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Dopaje de materiales semiconductores

Dopaje de materiales semiconductores, Total: 18 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Dopaje de materiales semiconductores son: Materiales semiconductores, Productos de la industria química., Fluidos aislantes, Química analítica, Condiciones y procedimientos de prueba en general..

German Institute for Standardization, Dopaje de materiales semiconductores

DIN 50439:1982 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación del perfil de concentración de dopantes de un material semiconductor monocristalino mediante el método capacitancia-voltaje y contacto con mercurio
DIN 50450-1:1987-08 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; Determinación de la impureza del agua en hidrógeno, oxígeno, nitrógeno, argón y helio mediante el uso de una celda de pentóxido de difósforo.
DIN 50450-2:1991-03 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; determinación de impureza de oxígeno en N<(Index)2>, Ar, He, Ne y H<(Index)2> mediante el uso de una celda galvánica
DIN 50450-4:1993-09 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; Determinación de hidrocarburos C<(Index)1> 　——C<(Index)3> en nitrógeno mediante cromatografía de gases.
DIN 50450-4:1993 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; determinación de hidrocarburos CC en nitrógeno mediante cromatografía de gases
DIN 50445:1992 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación sin contacto de la resistividad eléctrica de láminas de semiconductores mediante el método de corrientes parásitas; obleas semiconductoras dopadas homogéneamente
DIN 50450-9:2003 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes. Parte 9: Determinación de oxígeno, nitrógeno, monóxido de carbono, dióxido de carbono, hidrógeno e hidrocarburos CC en hidróxido gaseoso.
DIN 50449-2:1998

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Dopaje de materiales semiconductores

GB/T 4298-1984 El método de análisis de activación para la determinación de impurezas elementales en materiales semiconductores de silicio.
GB/T 14264-1993 Materiales semiconductores-Términos y definiciones
GB/T 14264-2009 Materiales semiconductores-Términos y definiciones
GB/T 31469-2015 Fluido de corte de materiales semiconductores.

Group Standards of the People's Republic of China, Dopaje de materiales semiconductores

T/CNIA 0143-2022 Recipientes de resina ultrapura para análisis de trazas de impurezas de materiales semiconductores

Professional Standard - Electron, Dopaje de materiales semiconductores

SJ 20744-1999 Regla general del análisis espectral de absorción infrarroja para la concentración de impurezas en materiales semiconductores.
SJ/T 11775-2021 Sierra de varios hilos utilizada para materiales semiconductores

RO-ASRO, Dopaje de materiales semiconductores

STAS 6360-1974 MATERIALES Y DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES Terminología

HU-MSZT, Dopaje de materiales semiconductores

MSZ 771/5-1979 ALPAKKA ?SR?ZNIKKEL ?TV?ZETEK Huzalok mechanikai tulajdonságai

Indonesia Standards, Dopaje de materiales semiconductores

SNI 19-0429-1989 Guía para muestreo de materiales líquidos y semisólidos.