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半導体システム

半導体システムは全部で 29 項標準に関連している。

半導体システム 国際標準分類において、これらの分類：半導体ディスクリートデバイス、 原子力工学、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 光ファイバー通信、 品質、 整流器、コンバータ、安定化電源。

Association Francaise de Normalisation, 半導体システム

• NF EN IEC 63364-1:2023 半導体デバイス - IDO システム用半導体デバイス - パート 1: 音響変化検出テスト方法
• NF C53-228:1989 半導体コンバータ、無停電電源装置用スイッチ
• NF C93-801-2*NF EN 62007-2:2009 光ファイバーシステム用半導体光電子デバイス 第 2 部: 測定方法

American National Standards Institute （ANSI), 半導体システム

• ANSI/EIA 370-B:1992 半導体デバイスの命名制度

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 半導体システム

• JEDEC JESD370B-1982 半導体デバイスの命名制度
• JEDEC JESD30D-2006 半導体デバイス実装用記述設計システム
• JEDEC JESD30F-2013 半導体デバイスパッケージ用の記述マーキングシステム
• JEDEC JESD30G-2016 半導体デバイスパッケージ用の記述マーキングシステム

British Standards Institution (BSI), 半導体システム

• BS EN IEC 63364-1:2022 半導体デバイスIoTシステムに使用される半導体デバイスの音変化検出試験方法
• BS EN 62007-2:2000 光ファイバーシステム用半導体光電子デバイス.測定方法
• BS EN 62007-2:2009 光ファイバーシステムで使用する半導体光電子デバイス。 測定方法
• BS EN 62007-1:2000 光ファイバーシステム用半導体オプトエレクトロニクスデバイス 基本的な評価と特性
• 21/30432536 DC BS EN IEC 63364-1 半導体デバイス モノのインターネット システムで使用する半導体デバイス パート 1 音声変化検出のテスト方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 半導体システム

• GB/T 11685-2003 半導体X線検出器システムおよび半導体X線エネルギー分析装置の測定方法
• GB/T 42835-2023 半導体集積回路システムオンチップ（SoC）
• GB/T 10236-2006 半導体コンバータと電源システム間の互換性と干渉保護に関するガイドライン

International Electrotechnical Commission (IEC), 半導体システム

• IEC 63364-1:2022 半導体デバイス IoT システム用半導体デバイス 第 1 部: 音変化検出の試験方法
• IEC 62007-2:1997 光ファイバーシステムで使用する半導体光電子デバイス パート 2: 測定方法

ES-UNE, 半導体システム

• UNE-EN IEC 63364-1:2023 半導体デバイス モノのインターネットシステムに使用される半導体デバイス 第 1 部: 音変化検出の試験方法

CH-SNV, 半導体システム

• VSM 18656-1964 電子耳およびアナログ半導体部品の制限値に関するシステムルール

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 半導体システム

• GB/T 36005-2018 半導体照明装置およびシステムの光放射安全性試験方法

RU-GOST R, 半導体システム

• GOST 4.139-1985 製品品質表示システム、半導体パワーコンバータ、カタログ用語

Professional Standard - Electron, 半導体システム

• SJ 20233-1993 IMPACT-Type II 半導体ディスクリートデバイス試験システム検証規定
• SJ/T 11405-2009 光ファイバーシステム用の半導体光電子デバイス パート 2: 測定方法

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 半導体システム

• ASHRAE 4513-2002 半導体工場のプロセス排気システムへの3Cエアダクト設計法の適用

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 半導体システム

• EN 62007-2:2009 光ファイバーシステムで使用する半導体光電子デバイス パート 2: 測定方法

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 半導体システム

• EN 62007-2:2000 光ファイバーシステムで使用する半導体光電子デバイス パート 2: 測定方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 半導体システム

• KS C IEC 62007-2:2003 光ファイバーシステムで使用する半導体光電子デバイス パート 2: 測定方法

KR-KS, 半導体システム

• KS C IEC 62007-2-2003(2023) 光通信システム用半導体光電子部品 - パート 2: 測定方法

その他：   半導体層, 半導体キュ, 半導体触媒, 半導体検査, 半導体規格, 半導体ゴム, 直接半導体, 半導体検査, 半導体寿命, 半導体硫黄, 材料 半導体, 半導体検査, 半導体コンバータ, 個別の半導体, 半導体電流, 光ファイバーシステム用半導体, 半導体テスト装置, 半導体テスト装置, 半導体システム, 半導体照明装置およびシステム.