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怎么分析报表
本专题涉及怎么分析报表的标准有44条。
国际标准分类中，怎么分析报表涉及到分析化学、长度和角度测量、公司(企业)的组织和管理。
在中国标准分类中，怎么分析报表涉及到基础标准与通用方法、、化学。
US-CFR-file，关于怎么分析报表的标准
- CFR 21-803.15-2014 食品和药物. 第803部分:医疗器械报告. 第803.15节:我怎么知道你是否需要更多的关于我的医疗器械报告的信息?
英国标准学会，关于怎么分析报表的标准
- BS ISO 13424:2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
- BS ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术的记录和报告数据(AEC)
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
- BS ISO 20579-4:2018 表面化学分析 样品处理、制备和安装指南 在表面分析之前报告与纳米物体的历史、制备、处理和安装相关的信息
- BS ISO 19318:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X射线光电子能谱 均质材料中元素检测限的估计和报告
- BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
- 20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于怎么分析报表的标准
- GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
- GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
国际标准化组织，关于怎么分析报表的标准
- ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
- ISO/CD 20579-1:2023 表面化学分析 - 样品处理、制备和安装 - 第 1 部分：分析前记录和报告样品的处理
- ISO/DIS 20579-1:2023 表面化学分析 - 样品处理、制备和安装 - 第 1 部分：分析前记录和报告样品的处理
- ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
- ISO 20579-4:2018 表面化学分析.样品处理、制备和安装指南.第4部分：表面分析前与纳米物体的历史、制备、处理和安装有关的报告信息
- ISO 19318:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO 19318:2021 表面化学分析. X射线光电光谱法. 电荷控制和电荷校正方法的报告
- ISO 19668:2017 表面化学分析.X射线光电子能谱学.均匀材料中元素检测极限的估算和报告
美国材料与试验协会，关于怎么分析报表的标准
- ASTM E1577-95(2000) 用于表面分析的离子束参数报告的标准指南
- ASTM E1577-11 用于表面分析的离子束参数报告的标准指南
- ASTM E1577-04 用于表面分析的离子束参数报告的标准指南
法国标准化协会，关于怎么分析报表的标准
- NF ISO 16242:2012 表面化学分析 俄歇电子能谱(AES)数据记录和报告
- NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
- NF X21-068*NF ISO 29081:2010 表面化学分析 俄歇电子光谱法 电荷控制和校正用方法的报告
中国团体标准，关于怎么分析报表的标准
- T/GTIA 4.8-2016 木材及木制品电子交易平台 第8部分：报表分析管理
德国标准化学会，关于怎么分析报表的标准
- DIN ISO 16242:2020-05 表面化学分析 在俄歇电子能谱(AES)中记录和报告数据
- DIN ISO 16242:2020 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）中的数据记录和报告（ISO 16242:2011）；英文文本
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于怎么分析报表的标准
- GB/T 32565-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求
- GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求
- GB/T 32998-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求
国家质检总局，关于怎么分析报表的标准
- GB/T 42658.4-2023 表面化学分析 样品处理、制备和安装指南 第4部分: 报告表面分析前纳米物体相关的来历、制备、处理和安装信息
- GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
韩国科技标准局，关于怎么分析报表的标准
- KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱电荷控制和电荷校正方法报告
- KS D ISO 19318:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
澳大利亚标准协会，关于怎么分析报表的标准
- AS ISO 19318:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱学．电荷控制和电荷调整用报告法
RU-GOST R，关于怎么分析报表的标准
- GOST R ISO 16242-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 俄歇电子能谱学 (AES) 的记录和报告数据
