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二手薄膜拉伸机
本专题涉及二手薄膜拉伸机的标准有54条。
国际标准分类中，二手薄膜拉伸机涉及到有机化学、橡胶和塑料制品、绝缘材料、半导体分立器件、图形符号、电子电信设备用机电元件、表面处理和镀涂、堆栈、仓储、半导体材料。
在中国标准分类中，二手薄膜拉伸机涉及到有机化工原料综合、日用塑料制品、电子设备专用微特电机、半导体分立器件综合、微电路综合、电子设备机械结构件、材料防护、标志、包装、运输、贮存综合。
国家质检总局，关于二手薄膜拉伸机的标准
- GB/T 25255-2010 光学功能薄膜 聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）薄膜 拉伸性能测定方法
工业和信息化部，关于二手薄膜拉伸机的标准
- QB/T 5076-2017 热封型双向拉伸聚对苯二甲酸乙二醇酯薄膜
- QB/T 5077-2017 热转移色带用双向拉伸聚对苯二甲酸乙二醇酯薄膜
英国标准学会，关于二手薄膜拉伸机的标准
- BS EN 60674-3-8:2011+A1:2017 电气用塑料薄膜 各种材料的规格 用于电气绝缘的平衡双向拉伸聚萘二甲酸乙二醇酯 (PEN) 薄膜
- BS EN 62047-3:2006 半导体器件.微机电设备.拉伸测试的薄膜标准试样
- BS EN IEC 60674-3-2:2019 电气用塑料薄膜规范 个别材料的规格 电绝缘用平衡双向拉伸聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜的要求
- BS EN 62047-2:2006 半导体器件.微型机电器件.薄膜材料的拉伸试验方法
- BS EN 62047-22:2014 半导体器件. 微型机电装置. 柔性基板上导电薄膜机电拉伸试验方法
- BS EN 62047-8:2011 半导体装置.微电机装置.薄膜拉伸性能测量用带材弯曲试验方法
- 18/30371720 DC BS EN 60674-3-2 电气用塑料薄膜规范 第3部分：个别材料的规格 表 2. 用于电气绝缘的平衡双向拉伸聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜的要求
- BS IEC 62951-7:2019 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 表征柔性有机半导体薄膜封装阻隔性能的测试方法
ES-UNE，关于二手薄膜拉伸机的标准
- UNE-EN 60674-3-8:2011 电气用塑料薄膜 第3部分：单个材料的规格 表 8：用于电气绝缘的平衡双向拉伸聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)薄膜
- UNE-EN 62047-3:2006 半导体器件 微机电器件 第3部分：拉伸测试用薄膜标准试件
- UNE-EN 301908-11 V3.2.1:2006 半导体器件 - 微机电器件 - 第 2 部分：薄膜材料的拉伸测试方法（IEC 62047-2:2006）。
- UNE-EN 62047-2:2006 半导体器件 - 微机电器件 - 第 2 部分：薄膜材料的拉伸测试方法（IEC 62047-2:2006）。
- UNE-EN 300417-5-1 V1.1.3:2006 半导体器件 - 微机电器件 - 第 2 部分：薄膜材料的拉伸测试方法（IEC 62047-2:2006）。
- UNE-EN 62047-22:2014 半导体器件 微机电器件 第22部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸测试方法
- UNE-EN 62047-8:2011 半导体器件 微机电器件 第8部分：薄膜拉伸性能测量的条带弯曲试验方法
法国标准化协会，关于二手薄膜拉伸机的标准
- NF EN 62047-2:2006 半导体器件 微机电器件 第 2 部分：薄膜材料拉伸测试方法
- NF EN 62047-3:2006 半导体器件 - 微机电器件 - 第 3 部分：拉伸测试用标准薄膜试样
- NF C96-050-2*NF EN 62047-2:2006 半导体装置.微型机电装置.第2部分:薄膜材料的拉伸试验方法
- NF C96-050-3*NF EN 62047-3:2006 半导体器件 微电机设备 第3部分：拉伸试验用薄膜标准试验片
- NF C96-050-22*NF EN 62047-22:2014 半导体器件. 微型机电装置. 第22部分: 柔性基板上导电薄膜机电拉伸试验方法
- NF EN 62047-22:2014 半导体器件 微机电器件 第22部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸试验方法
- NF C96-050-8*NF EN 62047-8:2011 半导体装置.微机电装置.第8部分:用钢带弯曲试验法测量薄膜的拉伸性能.
- NF EN 62047-8:2011 半导体器件微机电器件第8部分：测量薄膜拉伸性能的带材弯曲试验方法
德国标准化学会，关于二手薄膜拉伸机的标准
- DIN EN 62047-2:2007-02 半导体器件微机电器件第2部分：薄膜材料拉伸测试方法
- DIN EN 62047-3:2007-02 半导体器件-微机电器件-第3部分：拉伸试验用薄膜标准试件
- DIN EN 62047-3:2007 半导体器件.微电机设备.第3部分:拉伸试验用薄膜标准试验片
- DIN EN 62047-2:2007 半导体装置.微型电机装置.第2部分:薄膜材料的拉伸试验方法
- DIN EN 62047-8:2011-12 半导体器件微机电器件第8部分：薄膜拉伸性能测量的带材弯曲试验方法
- DIN EN 62047-22:2015-04 半导体器件 - 微机电器件 - 第 22 部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸试验方法 (IEC 62047-22:2014)
- DIN EN 62047-22:2015 半导体器件-微机电器件-第22部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸试验方法（IEC 62047-22:2014）；德文版 EN 62047-22:2014
- DIN EN 62047-8:2011 半导体设备.微机电设备.第8部分:薄膜拉伸性能测量用带弯曲试验方法(IEC 62047-8-2011).德文版 EN 62047-8-2011
丹麦标准化协会，关于二手薄膜拉伸机的标准
- DS/EN 62047-2:2007 半导体器件 微机电器件 第2部分：薄膜材料的拉伸试验方法
- DS/EN 62047-3:2007 半导体器件-微机电器件-第3部分：拉伸试验用薄膜标准试件
- DS/EN 62047-8:2011 半导体器件微机电器件第8部分：薄膜拉伸性能测量的条带弯曲试验方法
欧洲电工标准化委员会，关于二手薄膜拉伸机的标准
- EN 62047-3:2006 半导体器件.微电机器件.第3部分:拉伸试验用薄膜标准试验片
- EN 62047-2:2006 半导体器件微电机器件.第2部分:薄膜材料的拉伸试验方法 IEC 62047-2:2006
- EN 62047-22:2014 半导体器件-微机电器件-第22部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸试验方法
国际电工委员会，关于二手薄膜拉伸机的标准
- IEC 62047-2:2006 半导体装置.微型机电装置.第2部分:薄膜材料的拉伸试验方法
- IEC 62047-3:2006 半导体器件.微机电设备.第3部分:拉伸试验的薄膜标准试验片
- IEC 62047-22:2014 半导体器件. 微型机电装置. 第22部分: 柔性基板上导电薄膜机电拉伸试验方法
日本工业标准调查会，关于二手薄膜拉伸机的标准
- JIS C 5630-3:2009 半导体器件.微型机电器件.第3部分:拉伸测试用薄膜标准试样
- JIS C 5630-2:2009 半导体器件.微型机电器件.第2部分:薄膜材料的拉伸测试方法
美国材料与试验协会，关于二手薄膜拉伸机的标准
- ASTM D7093-04 双轴拉伸穹面上钢的有机涂层薄膜的可成形性的标准试验方法
- ASTM D5331-03 用拉伸卷缠薄膜保证成组货件安全的机械搬运评价的标准试验方法
- ASTM D7093-13 在双轴拉伸圆顶上的钢上的薄膜有机涂层的成形性的标准测试方法
- ASTM D7093-19 在双轴拉伸圆顶上的钢上的薄膜有机涂层的成形性的标准测试方法
立陶宛标准局，关于二手薄膜拉伸机的标准
- LST EN 62047-3-2007 半导体器件-微机电器件-第3部分：拉伸试验用薄膜标准试件（IEC 62047-3:2006）
- LST EN 62047-2-2007 半导体器件微机电器件第2部分：薄膜材料的拉伸试验方法（IEC 62047-2:2006）
- LST EN 62047-8-2011 半导体器件微机电器件第8部分：薄膜拉伸性能测量的条带弯曲试验方法（IEC 62047-8:2011）
韩国科技标准局，关于二手薄膜拉伸机的标准
- KS C IEC 62047-8:2015 半导体器件《微机电器件》第8部分：薄膜拉伸性能测量的条带弯曲试验方法
- KS C IEC 62047-8-2015(2020) 半导体器件 - 微机电装置 - 第8部分:带弯曲为薄膜的拉伸性能测定的测试方法
可能用到的仪器设备
