ASTM F391-96
用稳态表面光电压测量法测定非本征半导体中少数载流子扩散长度的标准试验方法
Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage
哪些标准引用了ASTM F391-96
- 标准号
- ASTM F391-96
- 发布
- 1996年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM F391-02
- 当前最新
- ASTM F391-02
- 引用标准
- ASTM D1193 ASTM F110 ASTM F28 ASTM F533 ASTM F673 ASTM F84 ASTM F95
- 1.1 这些测试方法涵盖了外在单晶半导体材料样品或沉积在同类型更重掺杂衬底上的已知电阻率同质外延层中少数载流子扩散长度的测量，前提是样品或层的厚度更大大于扩散长度的四倍。 1.2 这些测试方法基于作为入射照明能量（波长）函数的表面光电压（SPV）的测量。描述以下两种测试方法： 1.2.1 测试方法A-恒定幅度表面光电压(CMSPV)方法。 1.2.2 测试方...
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