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半導体テスト装置
半導体テスト装置は全部で 500 項標準に関連している。
半導体テスト装置 国際標準分類において、これらの分類:原子力工学、 半導体ディスクリートデバイス、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 光ファイバー通信、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 ソフトウェア開発とシステム文書化、 無機化学、 放射線測定、 金属材料試験、 長さと角度の測定、 電気、磁気、電気および磁気測定、 半導体材料、 整流器、コンバータ、安定化電源、 電子機器用機械部品、 語彙、 グラフィックシンボル、 情報技術の応用、 総合電子部品、 プリント回路およびプリント回路基板、 電気機器部品、 電子および通信機器用の電気機械部品、 品質、 航空宇宙システムおよび操作装置、 送配電網、 電気および電子試験、 産業用オートメーションシステム、 抵抗器、 表面処理・メッキ、 断熱材、 ワイヤーとケーブル、 計測学と測定の総合、 農林、 真空技術、 情報技術用の言語、 ゴム・プラスチック製品、 消防、 プラスチック。
Professional Standard - Electron, 半導体テスト装置
British Standards Institution (BSI), 半導体テスト装置
Association Francaise de Normalisation, 半導体テスト装置
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 半導体テスト装置
ES-UNE, 半導体テスト装置
International Electrotechnical Commission (IEC), 半導体テスト装置
American National Standards Institute (ANSI), 半導体テスト装置
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 半導体テスト装置
HU-MSZT, 半導体テスト装置
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 半導体テスト装置
CZ-CSN, 半導体テスト装置
RO-ASRO, 半導体テスト装置
Defense Logistics Agency, 半導体テスト装置
IN-BIS, 半導体テスト装置
Group Standards of the People's Republic of China, 半導体テスト装置
YU-JUS, 半導体テスト装置
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 半導体テスト装置
Professional Standard - Post and Telecommunication, 半導体テスト装置
Danish Standards Foundation, 半導体テスト装置
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 半導体テスト装置
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 半導体テスト装置
German Institute for Standardization, 半導体テスト装置
工业和信息化部, 半導体テスト装置
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 半導体テスト装置
Professional Standard - Aerospace, 半導体テスト装置
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 半導体テスト装置
TR-TSE, 半導体テスト装置
NEMA - National Electrical Manufacturers Association, 半導体テスト装置
Lithuanian Standards Office , 半導体テスト装置
SE-SIS, 半導体テスト装置
RU-GOST R, 半導体テスト装置
ECIA - Electronic Components Industry Association, 半導体テスト装置
KR-KS, 半導体テスト装置
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 半導体テスト装置
Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 半導体テスト装置
Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, 半導体テスト装置
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 半導体テスト装置
CH-SNV, 半導体テスト装置
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 半導体テスト装置
Professional Standard - Machinery, 半導体テスト装置
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 半導体テスト装置
American Society for Testing and Materials (ASTM), 半導体テスト装置
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 半導体テスト装置
ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 半導体テスト装置
Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, 半導体テスト装置
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 半導体テスト装置
未注明发布机构, 半導体テスト装置
BELST, 半導体テスト装置
- STB 8066-2016 ベラルーシ共和国における測定の均一性を確保するための半導体検出器を備えたシステムアルファ分光計の検証方法
SAE - SAE International, 半導体テスト装置
Society of Automotive Engineers (SAE), 半導体テスト装置
Professional Standard - Energy, 半導体テスト装置
ZA-SANS, 半導体テスト装置
AENOR, 半導体テスト装置
Professional Standard - Forestry, 半導体テスト装置
International Organization for Standardization (ISO), 半導体テスト装置
CU-NC, 半導体テスト装置
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 半導体テスト装置
Underwriters Laboratories (UL), 半導体テスト装置