N33 电子光学与其他物理光学仪器 标准查询与下载
共找到 205 条与 电子光学与其他物理光学仪器 相关的标准，共 14 页
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
- ICS
- 71.040.99
- CCS
- N33
- 发布
- 2014-01-31
- 实施
- 2014-01-31
本标准规定了数字超声检测仪(以下简称为超声检测仪)的术语和定义、符号和含义、要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等内容。本标准适用于脉冲式、采用单晶或双晶探头、中心频率在0.2MHz~25MHz范围内超声检测仪。本标准可参照应用于自动检测系统中的超声检测仪。本标准不适用于连续波工作的超声检测仪以及超声测厚仪。
Non-destructive testing instrument.Specifications for digital ultrasonic testing instruments
- ICS
- 19.100
- CCS
- N33
- 发布
- 2013-12-31
- 实施
- 2014-07-01
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Vocabulary
- ICS
- 01.040.37;37.020
- CCS
- N33
- 发布
- 2013-12-31
- 实施
- 2013-12-31
Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- N33
- 发布
- 2013-07-22
- 实施
本规范规定了静态地面激光扫描仪(以下简称扫描仪)的校准方法,适用于脉冲式或相位式扫描仪的校准,其他原理的扫描仪也可参照此规范进行校准。
Calibration Specification for Terrestrial Laser Scanners
- ICS
- CCS
- N33
- 发布
- 2013-05-13
- 实施
- 2013-08-13
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis (EPMA) Vocabulary
- ICS
- 01.040.71;71.040.50
- CCS
- N33
- 发布
- 2013-04-30
- 实施
- 2013-04-30
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- N33
- 发布
- 2013-04-30
- 实施
- 2013-04-30
本标准规定了太阳光度计的校正项目及技术要求、校正条件、方法原理、测量步骤、数据处理以及记录和报告等内容。本标准适用于太阳光度计对大气上界太阳辐照度对应电压响应值的校正。
Method for sun photometer data calibration
- ICS
- 07.060;17.180
- CCS
- N33
- 发布
- 2013-04-25
- 实施
- 2013-05-01
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis (EPMA) - Vocabulary
- ICS
- 01.040.71;71.040.50;71.040.99
- CCS
- N33
- 发布
- 2013-04
- 实施
Standard for Safety for Optical Isolators (Proposal Dated August 3, 2012)
- ICS
- 33.180.99
- CCS
- N33
- 发布
- 2013
- 实施
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for determining the carbon content of steels using a calibration curve method
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- N33
- 发布
- 2012-08
- 实施
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy.
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- N33
- 发布
- 2012-05-01
- 实施
- 2012-05-25
Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Measurement of average grain size.
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- N33
- 发布
- 2012-01-01
- 实施
- 2012-01-28
Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above.
- ICS
- 71.040.99
- CCS
- N33
- 发布
- 2012-01-01
- 实施
- 2012-01-21
本规范适用于波长范围为250nm-1750nm、所测光源的闪光时间≥1×10s的瞬态光谱仪的校准。其他型式的瞬态光谱仪可参照本规范进行校准。
Calibration Specification for Instantaneous Spectral Instruments
- ICS
- CCS
- N33
- 发布
- 2011-12-28
- 实施
- 2012-03-28
本标准规定了X射线荧光光谱仪的术语和定义、技术条件、检验规则、测试方法、标志、包装、贮存、运输等要求。X射线荧光光谱仪（以下简称光谱仪）。 本标准适用于包括顺序式和多通道同时式的波长色散X射线荧光光谱仪,元素分析范围从钠（Na）到铀（U），元素含量分析范围10%-99.99%的光谱仪。
X-ray fluorescence spectrometer
- ICS
- 17.180.99
- CCS
- N33
- 发布
- 2011-12-20
- 实施
- 2012-04-01
本标准规定了X射线衍射仪的术语和定义、产品分类、技术要求、检验规则、测试方法、标志、包装运输、贮存等。 本标准适用于θ-θ、θ-2θ结构测角仪的多晶X射线衍射仪（以下简称衍射仪）。
X-ray diffractometer
- ICS
- 17.180.99
- CCS
- N33
- 发布
- 2011-12-20
- 实施
- 2012-04-01
本规范适用于傅立叶变换红外光谱仪波数为4000cm～400cm中红外区的校准。
Calibration Specification for Fourier Transform Infrared Spectrometers
- ICS
- CCS
- N33
- 发布
- 2011-11-14
- 实施
- 2012-02-14
本规范适用于采用红外法、热导法、滴定法、吸收法、电量法（也称库仑法）等不同原理对碳（C)、氢（H)、氮（N)、氧（O)、硫（S)等元素进行测量的元素分析仪的校准。本规范不适用于采用红外分析原理的碳硫分析仪和煤中全硫测定仪的校准。
Calibration Specification for Elemental Analyzers
- ICS
- CCS
- N33
- 发布
- 2011-11-14
- 实施
- 2012-02-14
