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单晶 测试
本专题涉及单晶 测试的标准有22条。
国际标准分类中，单晶 测试涉及到半导体分立器件、半导体材料、钢铁产品、金属材料试验、光学和光学测量、频率控制和选择用压电器件与介质器件。
在中国标准分类中，单晶 测试涉及到半导体分立器件综合、化合物半导体材料、金属物理性能试验方法、光学计量、稀有高熔点金属及其合金。
国家军用标准-总装备部，关于单晶 测试的标准
- GJB 1927A-2021 砷化镓单晶材料测试方法
- GJB 1927-1994 砷化镓单晶材料测试方法
行业标准-电子，关于单晶 测试的标准
- SJ/T 10333-1993 单结晶体管测试方法
- SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法
- SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法
- SJ/T 11499-2015 碳化硅单晶电学性能的测试方法
- SJ 20844-2002 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法
- SJ 20858-2002 碳化硅单晶材料电学参数测试方法
国家质检总局，关于单晶 测试的标准
- GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法
- GB/T 32278-2015 碳化硅单晶片平整度测试方法
- GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法
- GB/T 22453-2008 硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法
- GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
- GB/T 15250-1994 压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法
韩国科技标准局，关于单晶 测试的标准
- KS D 0070-2002(2022) 用单片试样测试非晶金属磁性的方法
- KS D 0070-2002(2017) 用单片试样测定非晶金属磁性的试验方法
- KS D 0260-1999 四点探针法测试单晶硅片电阻率的方法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于单晶 测试的标准
- GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法
- GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法
IEC - International Electrotechnical Commission，关于单晶 测试的标准
- PAS 62277-2001 表面安装石英晶体单元的测试夹具（1.0 版；）
行业标准-有色金属，关于单晶 测试的标准
- YS/T 557-2006 压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法
德国标准化学会，关于单晶 测试的标准
- DIN EN 60444-8:2017-11 石英晶体单元参数的测量第8部分：表面贴装石英晶体单元的测试夹具
