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DE마이크로일렉트로닉스
모두 246항목의 마이크로일렉트로닉스와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 마이크로일렉트로닉스와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 금속 재료 테스트, 석유 및 가스 산업 장비, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 기계적 테스트, 반도체 개별 장치, 전기 및 전자 테스트, 철도 건설, 비철금속, 비철금속 제품, 광학 장비, 전자관, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 비파괴 검사, 분석 화학, 항공우주 제조용 재료, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 전자제품, 판막, 전기 장치, 전자 장비용 기계 부품, 유체 저장 장치, 종합 전자 부품, 공기질, 광학 및 광학 측정, 전기공학종합, 미생물학, 어휘, 길이 및 각도 측정, 계측 및 측정 합성.
SE-SIS, 마이크로일렉트로닉스
CZ-CSN, 마이크로일렉트로닉스
U.S. Military Regulations and Norms, 마이크로일렉트로닉스
Chongqing Provincial Standard of the People's Republic of China, 마이크로일렉트로닉스
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 마이크로일렉트로닉스
US-Unspecified Preparing Activity, 마이크로일렉트로닉스
Association Francaise de Normalisation, 마이크로일렉트로닉스
SAE - SAE International, 마이크로일렉트로닉스
Society of Automotive Engineers (SAE), 마이크로일렉트로닉스
Professional Standard - Electron, 마이크로일렉트로닉스
HU-MSZT, 마이크로일렉트로닉스
PL-PKN, 마이크로일렉트로닉스
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 마이크로일렉트로닉스
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 마이크로일렉트로닉스
IET - Institution of Engineering and Technology, 마이크로일렉트로닉스
Association of German Mechanical Engineers, 마이크로일렉트로닉스
VDI - Verein Deutscher Ingenieure, 마이크로일렉트로닉스
Professional Standard - Railway, 마이크로일렉트로닉스
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 마이크로일렉트로닉스
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 마이크로일렉트로닉스
International Organization for Standardization (ISO), 마이크로일렉트로닉스
British Standards Institution (BSI), 마이크로일렉트로닉스
- BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내
- BS EN 62047-5:2011 반도체 장치, 마이크로 전자 기계 장치, 무선 주파수 마이크로 전자 기계 변환기
- BS EN 62047-4:2010 반도체 장치 마이크로 전자 기계 장치 마이크로 전자 기계 시스템(MEMS) 일반 사양
- BS EN 62047-7:2011 반도체 장치 마이크로 전자 기계 장치 MEMS(마이크로 전자 기계 시스템) 표면 음향 필터(BAW) 및 무선 주파수 제어 및 선택을 위한 듀플렉서
- BS EN ISO 10692-1:2001 가스 실린더, 마이크로 전자 산업에 사용되는 가스 저장 병, 가스 배출구 커넥터
- BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
- BS ISO 14594:2003 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내.
- BS ISO 14594:2014 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내.
- BS EN 62047-10:2011 반도체 장치, 마이크로 전자 기계 장치, MEMS 재료의 마이크로 컬럼 압축 테스트
- BS ISO 23420:2021 마이크로빔 분석의 에너지 분해능 결정 방법, 전자현미경, 전자 에너지 손실 분광학 분석
- BS ISO 24639:2022 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정 절차
- BS EN 62047-9:2011 반도체 장치, 마이크로 전자 기계 장치, MEMS의 웨이퍼 간 결합 강도 측정
- BS EN 62047-9:2013 반도체소자 미세전자기계소자 MEMS의 웨이퍼간 결합강도 측정
- 20/30380369 DC BS ISO 23420 마이크로빔 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 에너지 분해능 결정
- 21/30404763 DC BS ISO 24639 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정 절차
- BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)
- BS ISO 15932:2013 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 어휘
- BS ISO 22493:2014 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
Institute of Environmental Sciences and Technology, 마이크로일렉트로닉스
American Society for Testing and Materials (ASTM), 마이크로일렉트로닉스
ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 마이크로일렉트로닉스
Defense Logistics Agency, 마이크로일렉트로닉스
- DLA SMD-5962-91669 REV A-2008 모놀리식 실리콘, 5V 전압 조정기, 선형 마이크로전자 회로
- DLA SMD-5962-95839 REV C-2008 모놀리식 실리콘 5V 전압 조정기 조정기, 선형 마이크로전자 회로
- DLA SMD-5962-92109 REV C-2008 DC/DC 변환기 이중 채널, 선형 하이브리드 마이크로 전자 회로
- DLA SMD-5962-94761 REV B-2008 모놀리식 실리콘 전기 재기록 가능 논리 프로그래밍 장치, CMOS 디지털 메모리 마이크로전자 회로
- DLA SMD-5962-90659 REV F-2008 작동 가능한 증폭기, 고전력 선형 하이브리드 마이크로 전자 회로
- DLA SMD-5962-87641 REV A-2008 모놀리식 실리콘 래치 드라이버, 직렬 입력 BIMOS 8비트 선형 마이크로전자 회로
- DLA MIL-M-38510/316 E VALID NOTICE 1-2008 모놀리식 실리콘 캐스케이드 래치, 저전력 쇼트키 TTL, 양극 디지털 마이크로 전자 회로
- DLA MIL-M-38510/319 C VALID NOTICE 1-2008 모놀리식 실리콘 캐스케이드, 4x4 레지스터, 저전력 쇼트키 TTL, 디지털 마이크로 전자 회로
- DLA SMD-5962-92078 REV J-2008 CMOS, 512K x 8-BIT 정적 랜덤 액세스 메모리, 디지털 메모리, 하이브리드 마이크로 전자 회로
- DLA MIL-PRF-1/1037 E NOTICE 2-2008 6897 네거티브 그리드(마이크로파)형 전자관
- DLA MIL-PRF-1/1037E-1998 6897 네거티브 그리드(마이크로파)형 전자관
- DLA MIL-PRF-1/1055 F NOTICE 1-2008 6442 네거티브 그리드(마이크로파)형 전자관
- DLA MIL-PRF-1/1055F-2002 6442 네거티브 그리드(마이크로파)형 전자관
- DLA SMD-5962-93217 REV C-2008 모놀리식 실리콘 TTL 호환 출력, 8-트리거-D-에지 트리거, 고급 양극 CMOS 디지털 마이크로전자 회로
- DLA SMD-5962-92223 REV D-2008 TTL 호환 입력 및 제한된 출력 전압 스윙을 위한 마이크로 전자 회로 3상태 출력을 갖춘 모놀리식 고속 CMOS 8진 레지스터/트랜시버
- DLA SMD-5962-92225 REV C-2008 TTL 호환 입력 및 제한된 출력 전압 스윙 모놀리식 고속 CMOS 10비트 버스 인터페이스 3상태 출력을 갖춘 D 레지스터 마이크로전자 회로
- DLA SMD-5962-96570 REV C-2008 3상태 출력, 방사선 경화 고급 CMOS 디지털 마이크로 전자 회로를 갖춘 모놀리식 실리콘 8버퍼 및 라인 드라이버
Aeronautical Radio Inc., 마이크로일렉트로닉스
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 마이크로일렉트로닉스
工业和信息化部, 마이크로일렉트로닉스
IPC - Association Connecting Electronics Industries, 마이크로일렉트로닉스
PT-IPQ, 마이크로일렉트로닉스
GB-REG, 마이크로일렉트로닉스
U.S. Air Force, 마이크로일렉트로닉스
American National Standards Institute （ANSI), 마이크로일렉트로닉스
Danish Standards Foundation, 마이크로일렉트로닉스
IN-BIS, 마이크로일렉트로닉스
International Electrotechnical Commission (IEC), 마이크로일렉트로닉스
German Institute for Standardization, 마이크로일렉트로닉스
European Committee for Standardization (CEN), 마이크로일렉트로닉스
KR-KS, 마이크로일렉트로닉스
Lithuanian Standards Office , 마이크로일렉트로닉스
RU-GOST R, 마이크로일렉트로닉스
IEC - International Electrotechnical Commission, 마이크로일렉트로닉스
- PAS 62162-2000 마이크로 전자 부품의 정전기 방전 허용 한계값에 대한 전계 유도 대전 장치 모델 테스트 방법(버전 1.0)
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 마이크로일렉트로닉스
AENOR, 마이크로일렉트로닉스
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 마이크로일렉트로닉스
Professional Standard - Electricity, 마이크로일렉트로닉스
Professional Standard - Machinery, 마이크로일렉트로닉스
Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 마이크로일렉트로닉스