共找到 205 条与 电子光学与其他物理光学仪器 相关的标准,共 14 页
本标准规定了电子显微镜(以下简称电镜)X射线泄漏剂量、试验方法及检验规则。 本标准适用于透射、扫描、反射扫描和电子探针等不同类型的电镜。
The dose of X-rays leakage from electron microscope
本标准规定了用透射电子显微镜对薄晶体试样微米级区域进行选区电子衍射分析的方法。本方法适用于各种金属与非金属晶体薄膜(包括粉末试样与萃取复型试样)的电子衍射分析。可分析的最小试样区直径为lμm。应用电子衍射谱可以获得试样晶体对称性、点阵常数和布拉菲格子类型等数据。利用已知晶体薄膜的电子衍射谱可以测定透射电子显微镜的衍射常数。被分析试样区直径小于lμm 时,可参照执行。
Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes
本标准规定了用电子探针进行硫化物矿物定量分析的标准方法。 本标准适用于在电子束轰击下稳定的硫化物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物的电子探针定量分析。 本标准适用于以X射线波长分光谱仪进行的定量分析;其主要内容和基本原则也适用于以X射线能谱仪进行的定量分析。
Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis
本标准规定了电子探针和扫描电子显微镜的X射线波谱仪、X射线能谱仪对玻璃的定量分析方法。 本标准适用于玻璃试样(包括含碱金属玻璃)的定量分析。
Quantitative analysis of glass by electron probe microanalysis
本标准规定了用X射线波长色散光谱仪进行稀土氧化物的定量电子探针分析方法。 本标准适用于对稀土氧化物组成体系的平面、抛光固体样品的定量电子探针分析。
Quantitative analysis of rare earth element(REE) oxides by electron probe microanalysis(EPMA)
本标准规定了透射电子显微镜-X射线能谱仪定量分析生物薄试样的技术要求和规范。 本标准适用于生物薄试样所含非超轻元素的定量分析。
General specification of transmission electron microscope(TEM)--X-ray energy dispersive spectrum(EDS) quantitative microanalysis for thin biological specimens
本标准规定了电子束下稳定的天然和人工合成硅酸盐矿物的电子探针或扫描电子显微镜中X射线波长色散光谱仪的定量分析方法。 本标准也适用于其它含氧酸,如磷酸盐、硫酸盐等矿物以及普通氧化物。其基本准则也适用于X射线能谱仪的定量分析。
Quantitative analysis of silicate minerals by electron probe microanalysis
本标准规定了分析电镜(AEM/EDS)即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜——x射线能谱仪,测量比例因子(KA.B)所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。
General specification of nanometer thin standard specimen for analytical transmission electron microscopy(AEM/EDS)
GB 7247.1适用于激光产品的安全。为了方便起见,本标准分成独立的三个篇章:第一篇(总则)和 附录、第二篇(制造要求)、第三篇(用户指南)。 激光产品可以是附带或不附带独立电源的单一激光器,也可以是装配了一个或多个激光器的复杂 光学、电气或机械系统。激光产品一般用于物理和光学现象的演示、材料加工、数据读出及存储、信息传 输及显示等等。这些系统已用在工业、商业、娱乐、研究、教育及医学上。但是,出售给其他制造厂商用作 任何系统部件的激光产品可以不遵守本标准,因为最终产品本身将要服从本标准。 本标准中所用的词汇“激光器”无论何时都包括LED(发光二极管)。 符合下列条件的激光产品或LED产品,不需考虑本标准的要求,如果: ——制造厂商根据第3章、第8章、第9章的分类,表明在所有工作、维护、检修和故障条件下其发 射水平不超过l类的AEL; ——不含有嵌装式激光器或嵌装式LED。 除了激光辐射引起的危害外,激光设备也可引起其他伤害,诸如着火和电击。 本标准阐述最低要求 如果激光系统构成设备的一部分,而设备必须遵从国家或IEC安全标准[如医疗设备(IEC 60601— 2—22)、信息技术设备(GB 4943)、音频和视频设备(GB 8898)、在有害环境中用的设备],则除产品安全 标准外,该设备还应符合本标准对激光产品的安全要求。然而,如果激光系统从设备移开后可以单独工 作,则被移开的单元应符合本标准的要求。 如果没有适用的产品安全标准,则应使用GB 4793.1。 本标准的MPE(最大允许照射量)值只针对激光辐射而不适用于伴随辐射。 然而,如果某种业务存在一种危险的可接触伴随辐射,则可,以使用激光辐射的MPE值对该危险进 行谨慎的评估。 MPE值不适用于医学上对患者进行治疗的激光照射。 注:附录A~附录D包括一般指导并列举了许多典型例子。但一定不要将附录看作是确定的或详尽的,而应作为 第一篇到第三篇相应条款的参考资料。
Safety of laser products Part 1: Equipment classification,requirements and user's guide
本标准规定了各种长期和临时(如维修)用来围封激光加工机工作区的激光防护屏的要求以及专用激光防护屏的规格。 本标准适用于防护屏包括目视透明屏和视窗、激光(防护)帘和壁在内的所有组成部分。光路器件、光栏以及激光产品不围封加工区的防护罩等其它部分的要求包含在GB 7247内。 此外,本标准还指出了: a)如何评价和规范激光防护屏的防护性质; b)如何选择激光防护屏。
Laser guards
本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求,本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度,适用的厚度测量范围为0.2~10μm。 其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。
Gold-plated thickness measurement by SEM
本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪(包括装有X射线能谱仪的电子探针仪)对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。 本标准适用于表面镀金及金合金,其镀层厚度为0.2μm以上,3μm以下范围内的成分测量(不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量)。
Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
本标准规定了电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。
General specification of thin biological standards for X-Ray-Ray EDS microanalysis in electron microscope
本标准规定了在海洋环境下船舶黑色金属材料腐蚀层的电子探针分析方法。 本标准对船舶黑色金属腐蚀层试样的制备、标样选择、测试条件、分析方法及分析结果发布等方面作了规定。 本标准适用于海洋环境下船舶黑色金属块状腐蚀试样的分析。
The method of electron probe micro analysis as corrosive layer on ferrous metals of ship
本标准规定了采用密度法结合电子探针分析(或X射线荧光分析、二次离子质谱分析)进行黄金制品中金含量的无损定量分析方法。 本标准适用于测定金含量不小于75%的合金型黄金制品。
Non-damage quantitative analysis of gold content in gold products
本标准规定了用电子探针波谱仪进行黄金制品定量分析的技术方法和规范。 本标准适用于各种金制品含金量的测定,也适用于表面含金层厚度大于3μm的镀金制品和包金制品的表层含金量的测定。
Method of quantitative electron probe microanalysis on gold products
本标准规定了用扫描电镜的X射线能谱仪,对黄金饰品含量进行无损的定量分析方法的技术要求和规范。本标准适用于对各种纯金饰品和K金饰品含金量的测定,也可适用于各种镀金、包金、锻压金等表面含金层厚度大于3um的饰品表面层含金量的测定。本标准也适用于电子探针X射线能谱仪对黄金饰品的分析。
Nondestructive method of X-ray EDS analysis with SEM for gold jewelry
本标准规定了用扫描电子显微镜及X射线能谱仪对沉积岩自生粘土矿物的晶体形态及化学成分进行鉴定的方法。 本标准主要适用于石油地质沉积岩中常见自生粘土矿物鉴定分析。其他自生粘土矿物鉴定分析可参照执行。
Identification method of authigenic clay mineral in sedimentary rock by SEM & XEDS
本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Si,Mn的电子探针定量分析方法--标定曲线法。 本标准适用于带波谱仪的扫描电镜。
Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels
本标准规定了与电子探针和扫描电镜联用的X射线能谱仪的定量分析方法的技术要求和规范。本标准适用于电子探针和扫描电镜X射线能谱仪对块状试样的定量分析。
General specification of X-ray EDS quantitative analysis for EPMA and SEM
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