Sekundärbeugungsanalyse

Für die Sekundärbeugungsanalyse gibt es insgesamt 223 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Sekundärbeugungsanalyse die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Partikelgrößenanalyse, Screening, Nichteisenmetalle, Feuerfeste Materialien, Luftqualität, Chemikalien, Wortschatz, Halbleitermaterial, Strahlenschutz, Anorganische Chemie, Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Arbeitssicherheit, Arbeitshygiene, Keramik, Baumaterial, Farben und Lacke, Zerstörungsfreie Prüfung, Kraftwerk umfassend, nichtmetallische Mineralien, organische Chemie, erziehen, Zutaten für die Farbe, Rohstoffe für Gummi und Kunststoffe, Fernsehsendungen und Radiosendungen, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Drahtlose Kommunikation.

PT-IPQ, Sekundärbeugungsanalyse

E E 14-1971 Röntgenbeugungsanalyse

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Sekundärbeugungsanalyse

KS M 0043-2009 Allgemeine Regeln für die röntgendiffraktometrische Analyse
KS A ISO 13320:2022 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden
KS M 0043-2009(2019) Allgemeine Regeln für die röntgendiffraktometrische Analyse
KS A ISO 13320-2014(2019) Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden
KS A ISO 13320:2014 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden
KS A ISO 13320-1-2004(2009) Partikelgrößenanalyse Laserbeugungsmethoden – Teil 1 Allgemeine Grundsätze
KS M ISO 8130-13:2008 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse durch Laserbeugung
KS M ISO 8130-13:2019 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
KS A ISO 13320-1:2004 Partikelgrößenanalyse Laserbeugungsmethoden – Teil 1 Allgemeine Grundsätze
KS A ISO 13320-1:2014 Partikelgrößenanalyse Laserbeugungsmethoden – Teil 1 Allgemeine Grundsätze
KS D ISO 17560-2003(2018) Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Messung der Bor-Tiefenverteilung in Silizium
KS E 3076-2002 Methoden zur röntgenfluoreszenzspektrometrischen Analyse von Quarzstein und Quarzsand
KS D ISO 22048-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformat für die statische Sekundärionen-Massenspektrometrie
KS D ISO 14237-2003(2018) Analyse der Oberflächengeometrie – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Messung der Konzentration gleichmäßig in Silizium zugesetzter Boratome

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Sekundärbeugungsanalyse

GB/T 19077.1-2003 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethode
GB/T 19077-2016 Partikelgrößenanalyse.Laserbeugungsmethoden
GB/T 19501-2013 Mikrostrahlanalyse. Allgemeiner Leitfaden für die Analyse der Elektronenrückstreubeugung
GB/T 19501-2004 Allgemeiner Leitfaden für die Analyse der Elektronenrückstreubeugung
GB/T 30703-2014 Mikrostrahlanalyse. Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
GB/T 18907-2013 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Selektierte Elektronenbeugungsanalyse unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
GB 16355-1996 Strahlenschutznormen für Röntgenbeugungs- und Fluoreszenzanalysegeräte
GB/T 19421.1-2003 Testmethoden für kristallines schichtförmiges Natriumdisilikat – Qualitative Analyse von deltakristallinem schichtförmigem Natriumdisilikat – Methode des Röntgendiffraktometers
GB/T 18907-2002 Methode der Elektronenbeugung ausgewählter Flächen für Transmissionselektronenmikroskope
GB/T 19077.1-2008 Partikelgrößenanalyse.Laserbeugungsmethoden.Teil 1:Allgemeine Prinzipien
GB/T 30904-2014 Anorganische Chemikalien für den industriellen Einsatz. Kristallformanalyse. Röntgenbeugungsmethode
GB/T 21782.13-2009 Beschichtungspulver. Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
GB/T 38532-2020 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße
GB/T 6609.32-2009 Chemische Analysemethoden und Bestimmung der physikalischen Leistung von Aluminiumoxid. Teil 32: Bestimmung des a-Aluminiumoxidgehalts durch Röntgenbeugung
GB/T 32495-2016 Chemische Oberflächenanalyse.Sekundärionen-Massenspektrometrie.Methode zur Tiefenprofilierung von Arsen in Silizium
GB/T 32698-2016 Bestandteile der Kautschukmischung.Bestimmung der Partikelgrößenverteilung für Kieselsäure, gefällt, hydratisiert.Laserbeugung
GB/T 26019-2010 Methoden zur chemischen Analyse von stark verunreinigten Wolframmineralien. Bestimmung des Wolframtrioxidgehalts. Zweifache Trennung und gravimetrische Zündmethode

KR-KS, Sekundärbeugungsanalyse

KS A ISO 13320-2022 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden
KS M ISO 8130-13-2019 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
KS D ISO 17560-2003(2023) Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Messung der Bor-Tiefenverteilung in Silizium
KS D ISO 14237-2003(2023) Analyse der Oberflächengeometrie – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Messung der Konzentration gleichmäßig in Silizium zugesetzter Boratome

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Sekundärbeugungsanalyse

JIS Z 8825:2013 Partikelgrößenanalyse.Laserbeugungsmethoden
JIS Z 8825:2022 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden
JIS K 0131:1996 Allgemeine Regeln für die röntgendiffraktometrische Analyse
JIS Z 8825-1:2001 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden – Teil 1: Allgemeine Prinzipien
JIS K 0164:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Bor in Silizium
JIS K 0157:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
JIS A 1481-3:2014 Bestimmung von Asbest in Baustoffprodukten – Teil 3: Quantitative Analyse des Asbestgehalts mittels Röntgenbeugungsverfahren
JIS K 0168:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformat für statische Sekundärionen-Massenspektrometrie
JIS K 0158:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Korrekturmethode für gesättigte Intensität in der dynamischen Sekundärionen-Massenspektrometrie mit Einzelionenzählung
JIS K 0153:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Wiederholbarkeit und Konstanz der relativen Intensitätsskala in der statischen Sekundärionen-Massenspektrometrie
JIS K 5600-9-3:2006 Prüfverfahren für Lacke – Teil 9: Beschichtungspulver – Abschnitt 3: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
JIS A 1481-3 AMD 1:2022 Bestimmung von Asbest in Baustoffprodukten – Teil 3: Quantitative Analyse des Asbestgehalts mittels Röntgenbeugungsverfahren (Änderung 1)
JIS K 0155:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Linearität der Intensitätsskala in Zeitflug-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung

Danish Standards Foundation, Sekundärbeugungsanalyse

DS/ISO 13320:2009 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden
DS/EN ISO 8130-13:2011 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
DS/EN 15305/AC:2009 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung
DS/EN 15305:2008 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung

British Standards Institution (BSI), Sekundärbeugungsanalyse

BS ISO 13320:2020 Partikelgrößenanalyse. Laserbeugungsmethoden
BS ISO 13320:2010 Partikelgrößenanalyse. Laserbeugungsmethoden
BS ISO 13320:2009 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden
19/30333249 DC BS ISO 13320. Partikelgrößenanalyse. Laserbeugungsmethoden
BS ISO 13320-1:2000 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden – Allgemeine Prinzipien
BS ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
BS EN ISO 8130-13:2010 Beschichtungspulver. Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
BS EN ISO 8130-13:2001 Beschichtungspulver. Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
BS ISO 16258-2:2015 Luft am Arbeitsplatz. Analyse von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure mittels Röntgenbeugung. Methode durch indirekte Analyse
BS EN ISO 8130-13:2019 Beschichtungspulver. Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
BS ISO 13067:2011 Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße
BS ISO 13067:2020 Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße
BS ISO 13084:2018 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
BS ISO 23749:2022 Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
BS EN 15305:2008 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung
BS ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
BS ISO 22415:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Methode zur Bestimmung des Ausbeutevolumens bei der Tiefenprofilierung organischer Materialien durch Argon-Cluster-Sputtern
BS ISO 20411:2018 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Korrekturmethode für die Sättigungsintensität in der dynamischen Sekundärionen-Massenspektrometrie mit Einzelionenzählung
BS ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
19/30365236 DC BS ISO 13067. Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße
BS ISO 12406:2010 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Methode zur Tiefenprofilierung von Arsen in Silizium
21/30398224 DC BS ISO 23749. Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
BS EN 12698-2:2007 Chemische Analyse von feuerfesten Materialien aus nitridgebundenem Siliciumcarbid – XRD-Methoden
23/30435799 DC BS ISO 24173. Mikrostrahlanalyse. Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
BS ISO 23703:2022 Mikrostrahlanalyse. Richtlinien für die Fehlorientierungsanalyse zur Beurteilung mechanischer Schäden an austenitischem Edelstahl durch Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
BS ISO 16258-1:2015 Luft am Arbeitsplatz. Analyse von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure mittels Röntgenbeugung. Direct-on-Filter-Methode
BS ISO 13084:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
BS 3900-J13:2001 Prüfmethoden für Lacke - Prüfung von Beschichtungspulvern - Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
BS ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputter-Dept-Profiling unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen dünnen…
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputtertiefenprofilierung mithilfe von Einzel- und…
21/30395106 DC BS ISO 23703. Mikrostrahlanalyse. Leitfaden für die Fehlorientierungsanalyse zur Beurteilung der mechanischen Schädigung von austenitischem Edelstahl durch Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
BS ISO 22048:2004 Chemische Oberflächenanalyse. Informationsformat für die statische Sekundärionen-Massenspektrometrie
BS ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
BS ISO 17862:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
20/30409963 DC BS ISO 17862. Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung

未注明发布机构, Sekundärbeugungsanalyse

DIN ISO 13320 E:2022-05 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden
BS EN 15305:2008(2009) Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfmethode für die Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung
DIN ISO 13067 E:2021-01 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße
DIN EN ISO 8130-13 E:2018-04 Powder coatings Part 13: Particle size analysis by laser diffraction (draft)
BS ISO 22048:2004(2005) Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformat für statische Sekundärionen-Massenspektrometrie

German Institute for Standardization, Sekundärbeugungsanalyse

DIN ISO 13320:2022-12 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden (ISO 13320:2020)
DIN ISO 13320:2022 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden (ISO 13320:2020)
DIN EN ISO 8130-13:2019-08 Beschichtungspulver - Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung (ISO 8130-13:2019); Deutsche Fassung EN ISO 8130-13:2019
DIN 55912-2 Bb.1:1999 Pigmente – Titandioxidpigmente; Analysemethoden - Beispiele für die Anwendung der Röntgenfluoreszenzanalyse zur Bestimmung von Nebenbestandteilen
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 Zerstörungsfreie Prüfung - Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung; Deutsche Fassung EN 15305:2008, Berichtigung zu DIN EN 15305:2009-01; Deutsche Fassung EN 15305:2008/AC:2009
DIN ISO 13067:2021-08 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße (ISO 13067:2020)
DIN EN 15305:2009-01 Zerstörungsfreie Prüfung - Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung; Deutsche Fassung EN 15305:2008
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung; Deutsche Fassung EN 15305:2008, Berichtigung zu DIN EN 15305:2009-01; Deutsche Fassung EN 15305:2008/AC:2009
DIN ISO 13067:2015 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße (ISO 13067:2011)
DIN EN 15305:2009 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung; Deutsche Fassung EN 15305:2008
DIN ISO 24173:2013-04 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung (ISO 24713:2009)
DIN ISO 13067:2021 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße (ISO 13067:2020)
DIN EN ISO 8130-13:2019 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung (ISO 8130-13:2019)
DIN EN 12698-2:2007 Chemische Analyse von feuerfesten Materialien aus nitridgebundenem Siliciumcarbid - Teil 2: XRD-Methoden Englische Fassung von DIN EN 12698-2:2007-06
DIN ISO 24173:2013 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung (ISO 24713:2009)
DIN 55912-2 Bb.2:1999 Pigmente - Titandioxidpigmente - Analysemethoden; Erstellen einer Kalibrierungskurve mithilfe der Röntgenfluoreszenzanalyse
DIN EN ISO 8130-13:2011 Beschichtungspulver - Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung (ISO 8130-13:2001); Deutsche Fassung EN ISO 8130-13:2010

工业和信息化部, Sekundärbeugungsanalyse

YS/T 1178-2017 Röntgenbeugungsmethode zur Phasenanalyse der Aluminiumschlacke
YB/T 172-2020 Quantitative Phasenanalyse von Quarzsteinen mittels Röntgenbeugungsmethode
YS/T 1160-2016 Quantitative Phasenanalyse von industriellem Siliciumpulver. Bestimmung des Siliciumdioxidgehalts. Röntgenbeugungs-K-Wert-Methode
YS/T 1344.3-2020 Chemische Analysemethode von Zinn-dotiertem Indiumoxidpulver Teil 3: Phasenanalyse-Röntgenbeugungsanalysemethode

International Organization for Standardization (ISO), Sekundärbeugungsanalyse

ISO 13320:2020 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden
ISO 13320:2009 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden
ISO 16258-2:2015 Luft am Arbeitsplatz – Analyse von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure mittels Röntgenbeugung – Teil 2: Methode der indirekten Analyse
ISO/CD 23699 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreuungselektronenbeugung – Vokabular
ISO/CD 25498:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 13067:2011 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße
ISO 13320-1:1999 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden – Teil 1: Allgemeine Grundlagen
ISO 16258-1:2015 Luft am Arbeitsplatz – Analyse von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure mittels Röntgenbeugung – Teil 1: Direkt-auf-Filter-Methode
ISO 23749:2022 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
ISO 13067:2020 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße
ISO 8130-13:2001 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
ISO 8130-13:2019 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
ISO/DIS 24173:2023 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
ISO 13084:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 12406:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Arsen in Silizium
ISO 23703:2022 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Fehlorientierungsanalyse zur Beurteilung mechanischer Schäden an austenitischem Edelstahl durch Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
ISO 17560:2014 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Bor in Silizium
ISO 22048:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformat für die statische Sekundärionen-Massenspektrometrie
ISO 13084:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
ISO 20411:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Korrekturmethode für die Sättigungsintensität in der dynamischen Sekundärionen-Massenspektrometrie mit Einzelionenzählung
ISO 22415:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Bestimmung des Ausbeutevolumens bei der Argon-Cluster-Sputter-Tiefenprofilierung organischer Materialien
ISO 178:1975 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
ISO 17862:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
ISO 17862:2013 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
ISO 178:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Sekundärbeugungsanalyse

YB/T 172-2000 Phasenquantitative Analyse von Quarzsteinen. Röntgenbeugungsmethode
YB/T 5320-2006 Röntgenbeugungs-K-Wert-Methode zur quantitativen Phasenanalyse metallischer Materialien
YB/T 5336-2006 Quantitative Analyse der Karbidphase in Schnellarbeitsstahl mittels Röntgenbeugungsmethode

American National Standards Institute （ANSI), Sekundärbeugungsanalyse

ANSI/HPS N43.2-2021 Strahlenschutz für Röntgenbeugungs- und Fluoreszenzanalysegeräte
ANSI N43.2-2001 Strahlenschutz für Röntgenbeugungs- und Fluoreszenzanalysegeräte

Association Francaise de Normalisation, Sekundärbeugungsanalyse

NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 Luft am Arbeitsplatz – Analyse von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure durch Röntgenbeugung – Teil 2: Methode durch indirekte Analyse
NF ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung durch Rückstreuelektronenbeugung
NF X11-666:1984 TEILCHENGRÖSSENANALYSE VON PULVER. Beugungsmethode.
NF X21-014:2012 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße.
NF T30-499-13*NF EN ISO 8130-13:2019 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
NF EN 15305:2009 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung
NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 Luft am Arbeitsplatz – Analyse von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure mittels Röntgenbeugung – Teil 1: Direkt-auf-Filter-Methode
NF EN ISO 8130-13:2019 Pulver zur Beschichtung – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung
NF T25-111-6:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 6: Analyse der ausgewählten Flächenbeugung
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
NF ISO 16258-2:2015 Luft an Arbeitsplätzen – Lungengängiger Anteil kristalliner Kieselsäure durch Röntgenbeugung – Teil 2: Indirekte Analysemethode
NF T25-111-3:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 3: Azimutale Analyse der Beugung der Röntgenstrahlen
NF T30-499-13:2011 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung.
NF ISO 16258-1:2015 Luft an Arbeitsplätzen – Lungengängiger Anteil von kristallinem Siliciumdioxid durch Röntgenbeugung – Teil 1: Direkte Filteranalysemethode
NF A09-185*NF EN 15305:2009 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung.
NF A09-285:1999 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung
NF ISO 17560:2006 Chemische Analyse von Oberflächen – Massenspektrometrie von Sekundärionen – Bestimmung von Bor in Silizium durch Dickenprofilierung
NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 Chemische Analyse von feuerfesten Materialien aus nitridgebundenem Siliciumcarbid – Teil 2: XRD-Methoden.
NF ISO 23830:2009 Chemische Analyse von Oberflächen – Massenspektrometrie von Sekundärionen – Wiederholbarkeit und Konstanz der Skala relativer Intensitäten in der statischen Massenspektrometrie von Sekundärionen
NF ISO 14237:2010 Chemische Analyse von Oberflächen – Massenspektrometrie von Sekundärionen – Bestimmung von Boratomen in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Sekundärbeugungsanalyse

GB/T 36923-2018 Identifizierung von Perlenpulver – Röntgenbeugungsanalyse
GB/T 41076-2021 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Quantitative Bestimmung von Austenit in Stahl
GB/T 40407-2021 Röntgenpulverbeugungsanalyseverfahren zur Bestimmung der Phasen in Portlandzementklinker
GB/T 40129-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
GB/T 40109-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Bor in Silizium
GB/T 20724-2021 Mikrostrahlanalyse – Methode zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenbeugung
GB/T 41064-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Sekundärbeugungsanalyse

GB/T 34172-2017 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Phasenanalysemethode von Metall und Legierung

Standard Association of Australia （SAA）, Sekundärbeugungsanalyse

AS 4863.1:2000 Partikelgrößenanalyse – Laserbeugungsmethoden – Allgemeine Grundsätze

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Sekundärbeugungsanalyse

GBZ 115-2002 Radiologische Standards für Röntgenbeugungs- und Fluoreszenzanalysegeräte

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Sekundärbeugungsanalyse

DB44/T 1078-2012 Laserbeugungsmethode zur Partikelgrößenanalyse keramischer Rohstoffe

ES-UNE, Sekundärbeugungsanalyse

UNE-EN ISO 8130-13:2020 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung (ISO 8130-13:2019)

CEN - European Committee for Standardization, Sekundärbeugungsanalyse

EN ISO 8130-13:2019 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung

European Committee for Standardization (CEN), Sekundärbeugungsanalyse

EN ISO 8130-13:2010 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung (ISO 8130-13:2001)
EN 12698-2:2007 Chemische Analyse von feuerfesten Materialien aus nitridgebundenem Siliciumcarbid – Teil 2: XRD-Methoden
EN 15305:2008 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung

RU-GOST R, Sekundärbeugungsanalyse

GOST R ISO 16258-1-2017 Luft am Arbeitsplatz. Analyse von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure mittels Röntgenbeugung. Teil 1. Direkt-auf-Filter-Methode
GOST R ISO 13067-2016 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße

Professional Standard - Petroleum, Sekundärbeugungsanalyse

SY/T 5163-1995 Röntgenbeugungsanalyseverfahren für den relativen Gehalt an Tonmineralien in Sedimentgesteinen
SY/T 5163-2010 Analysemethode für Tonmineralien und gewöhnliche Nichttonmineralien in Sedimentgesteinen mittels Röntgenbeugung
SY/T 6210-1996 Methode zur quantitativen Analyse der gesamten Tonmineralien und häufig vorkommenden Nicht-Tonmineralien in Sedimentgesteinen mittels Röntgenbeugung

Lithuanian Standards Office , Sekundärbeugungsanalyse

LST EN 15305-2008 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung
LST EN 15305-2008/AC-2009 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung
LST EN ISO 8130-13:2011 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung (ISO 8130-13:2001)

AENOR, Sekundärbeugungsanalyse

UNE-EN 15305:2010 Zerstörungsfreie Prüfung – Prüfverfahren zur Eigenspannungsanalyse mittels Röntgenbeugung
UNE-EN ISO 8130-13:2011 Beschichtungspulver – Teil 13: Partikelgrößenanalyse mittels Laserbeugung (ISO 8130-13:2001)

Professional Standard - Electricity, Sekundärbeugungsanalyse

DL/T 1151.22-2012 Analysemethoden für Kesselstein- und Korrosionsprodukte in Kraftwerken. Teil 22: Standardtestmethoden der Röntgenfluoreszenzspektrometrie und Röntgenbeugung

Professional Standard - Customs, Sekundärbeugungsanalyse

HS/T 12-2006 Quantitative Analyse der Talk-, Chlorit- und Magnesit-Mischphase. Methode des Röntgendiffraktometers

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Sekundärbeugungsanalyse

ASHRAE CI-01-2-1-2001 Analyse eines Sekundärkreislauf-Kühlsystems mit mittlerer Temperatur

American Society for Testing and Materials (ASTM), Sekundärbeugungsanalyse

ASTM E3294-22 Standardhandbuch für die forensische Analyse geologischer Materialien mittels Pulverröntgenbeugung
ASTM E3340-22 Standardhandbuch für die Entwicklung von Laserbeugungs-Partikelgrößenanalysemethoden für Pulvermaterialien
ASTM E3294-23 Standardhandbuch für die forensische Analyse geologischer Materialien mittels Pulverröntgenbeugung
ASTM UOP709-70 Gasanalyse durch Gaschromatographie unter Verwendung einer Zwei-Injektions-Technik
ASTM D5380-93(2003) Standardtestmethode zur Identifizierung kristalliner Pigmente und Füllstoffe in Farben durch Röntgenbeugungsanalyse
ASTM D5380-93(2021) Standardtestmethode zur Identifizierung kristalliner Pigmente und Füllstoffe in Farben durch Röntgenbeugungsanalyse
ASTM C1365-06(2011) Standardtestmethode zur Bestimmung des Phasenanteils in Portlandzement und Portlandzementklinker mittels Röntgenpulverbeugungsanalyse
ASTM C1365-06 Standardtestmethode zur Bestimmung des Phasenanteils in Portlandzement und Portlandzementklinker mittels Röntgenpulverbeugungsanalyse
ASTM C1365-98 Standardtestmethode zur Bestimmung des Phasenanteils in Portlandzement und Portlandzementklinker mittels Röntgenpulverbeugungsanalyse
ASTM C1365-98(2004) Standardtestmethode zur Bestimmung des Phasenanteils in Portlandzement und Portlandzementklinker mittels Röntgenpulverbeugungsanalyse

国家能源局, Sekundärbeugungsanalyse

SY/T 5163-2018 Methode der Röntgenbeugungsanalyse von Tonmineralien und gewöhnlichen Nicht-Tonmineralien in Sedimentgesteinen

Professional Standard - Petrochemical Industry, Sekundärbeugungsanalyse

SH/T 1612.8-2005 Gereinigte Terephthalsäure für den industriellen Einsatz – Bestimmung der partiellen Größenverteilung – Laserbeugungsmethode

Professional Standard - Education, Sekundärbeugungsanalyse

JY/T 0588-2020 Allgemeine Regeln zur Bestimmung der Kristall- und Molekülstruktur kleiner molekularer Verbindungen durch Einkristall-Röntgenbeugung
JY/T 008-1996 Allgemeine Regeln für die Bestimmung der Kristall- und Molekülstruktur kleiner molekularer Verbindungen mit einem Vierkreis-Einkristall-Röntgendiffraktometer

International Telecommunication Union (ITU), Sekundärbeugungsanalyse

ITU-R BT.1122-2011 Benutzeranforderungen an Codecs für Emissions- und Sekundärverteilungssysteme für SDTV und HDTV
ITU-R BT.1122-1 FRENCH-1995 Benutzeranforderungen für Emissions- und Sekundärverteilungssysteme für SDTV, HDTV und hierarchische Codierungsschemata. Anforderungen an Benutzer für Übertragungssysteme und Sekundärverteilung von TVDN, TVHD und Codierungsschächte in der Hocharchie
ITU-R BT.1122-1-1995 Benutzeranforderungen für Emissions- und Sekundärverteilungssysteme für SDTV, HDTV und hierarchische Codierungsschemata

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Sekundärbeugungsanalyse

ITU-R BT.1122-1994 Benutzeranforderungen für Emissions- und Sekundärverteilungssysteme für SDTV@HDTV und hierarchische Codierungsschemata
ITU-R BT.1122-3-2019 Benutzeranforderungen an Codecs für Emissions- und Sekundärverteilungssysteme für SDTV@ HDTV@ UHDTV und HDR-TV

AIAG - Automotive Industry Action Group, Sekundärbeugungsanalyse

MSA ERTA-2010 Messsystemanalyse (MSA) – Errata-Blatt (vierte Auflage; zweiter Druck; Errata-Blatt zu MSA-4)

国家广播电影电视总局, Sekundärbeugungsanalyse

GY/T 287-2014 Technische Anforderungen an die Codierung und Decodierung digitaler Fernsehsignale bei der Übertragung und Sekundärverteilung

Professional Standard - Aerospace, Sekundärbeugungsanalyse

QJ 962-1986 材料测试

Professional Standard - Electron, Sekundärbeugungsanalyse

SJ/T 10553-2021 Methode zur emissionsspektrometrischen Analyse von Verunreinigungen in ZrO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10552-2021 Methode zur emissionsspektrometrischen Analyse von Verunreinigungen in TiO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10552-1994 Methode zur emissionsspektrochemischen Analyse von Verunreinigungen in TiO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10553-1994 Methode zur emissionsspektrochemischen Analyse von Verunreinigungen in ZrO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken