Вторичный дифракционный анализ

Вторичный дифракционный анализ, Всего: 278 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Вторичный дифракционный анализ, являются: Аналитическая химия, Анализ размера частиц. просеивание, Цветные металлы, Огнеупоры, Качество воздуха, Полупроводниковые материалы, Продукция химической промышленности, Словари, Радиационная защита, Неорганические химикаты, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Профессиональная безопасность. Промышленная гигиена, Керамика, Строительные материалы, Краски и лаки, Неразрушающий контроль, Электростанции в целом, Нерудные полезные ископаемые, Органические химикаты, Образование, Ингредиенты краски, Сырье для резины и пластмасс, Телевидение и радиовещание, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Радиосвязь, Защита от огня, Качество.

PT-IPQ, Вторичный дифракционный анализ

E E 14-1971 Рентгеноструктурный анализ

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Вторичный дифракционный анализ

KS M 0043-2009 Общие правила рентгенодифрактометрического анализа
KS M 0043-2019 Общие правила рентгенодифрактометрического анализа
KS A ISO 13320:2022 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции.
KS M 0043-2009(2019) Общие правила рентгенодифрактометрического анализа
KS A ISO 13320-2014(2019) Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции.
KS A ISO 13320:2014 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции.
KS A ISO 13320-1-2004(2009) Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции. Часть 1. Общие принципы.
KS M ISO 8130-13:2008 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции.
KS A ISO 13320-1-2014 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции. Часть 1. Общие принципы.
KS M ISO 8130-13:2019 Порошки для покрытий. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции
KS A ISO 13320-1:2004 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции. Часть 1. Общие принципы.
KS A ISO 13320-1:2014 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции. Часть 1. Общие принципы.
KS D ISO 17560-2003(2018) Химический анализ поверхности - массовый анализ вторичных ионов - метод измерения распределения бора по глубине в кремнии
KS E 3076-2002 Методы рентгенофлуоресцентно-спектрометрического анализа кварцевого камня и кварцевого песка
KS D ISO 22048-2005(2020) Химический анализ поверхности - информационный формат для статической масс-спектрометрии вторичных ионов
KS D ISO 22048-2020 Химический анализ поверхности - информационный формат для статической масс-спектрометрии вторичных ионов
KS D ISO 14237-2003(2018) Анализ недр — вторичный ионный массовый анализ — метод измерения концентрации атомов бора, равномерно добавленных в кремний

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Вторичный дифракционный анализ

GB/T 19077.1-2003 Анализ размера частиц. Метод лазерной дифракции.
GB/T 19077-2016 Гранулометрический анализ частиц. Методы лазерной дифракции.
GB/T 19501-2013 Микролучевой анализ. Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 19501-2004 Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов
GB/T 30703-2014 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 19421.1-2003 Методы испытаний кристаллического слоистого дисиликата натрия. Качественный анализ дельта-кристаллического слоистого дисиликата натрия. Метод рентгеновской дифрактометрии.
GB 16355-1996 Нормы радиационной защиты оборудования для рентгеноструктурного и флуоресцентного анализа
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 19077.1-2008 Гранулометрический анализ частиц. Методы лазерной дифракции. Часть 1. Общие принципы.
GB/T 30904-2014 Неорганические химические вещества для промышленного использования. Анализ кристаллической формы. Метод рентгеновской дифракции.
GB/T 21782.13-2009 Порошки для покрытия. Часть 13: Анализ размера частиц методом лазерной дифракции.
GB/T 38532-2020 Микролучевой анализ — Дифракция обратного рассеяния электронов — Измерение среднего размера зерна
GB/T 6609.32-2009 Методы химического анализа и определение физических свойств глинозема. Часть 32. Определение содержания а-глинозема методом рентгеновской дифракции.
GB/T 32495-2016 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования мышьяка в кремнии.
GB/T 43663-2024 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и последовательность шкалы относительной интенсивности для статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
GB/T 32698-2016 Ингредиенты резиновой смеси. Определение гранулометрического состава диоксида кремния, осажденного, гидратированного. Лазерная дифракция.
GB/T 26019-2010 Методы химического анализа высокопримесного вольфрамового минерала. Определение содержания триоксида вольфрама. Двукратное разделение и прокаливание гравиметрическим методом.

KR-KS, Вторичный дифракционный анализ

KS A ISO 13320-2022 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции.
KS M ISO 8130-13-2019 Порошки для покрытий. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции
KS D ISO 17560-2003(2023) Химический анализ поверхности - масс-спектрометрия вторичных ионов - полевой метод измерения распределения бора по глубине в кремнии
KS D ISO 14237-2003(2023) Подповерхностный химический анализ. Масс-спектрометрический анализ вторичных ионов. Метод измерения концентрации равномерно добавленных атомов бора в кремнии.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Вторичный дифракционный анализ

JIS Z 8825:2013 Гранулометрический анализ частиц. Методы лазерной дифракции.
JIS Z 8825:2022 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции.
JIS K 0131:1996 Общие правила рентгенодифрактометрического анализа
JIS Z 8825-1:2001 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции. Часть 1. Общие принципы.
JIS K 0164:2023 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профиля бора в кремнии.
JIS K 0157:2021 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
JIS A 1481-3:2014 Определение асбеста в изделиях строительных материалов. Часть 3. Количественный анализ содержания асбеста методом рентгеновской дифракции.
JIS K 0168:2011 Химический анализ поверхности. Информационный формат для статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
JIS K 0158:2021 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод коррекции интенсивности насыщения при подсчете одиночных ионов. Динамическая масс-спектрометрия вторичных ионов.
JIS K 0153:2015 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
JIS K 5600-9-3:2006 Методы испытаний красок. Часть 9. Порошки для покрытия. Раздел 3. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции.
JIS A 1481-3 AMD 1:2022 Определение содержания асбеста в изделиях из строительных материалов. Часть 3. Количественный анализ содержания асбеста методом рентгеновской дифракции (Поправка 1)
JIS K 0155:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в пролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.

Danish Standards Foundation, Вторичный дифракционный анализ

DS/ISO 13320:2009 Анализ размера частиц - Методы лазерной дифракции
DS/EN ISO 8130-13:2011 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции.
DS/EN 15305/AC:2009 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.
DS/EN 15305:2008 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.

British Standards Institution (BSI), Вторичный дифракционный анализ

BS ISO 13320:2020 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции
BS ISO 13320:2010 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции
BS ISO 13320:2009 Анализ размера частиц - Методы лазерной дифракции
19/30333249 DC BS ISO 13320. Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции
BS ISO 13320-1:2000 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции. Общие принципы.
BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS EN ISO 8130-13:2010 Порошковые покрытия. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции
BS EN ISO 8130-13:2001 Порошковые покрытия. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции
BS ISO 16258-2:2015 Воздух на рабочем месте. Анализ вдыхаемого кристаллического кремнезема методом рентгеновской дифракции. Метод косвенного анализа
BS EN ISO 8130-13:2019 Отслеживаемые изменения. Порошковые покрытия. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции
BS ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS EN 15305:2008(2009) Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.
BS ISO 13084:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов
BS ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
BS EN 15305:2008 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.
BS ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 24173:2024 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 22415:2019 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод определения объема выхода при профилировании глубины аргонового кластерного распыления органических материалов
BS ISO 20411:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод коррекции насыщенной интенсивности в динамической масс-спектрометрии вторичных ионов со счетом одиночных ионов
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
19/30365236 DC BS ISO 13067. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 12406:2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования мышьяка в кремнии
21/30398224 DC BS ISO 23749. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
BS EN 12698-2:2007 Химический анализ карбидокремниевых огнеупоров на нитридной связке - методы рентгенографии
23/30435799 DC BS ISO 24173. Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
BS ISO 13084:2011 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Калибровка шкалы масс времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов
BS ISO 16258-1:2015 Воздух на рабочем месте. Анализ вдыхаемого кристаллического кремнезема методом рентгеновской дифракции. Метод прямого фильтра
BS ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии, определение профиля глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких…
21/30433862 DC БС ИСО 17109 АМД1. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием одиночных и…
BS 3900-J13:2001 Методы испытаний красок. Испытания порошков для покрытий. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции.
21/30395106 DC BS ISO 23703. Микролучевой анализ. Руководство по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
BS ISO 22048:2004 Химический анализ поверхности. Информационный формат для статической масс-спектрометрии вторичных ионов
BS ISO 22048:2004(2005) Химический анализ поверхности. Информационный формат для статической вторично-ионной масс-спектрометрии.
BS ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии. Профилирование глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких пленок.
BS ISO 17862:2022 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах со счетом одиночных ионов
20/30409963 DC BS ISO 17862. Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах со счетом одиночных ионов

未注明发布机构, Вторичный дифракционный анализ

DIN ISO 13320 E:2022-05 Анализ размера частиц - Методы лазерной дифракции
DIN ISO 13067 E:2021-01 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
DIN EN ISO 8130-13 E:2018-04 Порошковые покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (проект)

German Institute for Standardization, Вторичный дифракционный анализ

DIN ISO 13320:2022-12 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции (ISO 13320:2020)
DIN ISO 13320:2022 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции (ISO 13320:2020)
DIN EN ISO 8130-13:2019-08 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (ISO 8130-13:2019); Немецкая версия EN ISO 8130-13:2019
DIN 55912-2 Bb.1:1999 Пигменты - Пигменты диоксида титана; методы анализа - Примеры использования рентгенофлуоресцентного анализа для определения второстепенных компонентов.
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции; Немецкая версия EN 15305:2008, исправление к DIN EN 15305:2009-01; Немецкая версия EN 15305:2008/AC:2009
DIN ISO 13067:2021-08 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN EN 15305:2009-01 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции; Немецкая версия EN 15305:2008.
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции; Немецкая версия EN 15305:2008, исправление к DIN EN 15305:2009-01; Немецкая версия EN 15305:2008/AC:2009
DIN ISO 13067:2015 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2011)
DIN EN 15305:2009 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции; Немецкая версия EN 15305:2008.
DIN ISO 24173:2013-04 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN ISO 13067:2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN EN ISO 8130-13:2019 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (ISO 8130-13:2019)
DIN EN 12698-2:2007 Химический анализ огнеупоров из карбида кремния на нитридной связке. Часть 2. Методы рентгеноструктурного анализа. Английская версия DIN EN 12698-2:2007-06.
DIN ISO 24173:2013 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN 55912-2 Bb.2:1999 Пигменты - Пигменты диоксида титана - Методы анализа; построение калибровочного графика с помощью рентгенофлуоресцентного анализа
DIN EN ISO 8130-13:2011 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (ISO 8130-13:2001); Немецкая версия EN ISO 8130-13:2010.

GSO, Вторичный дифракционный анализ

GSO ISO 13320:2013 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции.
BH GSO ISO 13320:2016 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции.
OS GSO ISO 13320:2013 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции.
GSO ISO 16258-2:2021 Воздух на рабочем месте. Анализ вдыхаемого кристаллического кремнезема методом дифракции рентгеновских лучей. Часть 2. Метод непрямого анализа.
BH GSO ISO 16258-2:2022 Воздух на рабочем месте. Анализ вдыхаемого кристаллического кремнезема методом дифракции рентгеновских лучей. Часть 2. Метод непрямого анализа.
GSO ISO 8130-13:2015 Порошки для покрытий. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции
OS GSO ISO 8130-13:2015 Порошки для покрытий. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции
OS GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BH GSO ISO 25498:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO 16258-1:2021 Воздух на рабочем месте. Анализ вдыхаемого кристаллического кремнезема методом дифракции рентгеновских лучей. Часть 1. Метод прямого фильтра.
BH GSO ISO 16258-1:2022 Воздух на рабочем месте. Анализ вдыхаемого кристаллического кремнезема методом дифракции рентгеновских лучей. Часть 1. Метод прямого фильтра.
GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO 24173:2015 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
GSO ISO 13067:2015 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
OS GSO ISO 13067:2015 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
BH GSO ISO 17560:2016 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения глубинного профиля бора в кремнии.
OS GSO ISO 12406:2013 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования мышьяка в кремнии.
BH GSO ISO 13084:2016 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
OS GSO ISO 13084:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
GSO ISO 13084:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
GSO ISO 1104:2008 Поверхностно-активные вещества. Алкиларилсульфонаты натрия технические, за исключением производных бензола. Методы анализа.
BH GSO ISO 22048:2016 Химический анализ поверхности. Информационный формат для статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
GSO ISO 22048:2013 Химический анализ поверхности. Информационный формат для статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
OS GSO ISO 22048:2013 Химический анализ поверхности. Информационный формат для статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
GSO ISO 23830:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
BH GSO ISO 23830:2016 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
OS GSO ISO 23830:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
GSO ISO 17560:2013 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения глубинного профиля бора в кремнии.
GSO ISO 12406:2013 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования мышьяка в кремнии.
GSO ISO 14934-3:2013 Испытания на огнестойкость. Калибровка и использование измерителей теплового потока. Часть 3. Метод вторичной калибровки.
GSO ISO 13053-1:2015 Количественные методы улучшения процессов. Шесть сигм. Часть 1. Методология DMAIC.
BH GSO ISO 23812:2016 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод калибровки по глубине кремния с использованием эталонных материалов с несколькими дельта-слоями.
OS GSO ISO 23812:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод калибровки по глубине кремния с использованием эталонных материалов с несколькими дельта-слоями.

SCC, Вторичный дифракционный анализ

DANSK DS/ISO 13320:2020 Анализ размера частиц – методы лазерной дифракции
BS ISO 13320-1:1999 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции. Общие принципы.
DANSK DS/ISO 8130-13:2019 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции.
DANSK DS/EN 15305/AC:2009 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.
NS-EN 15305:2008 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.
NS-EN ISO 8130-13:2019 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (ISO 8130-13:2019)
NS-EN ISO 8130-13:2010 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (ISO 8130-13:2001)
DANSK DS/EN ISO 8130-13:2019 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (ISO 8130-13:2019)
ISO 17109:2015/DAmd 1 Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.
DIN EN ISO 8130-13 E:2018 Проект документа. Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (ISO/DIS 8130-13:2018); Немецкая и английская версия prEN ISO 8130-13:2018.
DIN ISO 24173 E:2012 Проект документа. Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
AENOR UNE-EN ISO 8130-13:2020 Порошковые покрытия. Часть 13: Гранулометрический анализ с использованием лазерной дифракции. (ИСО 8130-13:2019).
DIN ISO 13067 E:2021 Проект документа. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020); Текст на немецком и английском языках

工业和信息化部, Вторичный дифракционный анализ

YS/T 1178-2017 Рентгеноструктурный метод фазового анализа алюминиевого шлака
YB/T 172-2020 Рентгеноструктурный метод количественного фазового анализа силикатного кирпича
YS/T 1160-2016 Количественный фазовый анализ промышленного порошка кремнезема. Определение содержания кремнезема. Метод рентгеновской дифракции значения K.
YS/T 1344.3-2020 Методы химического анализа порошка оксида индия, легированного оловом. Часть 3. Метод рентгеноструктурного анализа для фазового анализа.

International Organization for Standardization (ISO), Вторичный дифракционный анализ

ISO 13320:2020 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции.
ISO 13320:2009 Анализ размера частиц - Методы лазерной дифракции
ISO 16258-2:2015 Воздух на рабочем месте. Анализ вдыхаемого кристаллического кремнезема методом рентгеновской дифракции. Часть 2. Метод непрямого анализа.
ISO/CD 23699 Микролучевой анализ. Дифракция обратно рассеянных электронов. Словарь
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/DIS 25498:2024 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO 13320-1:1999 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции. Часть 1. Общие принципы.
ISO 16258-1:2015 Воздух на рабочем месте. Анализ вдыхаемого кристаллического кремнезема методом рентгеновской дифракции. Часть 1. Метод прямого фильтра.
ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO 13084:2011 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
ISO 8130-13:2001 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции.
ISO 8130-13:2019 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции.
ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
ISO/DIS 24173:2023 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 12406:2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования мышьяка в кремнии.
ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
ISO 17560:2014 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии.
ISO 22048:2004 Химический анализ поверхности. Информационный формат для статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
ISO 13084:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.
ISO 20411:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод коррекции насыщенной интенсивности при динамическом масс-спектрометрии вторичных ионов с подсчетом одиночных ионов.
ISO 22415:2019 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод определения объема выхода при профилировании глубины аргонового кластерного распыления органических материалов.
ISO 178:1975 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
ISO 17862:2022 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
ISO 17862:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
ISO 178:2019 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Вторичный дифракционный анализ

YB/T 172-2000 Фазовый количественный анализ силикатного кирпича. Рентгеноструктурный метод.
YB/T 5320-2006 Рентгеноструктурный метод значения K для количественного фазового анализа металлических материалов
YB/T 5336-2006 Количественный анализ карбидной фазы в быстрорежущей стали методом рентгеновской дифракции

Association Francaise de Normalisation, Вторичный дифракционный анализ

NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 Воздух на рабочем месте. Анализ вдыхаемого кристаллического кремнезема методом рентгеновской дифракции. Часть 2: метод непрямого анализа.
NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ — рекомендации по измерению ориентации методом дифракции обратно рассеянных электронов
NF X11-666:1984 РАЗМЕР ЧАСТИЦ ПОРОШКОВ. ДИФРАКЦИОННЫЙ МЕТОД.
NF X21-014:2012 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
NF T30-499-13*NF EN ISO 8130-13:2019 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции.
NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 Воздух на рабочем месте. Анализ вдыхаемого кристаллического кремнезема методом рентгеновской дифракции. Часть 1: метод непосредственно на фильтре.
NF EN 15305:2009 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.
NF EN ISO 8130-13:2019 Порошки для нанесения покрытий. Часть 13: анализ размера частиц методом лазерной дифракции
NF T25-111-6:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 6. Анализ дифракции выбранной области.
NF ISO 16258-2:2015 Воздух на рабочем месте. Вдыхаемая фракция кристаллического кремнезема методом рентгеновской дифракции. Часть 2: косвенный метод анализа.
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
NF T25-111-3:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 3. Азимутальный анализ дифракции рентгеновских лучей.
NF ISO 16258-1:2015 Воздух на рабочих местах. Вдыхаемая фракция кристаллического кремнезема методом рентгеновской дифракции. Часть 1: метод прямого фильтрационного анализа.
NF T30-499-13:2011 Порошки для покрытия. Часть 13: анализ размера частиц методом лазерной дифракции.
NF A09-185*NF EN 15305:2009 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.
NF A09-285:1999 Неразрушающий контроль. Методы испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.
NF ISO 17560:2006 Химический анализ поверхностей. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Дозировка бора в кремнии методом профилирования толщины.
NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 Химический анализ огнеупоров из карбида кремния на нитридной связке. Часть 2: методы рентгеноструктурного анализа.
NF ISO 23830:2009 Химический анализ поверхностей. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительных интенсивностей в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
NF ISO 14237:2010 Химический анализ поверхностей. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомов бора в кремнии с использованием однородно легированных материалов.

American National Standards Institute （ANSI), Вторичный дифракционный анализ

ANSI/HPS N43.2-2021 Радиационная безопасность оборудования для рентгеноструктурного и флуоресцентного анализа
ANSI N43.2-2001 Радиационная безопасность оборудования для рентгеноструктурного и флуоресцентного анализа

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Вторичный дифракционный анализ

GB/T 36923-2018 Идентификация жемчужного порошка — рентгеноструктурный анализ.
GB/T 41076-2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
GB/T 40407-2021 Метод рентгеноструктурного анализа для определения фаз в портландцементном клинкере
GB/T 40129-2021 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
GB/T 40109-2021 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод глубинного профиля бора в кремнии.
GB/T 20724-2021 Микролучевой анализ - метод измерения толщины тонких кристаллов методом дифракции электронов сходящимся пучком.
GB/T 41064-2021 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Вторичный дифракционный анализ

GB/T 34172-2017 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Метод фазового анализа металла и сплава.

Standard Association of Australia （SAA）, Вторичный дифракционный анализ

AS 4863.1:2000 Анализ размера частиц. Методы лазерной дифракции. Общие принципы.

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Вторичный дифракционный анализ

GBZ 115-2002 Радиологические стандарты для оборудования рентгеноструктурного и флуоресцентного анализа.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Вторичный дифракционный анализ

DB44/T 1078-2012 Метод лазерной дифракции для гранулометрического анализа керамического сырья

ES-UNE, Вторичный дифракционный анализ

UNE-EN ISO 8130-13:2020 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (ISO 8130-13:2019)

CEN - European Committee for Standardization, Вторичный дифракционный анализ

EN ISO 8130-13:2019 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции.

European Committee for Standardization (CEN), Вторичный дифракционный анализ

EN ISO 8130-13:2010 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (ISO 8130-13:2001)
EN 12698-2:2007 Химический анализ огнеупоров из карбида кремния на нитридной связке. Часть 2. Методы рентгеноструктурного анализа.
EN 15305:2008 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.

RU-GOST R, Вторичный дифракционный анализ

GOST R ISO 16258-1-2017 Воздух на рабочем месте. Анализ вдыхаемого кристаллического кремнезема методом рентгеновской дифракции. Часть 1. Метод прямого фильтра.
GOST R ISO 13067-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна

Professional Standard - Petroleum, Вторичный дифракционный анализ

SY/T 5163-1995 Метод рентгеноструктурного анализа относительного содержания глинистых минералов в осадочных породах
SY/T 5163-2010 Метод анализа глинистых минералов и обычных неглинистых минералов в осадочных породах методом рентгеновской дифракции.
SY/T 6210-1996 Рентгеноструктурный метод количественного анализа суммы глинистых минералов и распространенных неглинистых минералов в осадочных породах

Lithuanian Standards Office , Вторичный дифракционный анализ

LST EN 15305-2008 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.
LST EN 15305-2008/AC-2009 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.
LST EN ISO 8130-13:2011 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (ISO 8130-13:2001)

AENOR, Вторичный дифракционный анализ

UNE-EN 15305:2010 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для анализа остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции.
UNE-EN ISO 8130-13:2011 Порошки для покрытия. Часть 13. Анализ размера частиц методом лазерной дифракции (ISO 8130-13:2001)

Professional Standard - Electricity, Вторичный дифракционный анализ

DL/T 1151.22-2012 Аналитические методы накипи и продуктов коррозии на электростанциях. Часть 22. Стандартные методы испытаний рентгенофлуоресцентной спектрометрии и рентгеновской дифракции.

Professional Standard - Customs, Вторичный дифракционный анализ

HS/T 12-2006 Количественный анализ смешанной фазы талька, хлорита, магнезита. Метод рентгеновской дифрактометрии.

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Вторичный дифракционный анализ

ASHRAE CI-01-2-1-2001 Анализ среднетемпературной холодильной системы вторичного контура

American Society for Testing and Materials (ASTM), Вторичный дифракционный анализ

ASTM E3294-22 Стандартное руководство по судебно-медицинскому анализу геологических материалов методом порошковой рентгеновской дифракции
ASTM E3340-22 Стандартное руководство по разработке методов лазерного дифракционного анализа размера частиц порошковых материалов
ASTM UOP709-70 Газовый анализ методом газовой хроматографии с использованием двухинъекционного метода
ASTM E3294-23 Стандартное руководство по судебно-медицинскому анализу геологических материалов методом порошковой рентгеновской дифракции
ASTM D5380-93(2003) Стандартный метод определения кристаллических пигментов и наполнителей в краске методом рентгеноструктурного анализа
ASTM D5380-93(2021) Стандартный метод определения кристаллических пигментов и наполнителей в краске методом рентгеноструктурного анализа
ASTM C1365-06(2011) Стандартный метод определения соотношения фаз в портландцементе и портландцементном клинкере с использованием рентгеноструктурного анализа
ASTM C1365-06 Стандартный метод определения соотношения фаз в портландцементе и портландцементном клинкере с использованием рентгеноструктурного анализа
ASTM C1365-98 Стандартный метод определения соотношения фаз в портландцементе и портландцементном клинкере с использованием рентгеноструктурного анализа
ASTM C1365-98(2004) Стандартный метод определения соотношения фаз в портландцементе и портландцементном клинкере с использованием рентгеноструктурного анализа
ASTM C1365-18 Стандартный метод определения соотношения фаз в портландцементе и портландцементном клинкере с использованием рентгеноструктурного анализа

国家能源局, Вторичный дифракционный анализ

SY/T 5163-2018 Метод рентгеноструктурного анализа глинистых минералов и распространенных неглинистых минералов осадочных пород.

Professional Standard - Petrochemical Industry, Вторичный дифракционный анализ

SH/T 1612.8-2005 Очищенная терефталевая кислота для промышленного использования. Определение распределения частиц по размерам. Метод лазерной дифракции.

Professional Standard - Education, Вторичный дифракционный анализ

JY/T 0588-2020 Общие правила определения кристаллической и молекулярной структуры низкомолекулярных соединений методом рентгеновской дифракции монокристаллов
JY/T 008-1996 Общие правила определения кристаллической и молекулярной структуры низкомолекулярных соединений с помощью четырехкружного монокристаллического рентгеновского дифрактометра

International Telecommunication Union (ITU), Вторичный дифракционный анализ

ITU-R BT.1122-2011 Требования пользователей к кодекам для систем передачи и вторичного распределения SDTV и HDTV
ITU-R BT.1122-1 FRENCH-1995 Требования пользователей к системам излучения и вторичного распределения для SDTV, HDTV и схем иерархического кодирования. Рекомендации для пользователей для систем передачи и вторичного распределения TVDN, TVHD и архитектурных схем кодирования.
ITU-R BT.1122-1-1995 Требования пользователей к системам излучения и вторичного распределения для SDTV, HDTV и схем иерархического кодирования

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Вторичный дифракционный анализ

ITU-R BT.1122-1994 Требования пользователей к системам излучения и вторичного распределения для SDTV@ HDTV и схем иерархического кодирования
ITU-R BT.1122-3-2019 Требования пользователей к кодекам для систем излучения и вторичного распределения для SDTV@ HDTV@ UHDTV и HDR-TV

AIAG - Automotive Industry Action Group, Вторичный дифракционный анализ

MSA ERTA-2010 Анализ систем измерения (MSA) — Список ошибок (четвертое издание; второе издание; Список ошибок к MSA-4)

国家广播电影电视总局, Вторичный дифракционный анализ

GY/T 287-2014 Технические требования к кодированию и декодированию сигналов цифрового телевидения при передаче и вторичном распространении

Professional Standard - Aerospace, Вторичный дифракционный анализ

QJ 962-1986 材料测试

Professional Standard - Electron, Вторичный дифракционный анализ

SJ/T 10553-2021 Метод эмиссионного спектрохимического анализа примесей в ZrO2 для использования в электронной керамике
SJ/T 10552-2021 Метод эмиссионного спектрохимического анализа примесей в TiO2 для использования в электронной керамике
SJ/T 10552-1994 Метод эмиссионного спектрохимического анализа примесей в TiO2 для использования в электронной керамике
SJ/T 10553-1994 Метод эмиссионного спектрохимического анализа примесей в ZrO2 для использования в электронной керамике
SJ/T 10551-1994 Метод эмиссионного спектрохимического анализа примесей в АЛ203 для использования в электронной керамике
SJ/T 10551-2021 Измерение эмиссионного спектрального анализа оксида алюминия, используемого в электронной керамике.