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二次衍射分析

本专题涉及二次衍射分析的标准有224条。

国际标准分类中，二次衍射分析涉及到分析化学、粒度分析、筛分、有色金属、耐火材料、空气质量、化工产品、词汇、半导体材料、辐射防护、无机化学、光学设备、光学和光学测量、职业安全、工业卫生、陶瓷、建筑材料、涂料和清漆、无损检测、电站综合、非金属矿、有机化学、教育、涂料配料、橡胶和塑料用原料、电视播放和无线电广播、音频、视频和视听工程、无线通信。

在中国标准分类中，二次衍射分析涉及到化学试剂综合、粉末冶金分析方法、物性分析仪器、筛分、筛板与筛网、轻金属及其合金分析方法、基础标准与通用方法、物理学与力学、硅质耐火材料、耐火材料综合、工业防尘防毒技术、化妆品、金属无损检验方法、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、通用核仪器、放大镜与显微镜、放射卫生防护、无机盐、重金属及其合金分析方法、电子光学与其他物理光学仪器、综合技术、、无机化工原料综合、水泥、涂料、颜料、生产环境安全卫生设施、涂料基础标准与通用方法、大气环境有毒害物质分析方法、金相检验方法、石油地质勘探、电力试验技术、非金属矿、氧化物、单质、一般有机化工原料、电化学、热化学、光学式分析仪器、教学专用仪器、有色金属矿综合、教育、学位、学衔、化学助剂基础标准与通用方法、炭黑、节目传输、水泥混合材与外加剂、通信网编号、信号、接续、混凝土、集料、灰浆、砂浆、电子技术专用材料、稀有高熔点金属及其合金。


PT-IPQ，关于二次衍射分析的标准

韩国科技标准局，关于二次衍射分析的标准

国家质检总局，关于二次衍射分析的标准

  • GB/T 19077.1-2003 粒度分析 激光衍射法
  • GB/T 19077-2016 粒度分析 激光衍射法
  • GB/T 19501-2013 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则
  • GB/T 19501-2004 电子背散射衍射分析方法通则
  • GB/T 30703-2014 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则
  • GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
  • GB 16355-1996 X射线衍射仪和荧光分析仪放射防护标准
  • GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
  • GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
  • GB/T 19077.1-2008 粒度分析.激光衍射法.第1部分:通则
  • GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法
  • GB/T 21782.13-2009 粉末涂料.第13部分:激光衍射法分析粒度
  • GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
  • GB/T 6609.32-2009 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法.第32部分:α-三氧化二铝含量的测定.X-射线衍射法
  • GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
  • GB/T 32698-2016 橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅粒度分布的测定 激光衍射法
  • GB/T 26019-2010 高杂质钨矿化学分析方法 三氧化钨量的测定 二次分离灼烧重量法

KR-KS，关于二次衍射分析的标准

日本工业标准调查会，关于二次衍射分析的标准

  • JIS Z 8825:2013 粒度分析.激光衍射法
  • JIS Z 8825:2022 粒度分析 激光衍射法
  • JIS K 0131:1996 X射线衍射计测量分析的通用规则
  • JIS Z 8825-1:2001 粒度分析.激光衍射法.第1部分:一般原理
  • JIS K 0164:2023 表面化学分析二次离子质谱硅中硼深度分析方法
  • JIS K 0157:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 渡越时间二次离子质谱仪的质量标度的校准
  • JIS A 1481-3:2014 建筑材料产品中石棉的测定.第3部分:X-射线衍射法对含有石棉的定量分析
  • JIS K 0168:2011 表面化学分析.静态二次离子质谱法用信息格式
  • JIS K 0158:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 单离子计数动态二次离子质谱法中饱和强度的校正方法
  • JIS K 0153:2015 表面化学分析. 二次离子质谱法. 静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性
  • JIS K 5600-9-3:2006 涂料的试验方法.第9部分:涂料粉末.第3节:用激光衍射进行粒度分析
  • JIS A 1481-3 AMD 1:2022 建筑材料产品中石棉的测定. 第3部分: X-射线衍射法对含有石棉的定量分析(修改件1)
  • JIS K 0155:2018 表面化学分析 二次离子质谱法 单离子计数时间飞行质量分析仪中强度刻度的线性度

丹麦标准化协会，关于二次衍射分析的标准

英国标准学会，关于二次衍射分析的标准

  • BS ISO 13320:2020 粒度分析 激光衍射法
  • BS ISO 13320:2010 粒度分析 激光衍射方法
  • BS ISO 13320:2009 粒度分析.激光衍射方法
  • 19/30333249 DC BS ISO 13320 粒度分析 激光衍射法
  • BS ISO 13320-1:2000 粒度分析.激光衍射方法.一般规则
  • BS ISO 25498:2018 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
  • BS EN ISO 8130-13:2010 粉末涂料.采用激光衍射的粒度分析
  • BS EN ISO 8130-13:2001 粉末涂料 采用激光衍射的粒度分析
  • BS ISO 16258-2:2015 工作场所空气. 使用X射线衍射法分析可吸入石英. 间接分析法
  • BS EN ISO 8130-13:2019 涂料粉末 通过激光衍射进行粒度分析
  • BS ISO 13067:2011 微光束分析.背散射电子衍射.平均颗粒粒度测量
  • BS ISO 13067:2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测量
  • BS EN 15305:2008(2009) 无损检测 X 射线衍射残余应力分析的试验方法
  • BS ISO 13084:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
  • BS ISO 23749:2022 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量测定
  • BS EN 15305:2008 无损检验.使用X射线衍射分析剩余应力的试验方法
  • BS ISO 24173:2009 微束分析.使用电子反向散射体衍射的方位测量准则
  • BS ISO 24173:2024 微束分析 使用电子背散射衍射进行取向测量的指南
  • BS ISO 22415:2019 表面化学分析 二次离子质谱分析 有机材料氩簇溅射深度剖析中产量体积的测定方法
  • BS ISO 20411:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数动态二次离子质谱饱和强度校正方法
  • BS ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
  • 19/30365236 DC BS ISO 13067 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测量
  • BS ISO 12406:2010 表面化学分析.二次离子质谱分析法.硅中砷的深度剖析法
  • 21/30398224 DC BS ISO 23749 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量测定
  • BS EN 12698-2:2007 和碳化硅耐熔制品结合的氮化物的化学分析.射线衍射(XRD)法
  • 23/30435799 DC BS ISO 24173 微束分析 使用电子背散射衍射进行取向测量的指南
  • BS ISO 23703:2022 微束分析 通过电子背散射衍射（EBSD）评估奥氏体不锈钢机械损伤的取向差分析指南
  • BS ISO 16258-1:2015 工作场所空气. 使用X射线衍射法分析可吸入石英. 直接过滤法
  • BS ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱.飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准
  • BS 3900-J13:2001 涂料的试验方法.涂覆粉试验.用激光衍射法分析粒径
  • BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法
  • 21/30395106 DC BS ISO 23703 微束分析 通过电子背散射衍射(EBSD)评估奥氏体不锈钢机械损伤的取向差分析指南
  • BS ISO 22048:2004 表面化学分析 静态二次离子质谱的信息格式
  • BS ISO 22048:2004(2005) 表面化学分析静态二次离子质谱的信息格式
  • BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • BS ISO 17862:2022 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • 20/30409963 DC BS ISO 17862 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性

未注明发布机构，关于二次衍射分析的标准

德国标准化学会，关于二次衍射分析的标准

工业和信息化部，关于二次衍射分析的标准

  • YS/T 1178-2017 铝渣物相分析X射线衍射法
  • YB/T 172-2020 硅砖定量相分析 X射线衍射法
  • YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
  • YS/T 1344.3-2020 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分：物相分析 X射线衍射分析法

国际标准化组织，关于二次衍射分析的标准

  • ISO 13320:2020 粒度分析 - 激光衍射方法
  • ISO 13320:2009 颗粒细度分析.激光衍射法
  • ISO 16258-2:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第2部分: 间接分析法
  • ISO/CD 23699 微束分析 — 电子背散射电子衍射 — 词汇
  • ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
  • ISO 13067:2011 微光束分析.电子反向散射衍射.平均粒度测量
  • ISO 13320-1:1999 粒度分析 激光衍射法 第1部分:一般原则
  • ISO 16258-1:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第1部分: 直接过滤法
  • ISO 23749:2022 微束分析.电子背散射衍射.钢中奥氏体的定量测定
  • ISO 13067:2020 微束分析 - 电子反向散射衍射 - 平均晶粒尺寸的测量
  • ISO 8130-13:2001 粉末涂料 第13部分：采用激光衍射的粒度分析
  • ISO 8130-13:2019 涂层粉末 - 第13部分:通过激光衍射的粒度分析
  • ISO 24173:2009 微光束分析.用电子背散射衍射进行定向测量的指南
  • ISO/DIS 24173:2023 微束分析 使用电子背散射衍射进行取向测量的指南
  • ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱分析法.飞行时间二次离子质谱仪用质量标度的校准
  • ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
  • ISO 25498:2018 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
  • ISO 12406:2010 表面化学分析.二次离子质谱分析法.硅中砷的深度剖析法
  • ISO 23703:2022 微束分析.用电子背散射衍射（EBSD）评估奥氏体不锈钢机械损伤的取向分析指南
  • ISO 17560:2014 表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 硅在硅中深度分析的方法
  • ISO 22048:2004 表面化学分析——静态二次离子质谱信息格式
  • ISO 13084:2018 表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 用于飞行时间二次离子质谱仪的质谱的校准
  • ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • ISO 20411:2018 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数动态二次离子光谱法中饱和强度的校正方法
  • ISO 22415:2019 表面化学分析.二次离子质谱法.有机材料氩团簇溅射深度剖面测定屈服体积的方法
  • ISO 178:1975 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • ISO 17862:2022 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • ISO 17862:2013 表面化学分析——二次离子质谱法——单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • ISO 178:2019 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性

行业标准-黑色冶金，关于二次衍射分析的标准

美国国家标准学会，关于二次衍射分析的标准

法国标准化协会，关于二次衍射分析的标准

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于二次衍射分析的标准

  • GB/T 36923-2018 珍珠粉鉴别方法 X射线衍射分析法
  • GB/T 41076-2021 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析
  • GB/T 40407-2021 硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法
  • GB/T 40129-2021 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准
  • GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法
  • GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
  • GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于二次衍射分析的标准

  • GB/T 34172-2017 微束分析 电子背散射衍射 金属及合金的相分析方法

澳大利亚标准协会，关于二次衍射分析的标准

卫生部国家职业卫生标准，关于二次衍射分析的标准

  • GBZ 115-2002 X射线衍射和荧光分析仪卫生防护标准

广东省标准，关于二次衍射分析的标准

ES-UNE，关于二次衍射分析的标准

CEN - European Committee for Standardization，关于二次衍射分析的标准

欧洲标准化委员会，关于二次衍射分析的标准

  • EN ISO 8130-13:2010 粉末涂料.采用激光衍射的粒度分析
  • EN 12698-2:2007 氮化物结合碳化硅耐火材料的化学分析.第2部分:X射线衍射(XRD)法
  • EN 15305:2008 无损检验.使用X射线衍射分析剩余应力的试验方法.合并勘误表-2009年1月

RU-GOST R，关于二次衍射分析的标准

  • GOST R ISO 16258-1-2017 工作场所空气 通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅 第 1 部分. 直接过滤法
  • GOST R ISO 13067-2016 确保测量一致性的国家系统. 微束分析. 电子背散射衍射. 平均粒度的测量

行业标准-石油，关于二次衍射分析的标准

  • SY/T 5163-1995 沉积岩粘土矿物相对含量X射线衍射分析方法
  • SY/T 5163-2010 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法
  • SY/T 6210-1996 沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物X射线衍射定量分析方法

立陶宛标准局，关于二次衍射分析的标准

AENOR，关于二次衍射分析的标准

行业标准-电力，关于二次衍射分析的标准

  • DL/T 1151.22-2012 火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法.第22部分：X-射线荧光光谱和X-射线衍射分析

行业标准-海关，关于二次衍射分析的标准

  • HS/T 12-2006 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X 射线衍射仪法

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc.，关于二次衍射分析的标准

美国材料与试验协会，关于二次衍射分析的标准

  • ASTM E3294-22 用粉末X射线衍射法对地质材料进行法医分析的标准指南
  • ASTM E3340-22 粉末材料激光衍射粒度分析方法发展的标准指南
  • ASTM E3294-23 用粉末X射线衍射法对地质材料进行法医学分析的标准指南
  • ASTM UOP709-70 使用二次进样技术的气相色谱分析气体
  • ASTM D5380-93(2003) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
  • ASTM D5380-93(2021) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
  • ASTM C1365-06(2011) 用X射线粉末衍射分析法测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣阶段比的标准试验方法
  • ASTM C1365-06 用X射线粉末衍射分析法测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣阶段比的标准试验方法
  • ASTM C1365-98 用X射线粉末衍射分析测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣的阶段比例的标准试验方法
  • ASTM C1365-98(2004) 用X射线粉末衍射分析测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣的阶段比例的标准试验方法

国家能源局，关于二次衍射分析的标准

  • SY/T 5163-2018 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法

行业标准-石油化工，关于二次衍射分析的标准

  • SH/T 1612.8-2005 工业用精对苯二甲酸粒度分布的测定.激光衍射法

行业标准-教育，关于二次衍射分析的标准

  • JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
  • JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

国际电信联盟，关于二次衍射分析的标准

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector，关于二次衍射分析的标准

  • ITU-R BT.1122-1994 SDTV HDTV 和分层编码方案的发射和二次分配系统的用户要求
  • ITU-R BT.1122-3-2019 SDTV HDTV UHDTV 和 HDR-TV 发射和二次分配系统编解码器的用户要求

AIAG - Automotive Industry Action Group，关于二次衍射分析的标准

  • MSA ERTA-2010 测量系统分析（MSA） 勘误表（第四版；第二次印刷；MSA-4 勘误表）

国家广播电影电视总局，关于二次衍射分析的标准

  • GY/T 287-2014 数字电视信号在发射和二次分配时的编解码技术要求

行业标准-航天，关于二次衍射分析的标准

  • QJ 962-1986 二氧化锆立方相(稳定相)含量的Ｘ射线分析方法

行业标准-电子，关于二次衍射分析的标准

  • SJ/T 10553-2021 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10552-2021 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10552-1994 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10553-1994 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法

二次衍射分析，二次衍射 衍射点，衍射 二次，二次衍射，电子衍射 二次衍射，电子衍射二次衍射，二次衍射,电子衍射，衍射 分析，衍射分析，电子二次衍射，二次衍射 英文，二次衍射峰，二次衍射现象，晶体二次衍射，二次衍射 透射，透射 二次衍射，二次电子衍射分析，一次衍射二次衍射，x射线衍射 衍射 分析，衍射 分析 光谱 分析。

 

可能用到的仪器设备

 

普析XD2/3型多晶X射线衍射仪

普析XD2/3型多晶X射线衍射仪

北京普析通用仪器有限责任公司

 

普析XRDX射线衍射仪 XD7系列

普析XRDX射线衍射仪 XD7系列

北京普析通用仪器有限责任公司

 

普析多晶X射线衍射仪 XD-6/7系列

普析多晶X射线衍射仪 XD-6/7系列

北京普析通用仪器有限责任公司

 

X射线衍射仪 XRD-6100型

X射线衍射仪 XRD-6100型

岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司

 

岛津X射线衍射仪XRD-6000

岛津X射线衍射仪XRD-6000

岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司

 

 



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