Mikroelektronik

Für die Mikroelektronik gibt es insgesamt 247 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Mikroelektronik die folgenden Kategorien: Prüfung von Metallmaterialien, Ausrüstung für die Öl- und Gasindustrie, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Mechanischer Test, Diskrete Halbleitergeräte, Elektrische und elektronische Prüfung, Eisenbahnbau, Nichteisenmetalle, Nichteisenmetallprodukte, Optische Ausrüstung, Elektronenröhre, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Zerstörungsfreie Prüfung, analytische Chemie, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert, Elektronik, Ventil, Elektronische Geräte, Mechanische Komponenten für elektronische Geräte, Flüssigkeitsspeichergerät, Umfangreiche elektronische Komponenten, Luftqualität, Optik und optische Messungen, Elektrotechnik umfassend, Mikrobiologie, Wortschatz, Längen- und Winkelmessungen, Metrologie und Messsynthese.

SE-SIS, Mikroelektronik

SIS SEN 01 03 61-1969 Grundbegriffe der Mikroelektronik

CZ-CSN, Mikroelektronik

CSN 35 8009-1988 Technologische Systeme für die Mikroelektronik. Nomenklatur

U.S. Military Regulations and Norms, Mikroelektronik

ARMY MIL-HDBK-175 VALID NOTICE 1-2000 DATENHANDBUCH FÜR MIKROELEKTRONISCHE GERÄTE
ARMY MIL-HDBK-175-1968 DATENHANDBUCH FÜR MIKROELEKTRONISCHE GERÄTE

Chongqing Provincial Standard of the People's Republic of China, Mikroelektronik

DB50/T 540-2014 Mikroelektronischer thermischer Gasmassendurchflussmesser

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Mikroelektronik

CNS 13724-1996 Prüfmethode für die Zugfestigkeit mikroelektronischer Drahtverbindungen
CNS 12865.6-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (Anschlusskapazität)
CNS 12865-6-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (Anschlusskapazität)
CNS 12865.10-1992 Testmethode für digitale Mikroelektronik „6rFunktionstest“6s
CNS 12865-9-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (Verzögerungsmessungen)
CNS 12865.8-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (Lastzustand)
CNS 12865-8-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (Lastzustand)
CNS 12865-10-1992 Testmethode für digitale Mikroelektronik „6rFunktionstest“6s
CNS 12865.9-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (Verzögerungsmessungen)
CNS 12865.7-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (Antriebsquelle, dynamisch)
CNS 12865-7-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (Antriebsquelle, dynamisch)
CNS 12865.11-2005 Rauschabstandsmessungen für digitale mikroelektronische Geräte
CNS 12865-11-2005 Rauschabstandsmessungen für digitale mikroelektronische Geräte
CNS 12865-1-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (hohe Ausgangsspannung)
CNS 12865-3-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (niedriger Eingangsstrom)
CNS 12865-2-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (niedrige Ausgangsspannung)
CNS 12865-4-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (hoher Eingangsstrom)
CNS 12865.5-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (Ausgangskurzschlussstrom)
CNS 12865.4-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (hoher Eingangsstrom)
CNS 12865.3-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (niedriger Eingangsstrom)
CNS 12865.2-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (niedrige Ausgangsspannung)
CNS 12865.1-1991 Testmethode für digitale Mikroelektronik (hohe Ausgangsspannung)
CNS 12865-5-1991 Prüfverfahren für digitale Mikroelektronik (Ausgangskurzschlussstrom)
CNS 13725-1996 Methode zur zerstörungsfreien Prüfung mikroelektronischer Drahtverbindungen

US-Unspecified Preparing Activity, Mikroelektronik

DI-QCIC-80886 A-1993 KUNDENSPEZIFISCHER CHARAKTERISIERUNGSPLAN FÜR MIKROSCHALTEN
DI-MGMT-81763 A-2009 Maßgeschneiderter Quellenschutzplan für mikroelektronische Geräte

Association Francaise de Normalisation, Mikroelektronik

NF C96-315:1987 Mikrowellen-Mikroelektronik. Dämpfungsglieder und Lasten.
NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
NF C96-314:1985 Mikroschaltungen. Mikrowelle. Kupplungen. Allgemeine Anforderungen.
NF EN ISO 10692-1:2001 Gasflaschen - Ventilarmaturen für Gasflaschen für die Mikroelektronikindustrie - Teil 1: Auslassarmaturen
NF C96-050-10*NF EN 62047-10:2012 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 10: Mikrosäulen-Kompressionstest für MEMS-Materialien
NF C96-050-5*NF EN 62047-5:2012 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 5: HF-MEMS-Schalter.
NF E29-692-1*NF EN ISO 10692-1:2001 Gasflaschen – Ventilanschlüsse für Gasflaschen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 1: Auslassanschlüsse
NF X21-016*NF ISO 15932:2014 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Wortschatz
NF ISO 15932:2014 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Wortschatz
NF EN ISO 10692-2:2001 Gasflaschen - Verbindungen für Gasflaschenventile für die Mikroelektronikindustrie - Teil 2: Spezifikationen und Typprüfungen für Verbindungen zwischen Ventil und Flasche

SAE - SAE International, Mikroelektronik

SAE AS1142-1971 HERMETIZITÄTSPRÜFUNG MIKROELEKTRONISCHER GERÄTE
SAE AMS2690B-1988 Paralleles Spaltschweißen mikroelektronischer Verbindungen zu Dünnschichtsubstraten
SAE AMS2690D-2017 Paralleles Spaltschweißen mikroelektronischer Verbindungen zu Dünnschichtsubstraten

Society of Automotive Engineers (SAE), Mikroelektronik

SAE AS1142-2002 1992 Hermetikprüfung mikroelektronischer Geräte
SAE AMS2690A-1982 PARALLELSPALTSCHWEISSEN Mikroelektronische Verbindungen zu Dünnschichtsubstraten
SAE AMS2690C-2011 Paralleles Spaltschweißen mikroelektronischer Verbindungen zu Dünnschichtsubstraten
SAE AMS2690-1968 PARALLELSPALTSCHWEISSEN VON MIKROELEKTRONISCHEN VERBINDUNGEN AN DÜNNSCHICHTSUBSTRATE
SAE AMS2690C-2001 Paralleles Spaltschweißen, mikroelektronische Verbindungen zu Dünnschichtsubstraten
SAE AMS2690B-1993 PARALLELSPALTSCHWEISSEN Mikroelektronische Verbindungen zu Dünnschichtsubstraten
SAE AMS2690C-1988 (Nichtstrom) Paralleles Spaltschweißen mikroelektronischer Verbindungen zu Dünnschichtsubstraten

Professional Standard - Electron, Mikroelektronik

SJ/T 10584-1994 Glossar der Fotomaskierungstechniken für die Mikroelektronik
SJ/T 10747-1996 Farbcodes für Anschlusskabel von Mikrowellengeräten
SJ 20900-2004 Spezifikation für Beryllia-Keramikhülsen, die in Mikrowellen-Elektronikröhren verwendet werden
SJ/Z 9008.1-1987 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren – Teil 1: Terminologie
SJ/Z 9008.3-1987 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren – Teil 4: Magnetrons
SJ/Z 9008.2-1987 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren – Teil 2: Allgemeine Messungen

HU-MSZT, Mikroelektronik

MSZ 9200/23-1980 Elektronische Signale. Elektronisches Mikrowellensignal

PL-PKN, Mikroelektronik

PN T04813-1971 Low-Power-elektronische ?ubet M?Hiod von m?a?ur?men? von mikropkonischer Noiic-WHh-AicHation durch Klopfen

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Mikroelektronik

GJB 548B-2005 Testmethoden und -verfahren für mikroelektronische Geräte
GJB 548A-1996 Testmethoden und -verfahren für mikroelektronische Geräte
GJB 548C-2021 Testmethoden und -verfahren für mikroelektronische Geräte
GJB 548-1988 Testmethoden und -verfahren für mikroelektronische Geräte
GJB 3312-1998 Allgemeine Spezifikation für Mikrowellenröhren
GJB 3312A-2011 Allgemeine Spezifikation für Mikrowellenröhren
GJB 3311A-2011 Testmethode für Mikrowellenröhren
GJB 3311-1998 Testmethode für Mikrowellenröhren
GJB/Z 40.3-1993 Spektrum-Mikrowellenröhren der militärischen Vakuum-Elektronikgeräteserie
GJB/Z 14-1990 Typspektrum der militärischen Mikrowellenröhrenserie
GJB 7675-2012 Prüfmethoden für Kathoden und Komponenten von Mikrowellenröhren
GJB 4158-2001 Spezifikation für Ausgangsfenster aus Berylliumoxidkeramik für Mikrowellenröhren

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Mikroelektronik

JEDEC JESD27-1993 Spezifikation für Keramikgehäuse für mikroelektronische Gehäuse
JEDEC JEP121A-2006 Anforderungen an mikroelektronisches Screening und Testoptimierung
JEDEC JESD9B-2011 Prüfkriterien für mikroelektronische Gehäuse und Abdeckungen
JEDEC JEP144A-2011 Richtlinie zur internen Gasanalyse für mikroelektronische Gehäuse
JEDEC JEP144-2002 Richtlinie zur Restgasanalyse (RGA) für mikroelektronische Gehäuse
JEDEC JESD9-A-1987 Metallverpackungsspezifikation für mikroelektronische Gehäuse und Abdeckungen
JEDEC JESD99B-2007 Begriffe, Definitionen und Buchstabensymbole für mikroelektronische Geräte
JEDEC JESD22-C101D-2008 Feldinduziertes Modelltestverfahren für geladene Geräte für die Widerstandsschwellenwerte für elektrostatische Entladungen mikroelektronischer Komponenten
JEDEC JESD22-C101F-2013 Feldinduziertes Modelltestverfahren für geladene Geräte für die Widerstandsschwellenwerte für elektrostatische Entladungen mikroelektronischer Komponenten
JEDEC JESD22-C101C-2004 Feldinduziertes Modelltestverfahren für geladene Geräte für die Widerstandsschwellenwerte für elektrostatische Entladungen mikroelektronischer Komponenten

IET - Institution of Engineering and Technology, Mikroelektronik

LOW-PWR HF MICROELEC-1996 HF-Mikroelektronik mit geringem Stromverbrauch: ein einheitlicher Ansatz

Association of German Mechanical Engineers, Mikroelektronik

VDI/VDE 2422-1994 Systematische Entwicklung mikroelektronisch gesteuerter Geräte
VDI 2083 Blatt 13.2-2009 Reinraumtechnik – Qualität, Produktion und Vertrieb von Reinstwasser – Mikroelektronik und andere technische Anwendungen

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Mikroelektronik

VDI/VDE 2422-1992 Systematische Entwicklung mikroelektronisch gesteuerter Geräte

Professional Standard - Railway, Mikroelektronik

TB/T 3090-2004 Mikroelektronischer Empfänger mit 25-Hz-Phasenerkennungs-Gleisstromkreis

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Mikroelektronik

GB/T 17472-2008 Spezifikation für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik
GB/T 17472-2022 Spezifikation für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik
GB/T 42709.19-2023 Halbleiterbauelemente, mikroelektromechanische Bauelemente, Teil 19: Elektronischer Kompass
GB 50467-2008 Code für den Bau und die Abnahme der Installationstechnik für Mikroelektronik-Produktionsanlagen
GB/T 17473.2-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Feinheit
GB/T 17473.3-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Schichtwiderstands
GB/T 17473.5-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Viskosität
GB/T 17473.4-2008 Prüfmethoden für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Haftung
GB/T 17473.6-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Auflösung
GB/T 17473.2-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Bestimmung der Feinheit
GB/T 17473.3-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Bestimmung des Schichtwiderstands
GB/T 17473.1-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Feststoffgehalts
GB/T 42709.5-2023 Mikroelektromechanische Geräte für Halbleitergeräte Teil 5: HF-MEMS-Schalter
GB/T 17473.5-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Bestimmung der Viskosität
GB/T 17473.6-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten für die Dickschicht-Mikroelektronik – Bestimmung der Auflösung
GB/T 17473.4-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten für Dickschicht-Mikroelektronik – Bestimmung der Haftung
GB/T 17473.1-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten für Dickschicht-Mikroelektronik – Bestimmung des Feststoffgehalts
GB/T 17473.7-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Lötbarkeit und Lötbeständigkeit
GB/T 17473.7-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Test der Lötbarkeit und Beständigkeit gegen Lotauslaugung
GB/T 18907-2002 Methode der Elektronenbeugung ausgewählter Flächen für Transmissionselektronenmikroskope
GB/T 18907-2013 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Selektierte Elektronenbeugungsanalyse unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
GB/T 23414-2009 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Wortschatz
GB/T 26095-2010 Elektronisches Säulenmikrometer
GB/T 21636-2008 Mikrostrahlanalyse.Elektronensonden-Mikroanalyse (EPMA).Wortschatz

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Mikroelektronik

KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D ISO 14595:2012 Mikrostrahlanalyse-Elektronensonden-Mikroanalyse-Richtlinien für die Spezifikation zertifizierter Referenzmaterialien (CRMs)
KS D ISO 14594:2012 Mikrostrahlanalyse – Elektronensonden-Mikroanalyse – Richtlinien für die Bestimmung experimenteller Parameter für die wellenlängendispersive Spektroskopie
KS B ISO 10692-1:2014 Gasflaschen – Ventilanschlüsse für Gasflaschen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 1: Auslassanschlüsse
KS B ISO 10692-1:2003 Gasflaschen – Ventilanschlüsse für Gasflaschen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 1: Auslassanschlüsse
KS B ISO 10692-1-2014(2019) Gasflaschen – Ventilanschlüsse für Gasflaschen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 1: Auslassanschlüsse
KS C IEC PAS 62162-2002(2022) Feldinduziertes Modelltestverfahren für elektrostatische Entladungen mikroelektronischer Komponenten
KS D ISO TR 17270:2007 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Technischer Bericht zur Bestimmung der experimentellen Parameter für die Elektronenenergieverlustspektroskopie
KS C IEC PAS 62162-2002(2017) Feldinduziertes Modelltestverfahren für elektrostatische Entladungen mikroelektronischer Komponenten
KS D ISO 23833:2012 Mikrostrahlanalyse – Elektronensonden-Mikroanalyse (EPMA) – Vokabular
KS B ISO 10692-2:2014 Gasflaschen – Gasflaschen-Ventilverbindungen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 2: Spezifikation und Typprüfung für Ventil-Flaschen-Verbindungen
KS B ISO 10692-2:2003 Gasflaschen – Gasflaschenventilverbindungen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 2: Spezifikation und Typprüfung für Ventil-Flaschen-Verbindungen
KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 23833:2018 Mikrostrahlanalyse – Elektronensonden-Mikroanalyse (EPMA) – Wortschatz
KS B ISO 10692-2-2014(2019) Gasflaschen – Gasflaschen-Ventilverbindungen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 2: Spezifikation und Typprüfung für Ventil-Flaschen-Verbindungen
KS D ISO 23833:2022 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse (EPMA) – Wortschatz

International Organization for Standardization (ISO), Mikroelektronik

ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO/CD 25498:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 14594:2003 Analysieren mit Mikrometern – Analysieren mit elektronischen Mikrosonden (Mikrosonde von Castaing) – Richtlinien für die Bestimmung experimenteller Parameter für das Spektrometer mit Langzeitdispersion
ISO 14594:2014 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung experimenteller Parameter für die wellenlängendispersive Spektroskopie
ISO 22309:2006 Mikrostrahlanalyse – Quantitative Analyse mittels energiedispersiver Spektrometrie (EDS)
ISO 10692-1:2001 Gasflaschen – Ventilanschlüsse für Gasflaschen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 1: Auslassanschlüsse
ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
ISO/CD 19214:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO 10692-2:2001 Gasflaschen – Gasflaschen-Ventilverbindungen für den Einsatz in der Mikroelektronik-Industrie – Teil 2: Spezifikation und Typprüfung für Ventil-Flaschen-Verbindungen
ISO 22493:2014 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 19214:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse durch Elektronenenergieverlustspektroskopie

British Standards Institution (BSI), Mikroelektronik

BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS EN 62047-5:2011 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. HF-MEMS-Schalter
BS EN 62047-4:2010 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Allgemeine Spezifikation für MEMS
BS EN 62047-7:2011 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. MEMS-BAW-Filter und Duplexer zur Hochfrequenzsteuerung und -auswahl
BS EN ISO 10692-1:2001 Gasflaschen - Gasflaschenventilanschlüsse für den Einsatz in der Mikroelektronikindustrie - Auslassanschlüsse
BS ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
BS ISO 14594:2003 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung experimenteller Parameter für die wellenlängendispersive Spektroskopie
BS ISO 14594:2014 Mikrostrahlanalyse. Elektronensonden-Mikroanalyse. Richtlinien für die Bestimmung experimenteller Parameter für wellenlängendispersive Spektroskopie
BS EN 62047-10:2011 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Mikrosäulen-Kompressionstest für MEMS-Materialien
BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
BS EN 62047-9:2011 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Messung der Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeit für MEMS
BS EN 62047-9:2013 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Messung der Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeit für MEMS
20/30380369 DC BS ISO 23420. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
21/30404763 DC BS ISO 24639. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
BS ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
BS ISO 15932:2013 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Wortschatz
BS ISO 22493:2014 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz

Institute of Environmental Sciences and Technology, Mikroelektronik

IEST RP-CC024.1-1994 MESSUNG UND MELDUNG VON VIBRATIONEN IN MIKROELEKTRONIKANLAGEN
IEST RP-CC024.1-2002 Messung und Meldung von Vibrationen in mikroelektronischen Anlagen (5. Auflage)
IEST RP-CC004.3-2004 Messung und Meldung von Vibrationen in mikroelektronischen Anlagen (5. Auflage)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Mikroelektronik

ASTM F1238-95(2003) Standardspezifikation für feuerfeste Silizid-Sputtertargets für mikroelektronische Anwendungen
ASTM F60-68(1983)e2 Methoden zum Nachweis und zur Zählung mikrobiologischer Verunreinigungen in Wasser, das zur Verarbeitung elektronischer und mikroelektronischer Geräte verwendet wird
ASTM F1238-95(1999) Standardspezifikation für feuerfeste Silizid-Sputtertargets für mikroelektronische Anwendungen
ASTM F1238-95(2011) Standardspezifikation für feuerfeste Silizid-Sputtertargets für mikroelektronische Anwendungen
ASTM F10-69(1981)e1 Spezifikation für Miniatur-Elektronenröhrenleitungen
ASTM F459-84(2001) Standardtestmethoden zur Messung der Zugfestigkeit mikroelektronischer Drahtverbindungen
ASTM F459-84(1995)e1 Standardtestmethoden zur Messung der Zugfestigkeit mikroelektronischer Drahtverbindungen
ASTM F459-13(2018) Standardtestmethoden zur Messung der Zugfestigkeit mikroelektronischer Drahtverbindungen
ASTM F459-13 Standardtestmethoden zur Messung der Zugfestigkeit mikroelektronischer Drahtverbindungen
ASTM F542-98 Standardtestverfahren für die exotherme Temperatur von Verkapselungsverbindungen für die elektronische und mikroelektronische Verkapselung
ASTM F542-02 Standardtestverfahren für die exotherme Temperatur von Verkapselungsverbindungen für die elektronische und mikroelektronische Verkapselung
ASTM F459-06 Standardtestmethoden zur Messung der Zugfestigkeit mikroelektronischer Drahtverbindungen
ASTM F542-07 Standardtestverfahren für die exotherme Temperatur von Verkapselungsverbindungen für die elektronische und mikroelektronische Verkapselung
ASTM F677-95(1999) Standardtestmethode für die Flüssigkeits- und Fettbeständigkeit von duroplastischen Vergussmassen, die in elektronischen und mikroelektronischen Anwendungen verwendet werden
ASTM F677-04(2009) Standardtestmethode für die Flüssigkeits- und Fettbeständigkeit von duroplastischen Vergussmassen, die in elektronischen und mikroelektronischen Anwendungen verwendet werden
ASTM F677-13 Standardtestmethode für die Flüssigkeits- und Fettbeständigkeit von duroplastischen Vergussmassen, die in elektronischen und mikroelektronischen Anwendungen verwendet werden
ASTM F677-04 Standardtestmethode für die Flüssigkeits- und Fettbeständigkeit von duroplastischen Vergussmassen, die in elektronischen und mikroelektronischen Anwendungen verwendet werden
ASTM F71-68(1999) Standardpraxis für die Verwendung des morphologischen Schlüssels zur schnellen Identifizierung von Fasern zur Kontaminationskontrolle in Elektronengeräten und Mikroelektronik (zurückgezogen 2005)
ASTM F1094-87(2005) Standardtestmethoden für die mikrobiologische Überwachung von Wasser, das für die Verarbeitung von Elektronen- und mikroelektronischen Geräten verwendet wird, durch Direktdruck-Probenahmeventil und durch die Methode vorsterilisierter Plastiktüten
ASTM F1094-87(1999) Standardtestmethoden für die mikrobiologische Überwachung von Wasser, das für die Verarbeitung von Elektronen- und mikroelektronischen Geräten verwendet wird, durch Direktdruck-Probenahmeventil und durch die Methode vorsterilisierter Plastiktüten
ASTM F1094-87(2020) Standardtestmethoden für die mikrobiologische Überwachung von Wasser, das für die Verarbeitung von Elektronen- und mikroelektronischen Geräten verwendet wird, durch Direktdruck-Probenahmeventil und durch die Methode vorsterilisierter Plastiktüten
ASTM F1227-89(1999) Testmethode für den Gesamtmassenverlust von Materialien und die Kondensation ausgegaster flüchtiger Stoffe auf mikroelektronikbezogenen Substraten (zurückgezogen 2000)
ASTM F1094-87(2012) Standardtestmethoden für die mikrobiologische Überwachung von Wasser, das für die Verarbeitung von Elektronen- und mikroelektronischen Geräten verwendet wird, durch Direktdruck-Probenahmeventil und durch die Methode vorsterilisierter Plastiktüten
ASTM F1467-99(2005)e1 Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentestgeräts ([ungefähr] 10 keV-Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Mikroelektronik

ASHRAE KC-03-9-3-2003 Integration technologischer Veränderungen in mikroelektronische Reinräume

Defense Logistics Agency, Mikroelektronik

DLA SMD-5962-91669 REV A-2008 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, 5 V LOW-DROPOUT-SPANNUNGSREGLER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-95839 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, 5-V-LOW-DROPOUT-SPANNUNGSREGLER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92109 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, LINEAR, 12 VOLT, ZWEIKANAL, DC/DC-KONVERTER
DLA SMD-5962-94761 REV B-2008 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, ELEKTRISCH löschbares, programmierbares Logikgerät, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-90659 REV F-2008 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, LINEAR, HOCHLEISTUNGS-OPERATIONSVERSTÄRKER
DLA SMD-5962-87641 REV A-2008 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, BIMOS 8-BIT, SERIELLER EINGANG, VERRIEGELTER TREIBER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-M-38510/316 E VALID NOTICE 1-2008 MIKROKREISE, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, KASKADIERBARE LATCHES, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-M-38510/319 C VALID NOTICE 1-2008 MIKROSCHALTEN, DIGITAL, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, 4 x 4 REGISTERDATEI, KASKADIERBAR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92078 REV J-2008 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, SPEICHER, DIGITAL, STATISCHER RANDOM-ACCESS-SPEICHER, CMOS, 512K x 8-BIT
DLA MIL-PRF-1/1037 E NOTICE 2-2008 ELEKTRONENRÖHRE, NEGATIVES GITTER (MIKROWELLE) TYP 6897
DLA MIL-PRF-1/1037E-1998 ELEKTRONENRÖHRE, NEGATIVES GITTER (MIKROWELLE) TYP 6897
DLA MIL-PRF-1/1055 F NOTICE 1-2008 Elektronenröhre, Mikrowelle (Negativgitter), Typ 6442
DLA MIL-PRF-1/1055F-2002 Elektronenröhre, Mikrowelle (Negativgitter), Typ 6442
DLA SMD-5962-93217 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, OKTAL-EDGE-GETriggerter D-TYP-FLIP-FLOP MIT KLAREN, TTL-KOMPATIBELEN EINGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-92223 REV D-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHNELLER CMOS, OKTAL-TRANSCEIVER/REGISTER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE UND BEGRENZTER AUSGANGSSPANNUNGSSCHWINGUNG, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-92225 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHNELLES CMOS, 10-BIT-BUS-SCHNITTSTELLE-D-REGISTER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBELEN EINGÄNGEN UND BEGRENZTER AUSGANGSSPANNUNGSSCHWINGUNG, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96570 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, OKTALPUFFER UND LEITUNGSTREIBER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM

Aeronautical Radio Inc., Mikroelektronik

ARINC 606-1 ITEM 3.0 Auswirkungen elektrostatischer Felder und Entladungen auf moderne mikroelektronische Teile

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Mikroelektronik

DB31/ 842-2014 Spezifikationen für die Beherrschung berufsbedingter Gefahren in der Fertigungsindustrie für mikroelektronische Komponenten

工业和信息化部, Mikroelektronik

SJ/T 11705-2018 Methoden zur Prüfung der Erdungs- und Stromversorgungsimpedanz für mikroelektronische Gerätepakete
SJ/T 11704-2018 Prüfverfahren für digitale Signalübertragungseigenschaften mikroelektronischer Baugruppen
SJ/T 11703-2018 Testmethode für Übersprecheigenschaften von Verpackungen digitaler mikroelektronischer Geräte

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Mikroelektronik

IPC/JEDEC-9301-2018 Numerische Analyserichtlinien für mikroelektronisches Verpackungsdesign und Zuverlässigkeit

PT-IPQ, Mikroelektronik

NP 3081-1985 Elektronisches Bauteil. Halbleiter-Chip-Inspektion beim Mikroelektronik-Scannen, grundlegende Spezifikationen

GB-REG, Mikroelektronik

REG NASA-LLIS-0678--2000 Gelernte Erkenntnisse: Überlegungen zum Entwurf für die Auswahl mikroelektronischer Dickschichtschaltungen

U.S. Air Force, Mikroelektronik

AIR FORCE MIL-E-1/144 E-1968 ELEKTRONENRÖHRE, NEGATIVES GITTER (MIKROWELLE) TYP 2C43

American National Standards Institute （ANSI), Mikroelektronik

ANSI/ASTM F542:2007 Prüfverfahren für die exotherme Temperatur von Verkapselungsverbindungen für die elektronische und mikroelektronische Verkapselung
ANSI/ASTM F677:2013 PRÜFVERFAHREN FÜR DIE FLÜSSIGKEITS- UND FETTBESTÄNDIGKEIT VON DURÄRFETTVERKAPSELUNGSMASSE, DIE IN ELEKTRONISCHEN UND MIKROELEKTRONISCHEN ANWENDUNGEN VERWENDET WERDEN

Danish Standards Foundation, Mikroelektronik

DS/EN ISO 10692-1:2002 Gasflaschen – Ventilanschlüsse für Gasflaschen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 1: Auslassanschlüsse
DS/EN ISO 10692-2:2002 Gasflaschen – Gasflaschen-Ventilverbindungen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 2: Spezifikation und Typprüfung für Ventil-Flaschen-Verbindungen

IN-BIS, Mikroelektronik

IS 1885 Pt.7/Sec.5-1971 Elektrovokabular Teil Ⅶ Halbleiterbauelemente Abschnitt 5: Integrierte Schaltkreise und Mikroelektronik

International Electrotechnical Commission (IEC), Mikroelektronik

IEC 62047-5:2011 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 5: HF-MEMS-Schalter
IEC 62047-5:2011/COR1:2012 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 5: HF-MEMS-Schalter; Berichtigung 1
IEC PAS 62162:2000 Feldinduziertes Modelltestverfahren für elektrostatische Entladungen mikroelektronischer Komponenten

German Institute for Standardization, Mikroelektronik

DIN EN ISO 10692-1:2003 Gasflaschen - Ventilanschlüsse für Gasflaschen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie - Teil 1: Auslassanschlüsse (ISO 10692-1:2001); Deutsche Fassung EN ISO 10692-1:2001
DIN EN ISO 10692-1:2003-04 Gasflaschen - Ventilanschlüsse für Gasflaschen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie - Teil 1: Auslassanschlüsse (ISO 10692-1:2001); Deutsche Fassung EN ISO 10692-1:2001
DIN EN ISO 10692-2:2003 Gasflaschen – Gasflaschen-Ventilverbindungen zur Verwendung in der Mikroelektronik-Industrie – Teil 2: Spezifikation und Typprüfung für Ventil-Flaschen-Verbindungen (ISO 10692-2:2001); Deutsche Fassung EN ISO 10692-2:2001
DIN EN 62047-10:2012 Halbleiterbauelemente - Mikroelektromechanische Bauelemente - Teil 10: Mikrosäulen-Kompressionstest für MEMS-Materialien (IEC 62047-10:2011); Deutsche Fassung EN 62047-10:2011
DIN EN 62047-5:2012 Halbleiterbauelemente - Mikroelektromechanische Bauelemente - Teil 5: HF-MEMS-Schalter (IEC 62047-5:2011); Deutsche Fassung EN 62047-5:2011

European Committee for Standardization (CEN), Mikroelektronik

EN ISO 10692-1:2001 Gasflaschen – Gasflaschenventilanschlüsse zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 1: Auslassanschlüsse ISO 10692-1: 2001

KR-KS, Mikroelektronik

KS D ISO TR 17270-2007 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Technischer Bericht zur Bestimmung der experimentellen Parameter für die Elektronenenergieverlustspektroskopie
KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 23833-2018 Mikrostrahlanalyse – Elektronensonden-Mikroanalyse (EPMA) – Wortschatz
KS D ISO 23833-2022 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse (EPMA) – Wortschatz

Lithuanian Standards Office , Mikroelektronik

LST EN ISO 10692-1:2002 Gasflaschen – Ventilanschlüsse für Gasflaschen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 1: Auslassanschlüsse (ISO 10692-1:2001)

RU-GOST R, Mikroelektronik

GOST 30350-1996 Analoge integrierte Schaltkreise. Allgemeine Anforderungen an Geräte und Bedingungen zur Messung elektrischer Parameter
GOST R 57367-2016 Akustoelektronische Produkte auf akustischen Oberflächenwellen. Kennzeichen. Allgemeine Spezifikation

IEC - International Electrotechnical Commission, Mikroelektronik

PAS 62162-2000 Feldinduziertes Modelltestverfahren für geladene Geräte für elektrostatische Entladungsfestigkeitsschwellen mikroelektronischer Komponenten (Ausgabe 1.0)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Mikroelektronik

GB/T 17473.7-2022 Prüfverfahren für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik – Teil 7: Bestimmung der Lötbarkeit und der Beständigkeit gegen Lotauslaugung
GB/T 40300-2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Vokabular
GB/T 21636-2021 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse (EPMA) – Vokabular

AENOR, Mikroelektronik

UNE-EN ISO 10692-1:2002 Gasflaschen – Ventilanschlüsse für Gasflaschen zur Verwendung in der Mikroelektronikindustrie – Teil 1: Auslassanschlüsse. (ISO 10692-1:2001)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Mikroelektronik

GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben

Professional Standard - Electricity, Mikroelektronik

DL/T 2163-2020 MEMS-Neigungsmesser

Professional Standard - Machinery, Mikroelektronik

JB/T 8499-1996 Induktivitätsskalenmikrometer für Elektronenstrahl
JB/T 12203-2015 Pneumatisches Elektronensäulen-Mikrometer

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Mikroelektronik

ECA TEP 170-1972 Röntgenstrahlungserkennung und -messungen für Mikrowellenröhren, empfohlene Praxis auf