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반도체 시스템

모두 29항목의 반도체 시스템와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 반도체 시스템와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치, 원자력공학, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 광전자공학, 레이저 장비, 광섬유 통신, 품질, 정류기, 변환기, 조정된 전원 공급 장치.

Association Francaise de Normalisation, 반도체 시스템

• NF EN IEC 63364-1:2023 반도체 장치 - IDO 시스템용 반도체 장치 - 1부: 음향 변화 감지 테스트 방법
• NF C53-228:1989 반도체 컨버터, 무정전 전원 시스템용 스위치
• NF C93-801-2*NF EN 62007-2:2009 광섬유 시스템용 반도체 광전자 장치 2부: 측정 방법

American National Standards Institute （ANSI), 반도체 시스템

• ANSI/EIA 370-B:1992 반도체 장치의 명명 시스템

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 반도체 시스템

• JEDEC JESD370B-1982 반도체 장치의 명명 시스템
• JEDEC JESD30D-2006 반도체 소자 패키징 기술설계 시스템
• JEDEC JESD30F-2013 반도체 소자 패키지 표기 시스템
• JEDEC JESD30G-2016 반도체 소자 패키지 표기 시스템

British Standards Institution (BSI), 반도체 시스템

• BS EN IEC 63364-1:2022 반도체 소자 사물인터넷 시스템에 사용되는 반도체 소자의 소리 변화 검출을 위한 테스트 방법
• BS EN 62007-2:2000 광섬유 시스템용 반도체 광전자 장치.측정 방법
• BS EN 62007-2:2009 광섬유 시스템에 사용되는 반도체 광전자 장치.측정 방법
• BS EN 62007-1:2000 광섬유 시스템용 반도체 광전자 장치 기본 등급 및 특성
• 21/30432536 DC BS EN IEC 63364-1 반도체 장치 사물 인터넷 시스템에 사용되는 반도체 장치 1부 소리 변화 감지를 위한 테스트 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 반도체 시스템

• GB/T 11685-2003 반도체 X선 검출기 시스템 및 반도체 X선 에너지 분광계의 측정 방법
• GB/T 42835-2023 반도체 집적회로 시스템온칩(SoC)
• GB/T 10236-2006 반도체 컨버터와 전원 공급 시스템 간의 호환성 및 간섭 보호에 대한 지침

International Electrotechnical Commission (IEC), 반도체 시스템

• IEC 63364-1:2022 반도체 장치 사물 인터넷 시스템용 반도체 장치 1부: 소리 변화 감지 테스트 방법
• IEC 62007-2:1997 광섬유 시스템에 사용되는 반도체 광전자 장치 파트 2: 측정 방법

ES-UNE, 반도체 시스템

• UNE-EN IEC 63364-1:2023 반도체 장치 사물 인터넷 시스템에 사용되는 반도체 장치 1부: 소리 변화 감지 테스트 방법

CH-SNV, 반도체 시스템

• VSM 18656-1964 전자 귀 및 아날로그 반도체 부품의 한계값에 대한 시스템 규칙

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 반도체 시스템

• GB/T 36005-2018 반도체 조명 장비 및 시스템의 광방사선 안전 시험 방법

RU-GOST R, 반도체 시스템

• GOST 4.139-1985 제품 품질 표시 시스템, 반도체 전력 변환기, 카탈로그 용어

Professional Standard - Electron, 반도체 시스템

• SJ 20233-1993 IMPACT-Type II 반도체 이산 장치 테스트 시스템 검증 규정
• SJ/T 11405-2009 광섬유 시스템용 반도체 광전자 장치 2부: 측정 방법

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 반도체 시스템

• ASHRAE 4513-2002 반도체공장 공정배기시스템에 3C Air duct 설계방법 적용

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 반도체 시스템

• EN 62007-2:2009 광섬유 시스템에 사용되는 반도체 광전자 장치 파트 2: 측정 방법

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 반도체 시스템

• EN 62007-2:2000 광섬유 시스템에 사용되는 반도체 광전자 장치 파트 2: 측정 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 반도체 시스템

• KS C IEC 62007-2:2003 광섬유 시스템에 사용되는 반도체 광전자 장치 파트 2: 측정 방법

KR-KS, 반도체 시스템

• KS C IEC 62007-2-2003(2023) 광통신 시스템용 반도체 광전자 부품 - 2부: 측정 방법

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