ASTM E766-14
扫描电子显微镜放大倍率校准的标准方法

Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope


ASTM E766-14 中,可能用到以下仪器设备

 

大面积电制冷能谱仪

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牛津仪器(上海)有限公司

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

软X射线分光谱仪

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日本电子株式会社(JEOL)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

聚焦离子束系统

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

Apollo 300 扫描电镜

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Andor科研级相机

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牛津仪器(上海)有限公司

 

TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统(GM)

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

泰思肯VEGA 3 LMU/LMH扫描电镜

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泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜

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泰思肯VEGA3 GMH/VEGA3 GMU扫描电镜

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TESCAN S8000G 高分辨镓离子型双束扫描电镜

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泰思肯微型扫描电子显微镜Small Base

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TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

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泰思肯集成矿物分析仪 TIMA-X(GM)

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TIMA-X(FEG GMU/GMH)大样品仓矿物分析仪系统

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GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM)

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TESCAN 聚焦离子束扫描电镜 LYRA3(XM)

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TESCAN综合矿物分析仪 TIMA-X(LM)

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TESCAN VEGA3钨灯丝扫描电镜(LM)

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TESCAN MIRA3场发射定制版扫描电镜(AMU)

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TESCAN VEGA3大样品室钨灯丝扫描电镜(XM)

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GAIA3(XMU/XMH) Ga离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

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标准号
ASTM E766-14
发布
2014年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E766-14e1
当前最新
ASTM E766-14(2019)
 
 
1.1 本实践涵盖了扫描电子显微镜放大倍数校准所需的一般程序。真实放大倍率和指示放大倍率之间的关系是操作条件的复杂函数。2因此,这种做法必须应用于要使用的每组标准操作条件。 1.2 以 SI 单位表示的值被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。 1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当...

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