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原子力显微镜的制样方法
本专题涉及原子力显微镜的制样方法的标准有36条。
国际标准分类中，原子力显微镜的制样方法涉及到物理学、化学、长度和角度测量、光学和光学测量、核能工程、陶瓷、试验条件和规程综合、分析化学、空气质量、危险品防护。
在中国标准分类中，原子力显微镜的制样方法涉及到基础学科综合、基础标准与通用方法、物理学与力学、光学计量、勘探采矿和工艺监测核仪器、特种陶瓷、、环境卫生、建材原料矿、卫生、安全、劳动保护。
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- GB/T 32262-2015 用于原子力显微镜检测的脱氧核糖核酸样品的制备方法
- GB/T 33839-2017 基于生物效应含碳基纳米材料生物样品的透射电子显微镜检测方法
国家质检总局，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
- GB/T 28872-2012 活细胞样品纳米结构的磁驱动轻敲模式原子力显微镜检测方法
- GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
- GB/T 32189-2015 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
行业标准-核工业，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- EJ/T 20176-2018 金刚石刀具刃口锋利度的原子力显微镜测量方法
德国标准化学会，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- DIN SPEC 52407:2015-03 纳米技术 使用原子力显微镜(AFM)和透射扫描电子显微镜(TSEM)进行粒子测量的准备和评估方法
日本工业标准调查会，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- JIS R 1683:2007 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法
- JIS R 1683:2014 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法
- JIS R 1633:1998 扫描电子显微镜观察用精细陶瓷和陶瓷粉末的样品制备方法
中国团体标准，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜杨氏模量的测定 原子力显微镜法
英国标准学会，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- BS ISO 21222:2020 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
- 23/30461942 DC BS ISO 19606 精细陶瓷（高级陶瓷、先进技术陶瓷） 用原子力显微镜测定精细陶瓷薄膜表面粗糙度的方法
RU-GOST R，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
- GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
- GOST R 8.700-2010 确保测量一致性的国家体系.利用原子力扫描探针显微镜进行测量的表面粗糙度效果测高法
国际标准化组织，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- ISO 21222:2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
- ISO/DIS 19606:2023 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷）原子力显微镜精细陶瓷薄膜表面粗糙度测试方法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- GB/T 36969-2018 纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法
GSO，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- GSO ISO 19606:2021 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷）原子力显微镜精细陶瓷薄膜表面粗糙度测试方法
- BH GSO ISO 19606:2022 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷）原子力显微镜精细陶瓷薄膜表面粗糙度测试方法
美国材料与试验协会，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- ASTM D5756-02 用透射电子显微镜对尘埃中石棉质量浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5756-95 用透射电子显微镜对尘埃中石棉质量浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D6480-99 用传输电子显微镜检查法对石棉结构数密度进行表面抽样、间接制备和分析的标准试验方法
- ASTM D6480-05(2010) 用透射电子显微镜对表面擦拭取样中石棉结构值浓度间接制备和分析的标准试验方法
- ASTM D5755-95 用透射电子显微镜对尘埃中石棉结构值浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-02 用透射电子显微镜对尘埃中石棉结构值浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5756-02(2008) 用透射电子显微镜对尘埃中石棉块表面负荷作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-03 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-09 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-09(2014)e1 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D6480-05 用透射电子显微镜检查法对石棉结构数密度进行表面的擦拭取样、间接制备和分析的标准试验方法
未注明发布机构，关于原子力显微镜的制样方法的标准
- ASTM RR-D22-1038 2019 D6480-表面擦拭取样、间接制备以及通过透射电子显微镜分析石棉结构数表面负载的测试方法
- ASTM RR-D22-1032 2009 D5755-通过透射电子显微镜对灰尘进行微真空采样和间接分析石棉结构数表面负载的测试方法
