiterbauelemente – Halbleiterbauelemente für das IDO-System – Teil 1: Prüfverfahren zur Erkennung akustischer Abweichungen
NF C53-228:1989 Halbleiterwandler. Schalter für unterbrechungsfreie Stromversorgungssysteme (VPS-Schalter).
NF C93-801-2*NF EN 62007-2:2009 Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen – Teil 2: Messmethoden

American National Standards Institute （ANSI), Halbleitersystem

ANSI/EIA 370-B:1992 Halbleiterbauelemente, Bezeichnungssystem für

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Halbleitersystem

JEDEC JESD370B-1982 Bezeichnungssystem für Halbleiterbauelemente
JEDEC JESD30D-2006 Beschreibendes Bezeichnungssystem für Halbleiterbauelementpakete
JEDEC JESD30F-2013 Beschreibendes Bezeichnungssystem für Halbleiterbauelementpakete
JEDEC JESD30G-2016 Beschreibendes Bezeichnungssystem für Halbleiterbauelementpakete

British Standards Institution (BSI), Halbleitersystem

BS EN IEC 63364-1:2022 Halbleiterbauelemente. Halbleiterbauelemente für IoT-Systeme – Testmethode zur Erkennung von Klangschwankungen
BS EN 62007-2:2000 Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen – Messmethoden
BS EN 62007-2:2009 Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen – Messmethoden
BS EN 62007-1:2000 Optoelektronische Halbleitergeräte für Glasfasersystemanwendungen – Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften
21/30432536 DC BS EN IEC 63364-1. Halbleiterbauelemente. Halbleitergeräte für IOT-Systeme. Teil 1. Testverfahren zur Erkennung von Klangvariationen

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Halbleitersystem

GB/T 11685-2003 Messverfahren für Halbleiter-Röntgendetektorsysteme und Halbleiter-Röntgenenergiespektrometer
GB/T 42835-2023 Halbleiter-Integrated-Circuit-System-on-Chip (SoC)
GB/T 10236-2006 Leitfaden zur Kompatibilität und zum Schutz vor Störeinflüssen zwischen Halbleiterwandlern und Stromversorgungssystem

International Electrotechnical Commission (IEC), Halbleitersystem

IEC 63364-1:2022 Halbleiterbauelemente – Halbleiterbauelemente für IoT-Systeme – Teil 1: Testverfahren zur Erkennung von Schallschwankungen
IEC 62007-2:1997 Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen – Teil 2: Messmethoden

ES-UNE, Halbleitersystem

UNE-EN IEC 63364-1:2023 Halbleiterbauelemente – Halbleiterbauelemente für IOT-Systeme – Teil 1: Testmethode zur Erkennung von Schallschwankungen (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im März 2023.)

CH-SNV, Halbleitersystem

VSM 18656-1964 Systemregeln für Grenzwerte elektronischer Ohren und analoger Halbleiterbauelemente

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Halbleitersystem

GB/T 36005-2018 Messmethoden zur optischen Strahlungssicherheit für Halbleiterbeleuchtungsgeräte und -systeme

RU-GOST R, Halbleitersystem

GOST 4.139-1985 System von Produktqualitätsindizes. Halbleiter-Leistungswandler. Nomenklatur der Indizes

Professional Standard - Electron, Halbleitersystem

SJ 20233-1993 Verifizierungsvorschriften für das Testsystem für diskrete Halbleiterbauelemente Modell IMPACT-II
SJ/T 11405-2009 Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen. Teil 2: Messmethoden

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Halbleitersystem

ASHRAE 4513-2002 Anwendung der 3C-Kanaldesignmethode in Prozessabgassystemen für Halbleiterfabriken

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Halbleitersystem

EN 62007-2:2009 Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen – Teil 2: Messmethoden

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Halbleitersystem

EN 62007-2:2000 Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen Teil 2: Messmethoden

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Halbleitersystem

KS C IEC 62007-2:2003 Optoelektronische Halbleitergeräte für Glasfasersystemanwendungen – Teil 2: Messmethoden

KR-KS, Halbleitersystem

KS C IEC 62007-2-2003(2023) Photoelektrische Halbleiterbauelemente für optische Kommunikationssysteme – Teil 2: Messmethoden