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金属 氧化 温度

本专题涉及金属 氧化 温度的标准有500条。

国际标准分类中，金属 氧化 温度涉及到热力学和温度测量、航空航天制造用材料、金属材料试验、绝缘材料、金属的腐蚀、半导体分立器件、粉末冶金、铁合金、地质学、气象学、水文学、建筑材料、钢铁产品、电站综合、建筑物的防护、表面处理和镀涂、绝缘、有色金属、涂料配料、电工器件、电学、磁学、电和磁的测量、化工产品、长度和角度测量、陶瓷、航空器和航天器综合、能源和热传导工程综合、非金属矿、光学和光学测量、管道部件和管道、金属矿、电工和电子试验、导体材料、输电网和配电网、绝缘流体、金属生产、无机化学、牙科、质量、医疗设备、热处理、黑色金属、木基板材、家用自动控制装置、有色金属产品、阀门、电气工程综合、电子元器件综合、电阻器、光纤通信、塑料、开关装置和控制器、家用电气设备综合、钟表学、核能工程、集成电路、微电子学、复合增强材料、工业自动化系统、力、重力和压力的测量、机上设备和仪器、铁路车辆、燃气轮机和蒸汽轮机、蒸汽机、燃烧器、锅炉。

在中国标准分类中，金属 氧化 温度涉及到金属物理性能试验方法、温度与压力仪表、材料防护、半导体三极管、金属化学性能试验方法、粉末冶金材料与制品、气象学、半金属及半导体材料分析方法、半导体分立器件综合、、避雷器、稀有金属及其合金分析方法、颜料、电工合金零件、水文与水利仪器、无机化工原料综合、化学、特种陶瓷、医疗器械综合、热学计量、基础标准与通用方法、基础标准和通用方法、贵金属及其合金分析方法、贵金属及其合金、压力容器、光学计量仪器、管路附件、半导体发光器件、输变电设备综合、矿区、原材料等工业污染物排放标准、热处理、石油物探测井设备与仪器、其他电子元器件、气象仪器、计量综合、金属力学性能试验方法、高温合金、金相检验方法、无机酸、碱、航空与航天用金属铸锻材料、口腔科器械、设备与材料、电站、电力系统运行检修、矫形外科、骨科器械、日用五金制品、人造板、控制电器、贵金属矿、环境条件与通用试验方法、重金属及其合金、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、敏感元器件及传感器、高电压设备成套装置、电容器、光通信设备、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、阀门、家用电热器具、钟表、航空与航天用非金属材料、混凝土、集料、灰浆、砂浆、核材料、核燃料及其分析试验方法、一般与显微外科器械、混凝土制品、低压配电电器、钢铁产品综合、其他非金属矿制品、炭素材料综合、电工绝缘材料及其制品、航空仪表、轻金属及其合金分析方法、电源设备、钢管、铸铁管、锅炉及其辅助设备。

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于金属 氧化 温度的标准

• JEDEC JEP184-2021 电力电子转换用碳化硅金属氧化物半导体器件偏压温度不稳定性评估指南
• JEDEC JESD33B-2004 测量和利用温度安全系数以确定一条金属化状态线温度的标准方法

美国材料与试验协会，关于金属 氧化 温度的标准

• ASTM E1652-03 制造金属护套铂电阻温度计用氧化镁和氧化铝粉末及可压碎绝缘体的标准规范贱金属热电偶和贵金属热电偶
• ASTM E1652-10 金属包覆铂阻温度计、贱金属热电偶和贵金属热电偶制造用氧化镁和氧化铝粉末以及可压扁绝缘体标准规范
• ASTM E1652-00 金属屏蔽的铂电阻温度表、基金属热电耦和贵金属热电偶制造中使用的氧化镁,铝氧化粉和压扁绝缘物的标准规范
• ASTM E1652-21 用于制造贱金属热电偶、金属护套铂电阻温度计和贵金属热电偶的氧化镁和氧化铝粉末及可压碎绝缘子的标准规范
• ASTM E1652-15 基金属热电耦, 金属外壳的铂电阻温度计和贵金属热电偶制造中使用的氧化镁和氧化铝粉末及压扁绝缘子的标准规格
• ASTM E1652-14 基金属热电耦, 金属外壳的铂电阻温度计和贵金属热电偶制造中使用的氧化镁和氧化铝粉末及压扁绝缘子的标准规范
• ASTM E1652-14a 基金属热电耦, 金属外壳的铂电阻温度计和贵金属热电偶制造中使用的氧化镁和氧化铝粉末及压扁绝缘子的标准规范
• ASTM F1330-91(2006) 金属研磨法除去管内氧化皮
• ASTM F1330-91(1996) 金属研磨法除去管内氧化皮
• ASTM B70-90(2007) 电加热用金属材料的电阻随温度而变化的试验方法
• ASTM B70-90(1995)e1 电加热用金属材料电阻随温度变化的标准试验方法
• ASTM B70-90(2019) 电加热用金属材料电阻随温度变化的标准试验方法
• ASTM B70-90(2013) 电加热用金属材料电阻随温度变化的标准试验方法
• ASTM G179-04(2011) 自然老化测试用金属黑板和白板温度设备的标准规范
• ASTM B487-85(2002) 用横断面显微观察法测定金属及氧化层厚度的标准试验方法
• ASTM B487-85(2013) 用横断面显微观察法测定金属及氧化层厚度的标准试验方法
• ASTM B487-85(2007) 用横断面显微观察法测定金属及氧化层厚度的标准试验方法

美国机动车工程师协会，关于金属 氧化 温度的标准

• SAE AIR809A-2012 金属尺寸随温度变化
• SAE AIR809A-2001 金属尺寸随温度变化
• SAE AIR809-1995 金属尺寸随温度变化
• SAE ARP7500-2020 减少高温氧化，铝合金热处理
• SAE AMS4787F-2008 金镍合金，钎焊填充金属，高温 82Au 18Ni 1740°F（949°C）固相线-液相线温度
• SAE AMS4787H-2022 金镍合金，钎焊填充金属，高温 82Au 18Ni 1740°F（949°C）固相线-液相线温度
• SAE AMS2668-1958 SILVER BRAZING 柔性金属软管 400 F 最高工作温度
• SAE AMS2669-1958 SILVER BRAZING 柔性金属软管 800 F 最高工作温度

SAE - SAE International，关于金属 氧化 温度的标准

• SAE AIR809-1964 金属尺寸随温度变化
• SAE AIR809B-2018 金属尺寸随温度变化
• SAE AMS4787D-1992 金镍合金钎料金属 高温 82Au 18Ni 1740 华氏度（949 摄氏度）固相线-液相线温度
• SAE ARP824-1994 软管组件 柔性金属 高压 & 温度
• SAE AMS4787E-1999 金镍合金 钎料金属 高温 82Au 18Ni 1740 华氏度（949 摄氏度）固相线-液相线温度（UNS P00820）
• SAE AMS4787C-1990 钎料金属 高温 82Au 18Ni 1740°F（949°C）固相线-液相线温度（UNS P00820）

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于金属 氧化 温度的标准

• GB/T 38804-2020 金属材料高温蒸汽氧化试验方法
• GB/T 38430-2019 金属和合金的腐蚀 金属材料在高温腐蚀条件下的等温暴露氧化试验方法
• GB/T 38231-2019 金属和合金的腐蚀 金属材料在高温腐蚀条件下的热循环暴露氧化试验方法
• GB/T 1425-2021 贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法
• GB/T 11032-2020 交流无间隙金属氧化物避雷器
• GB/T 40404-2021 渣类材料 熔化温度的测定 高温金相法
• GB/T 6525-2019 烧结金属材料室温压缩强度的测定
• GB/T 22687-2022 家用和类似用途双金属温度控制器

RO-ASRO，关于金属 氧化 温度的标准

• STAS 7442-1990 化工设备．金属可承受温度
• STAS 7043/2-1990 非金属涂层．铝及铝合金阳极氧化涂层．氧化层厚度测定方法
• STAS SR EN ISO 1463:1996 金属和氧化膜．测量涂层厚度．显微方法
• STAS 4605/7-1972 非金属碳酸盐矿物产品．二氧化钛
• STAS 6834-1975 金属测试．低温下的抗拉强度测定
• STAS 7043/4-1975 非金属（无机）涂层．阳极氧化铝和铝合金涂层．绝缘层腐蚀程度测定
• STAS 7043/5-1986 非金属（无机）涂层．阳极氧化铝和铝合金涂层．氧化涂层压缩检验方法
• STAS 4605/6-1988 非金属碳酸盐矿物产品．氧化钙含量测定．三氧化二铝测定
• STAS 4605/10-1980 非金属碳酸盐矿物产品．氧化镁测定
• STAS 12522-1987 金属硬钎焊和软焊．非焊接温度测定
• STAS 4605/14-1972 非金属碳酸盐混合产品．五氧化二磷测定
• STAS 4605/5-1972 非金属碳酸盐矿物产品．三氧化二铁测定
• STAS 4605/8-1972 非金属碳酸盐矿物产品．三氧化二锰测定
• STAS 4605/9-1988 非金属碳酸盐矿物产品．氧化钙含量测定

韩国科技标准局，关于金属 氧化 温度的标准

• KS B 5217-2020 大气温度双金属温度计
• KS B 5320-2008(2018) 双金属温度计
• KS B 5217-1990(2020) 双金属温度计
• KS B 5320-1985 双金属温度计
• KS B 5217-1983 双金属温度计
• KS B 5320-2023 双金属温度计
• KS D 0069-2002 非晶金属结晶化温度测定方法
• KS B 5320-2008 工业用双金属温度计
• KS M ISO 903:2003 金属铝生产用氧化铝.未夯实密度的测定
• KS A 0514-2005 压力式温度计及双金属温度计测定法
• KS A 0514-2005(2020) 填充系统温度计和双金属温度计的温度测量方法
• KS A 0514-2020 填充系统温度计和双金属温度计的温度测量方法
• KS A 0514-1994 用填充系统温度计和双金属温度计测量温度的方法
• KS D 8519-2009 金属和氧化物镀层.镀层厚度的测定.显微镜法
• KS D 8519-2009(2015) 金属和氧化物涂层涂层厚度的测量显微镜法
• KS D 8519-2015 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微镜法
• KS M ISO 2927:2003 金属铝生产用氧化铝.取样
• KS M ISO 2927:2013 金属铝生产用氧化铝 取样
• KS C IEC 61152:2004 金属护皮温度元件的尺寸
• KS C IEC 61152:2013 金属护皮温度元件的尺寸
• KS C 1616-2022 金属护套电阻温度传感器
• KS C IEC 61152-2013 金属护套温度计元件尺寸
• KS M ISO 1232:2003 金属铝生产用氧化铝.二氧化硅含量的测定.还原钼硅酸盐分光光度法
• KS M ISO 901:2003 金属铝生产用氧化铝.绝对密度的测定.比重计法
• KS C 1616-1992 金属铠装温度计电阻传感器
• KS C IEC 61152-2004(2009) 金属护套温度计元件的尺寸
• KS C 1616-1992(2017) 金属护套电阻温度计传感器
• KS C 1616-1992(2022) 金属护套电阻温度计传感器
• KS M ISO 2072:2002 金属铝生产用氧化铝.锌含量的测定.过氧硝酸乙酰酯(PAN)光度法
• KS M ISO 2072:2013 金属铝生产用氧化铝 锌含量的测定 过氧硝酸乙酰酯（PAN）光度法
• KS C 2608-2013 金属电阻材料.温度特性试验法
• KS C 2608-1980 金属电阻材料.温度特性试验法
• KS D 0069-2002(2022) 非晶态金属结晶温度的测定方法
• KS D 0069-2022 非晶态金属结晶温度的测定方法
• KS M ISO 2865:2003 金属铝生产用氧化铝.硼含量的测定.姜黄素分光光度法
• KS M ISO 805:2003 金属铝生产用氧化铝.铁含量的测定.1、10.菲罗啉光度法
• KS M ISO 902:2003 金属铝生产用氧化铝.休止角的测定
• KS C 4808-2011 配电线路无隙氧化聚合金属避雷器
• KS C 6371-2001 电子设备用固定金属氧化膜电阻器
• KS M ISO 1617:2003 金属铝生产用氧化铝.钠含量的测定.火焰发射分光光度法
• KS D 0069-2002(2017) 确定非晶态金属的结晶温度的方法
• KS M ISO 1618:2002 金属铝生产用氧化铝.钒含量的测定.N.苯甲酰.N.苯胲光度法
• KS M ISO 1618:2013 金属铝生产用氧化铝 钒含量的测定 N 苯甲酰 N 苯胲光度法
• KS M ISO 2828:2003 金属铝生产用氧化铝.氟含量的测定.茜素配位酮和氯化镧分光光度法
• KS M ISO 2961:2002 金属铝生产用氧化铝.吸附指数的测定
• KS C 4616-2011(2021) 交流系统用无间隙金属氧化物避雷器
• KS M ISO 2961:2013 金属铝生产用氧化铝 吸附指数的测定
• KS C 6371-1995(2000) 电子设备的氧化金属膜固定电阻使用
• KS C 4616-2011(2016) 交流系统用无间隙金属氧化物避雷器
• KS C 6371-1990 电子设备的氧化金属膜固定电阻使用
• KS C 6371-1995 电子设备的氧化金属膜固定电阻使用
• KS C 2608-2023 金属电阻材料电阻-温度特性测试方法
• KS M ISO 2829:2002 金属铝生产用氧化铝.磷含量的测定.还原磷钼酸盐分光光度法
• KS M ISO 2829:2013 金属铝生产用氧化铝 磷含量的测定 还原磷钼酸盐分光光度法
• KS C 4616-2011 用于交流系统的无隙金属氧化物避雷器
• KS M ISO 2070:2003 金属铝生产用原生氧化铝.钙含量的测定.
• KS M ISO 2070:2013 金属铝生产用原生氧化铝 钙含量的测定

法国标准化协会，关于金属 氧化 温度的标准

• NF A05-120*NF ISO 21608:2012 金属与合金的腐蚀. 金属材料在高温腐蚀条件下等温暴露氧化试验方法.
• NF C96-051*NF EN 62373:2006 金属氧化半导体场效应晶体管（MOSFET）的基本温度稳定性试验
• NF E18-015:1988 工业用温度计.双金属温度计
• NF EN 62373:2006 金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET) 的偏置温度稳定性测试
• NF EN 24501:1994 硬质金属钛的测定过氧化物光度法
• NF E18-013:1988 工业用温度计.金属指示温度计.刻度盘
• NF E18-012:1982 工业用温度计.度盘式金属指示温度计.词汇
• NF C46-205*NF EN 61152:1994 金属铠装的温度计尺寸
• NF EN ISO 11357-6:2018 塑料 分析热差(DSC)第6部分：氧化感应温度（OIT 等温）和氧化感应温度（OIT 动态）的测定
• NF A91-110:2004 金属和氧化物镀层.镀层厚度的测量.显微镜法
• NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 金属和氧化物镀层. 镀层厚度的测量. 显微镜法
• NF A91-110:1995 金属和氧化物镀层.镀层厚度的测定.显微镜法
• NF E29-763:1991 阀门与气瓶.测定在压力下非金属材料在氧气中的自燃温度.氧弹试验
• NF EN ISO 1463:2021 金属涂层和氧化层 涂层厚度的测量 显微切片法
• NF E18-014:1988 工业用温度计.温度记录仪.蒸汽压力、液体膨胀或双金属温度计
• NF A91-404:1966 金属表面处理.铝和铝合金的阳极处理.(阳极氧化).厚度的测量
• NF EN 50446:2006 温度计、热电偶、金属或陶瓷保护管等
• NF L17-021*NF EN 4492:2013 航空航天系列.非金属材料.厌氧乳化剂化合物.螺纹锁.扭矩强度19 Nm
• NF L17-019*NF EN 4488:2013 航空航天系列 非金属材料 厌氧乳化剂化合物 螺纹锁 扭矩强度2 Nm
• NF A91-150*NF EN ISO 15721:2001 金属镀层.孔隙试验.通过亚硫酸/二氧化硫蒸气的金和钯镀层的孔隙度
• NF E15-100:2000 工业压力计和温度计 金属指示压力计和温度计 带控制功能的压力计和温度计
• NF E15-100:1988 工业压力计和温度计.金属指示压力计和温度计.带控制功能的压力计和温度计
• NF ISO 4905:2023 金属和合金的腐蚀 金属材料在熔盐中高温腐蚀的电化学试验方法

国际电工委员会，关于金属 氧化 温度的标准

• IEC 62373:2006 金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
• IEC 61152:1992 金属护套温度计元件的尺寸

日本工业标准调查会，关于金属 氧化 温度的标准

• JIS Z 2282:1996 金属材料在高温下循环氧化试验方法
• JIS Z 2281:1993 金属材料在高温下连续氧化试验的试验方法
• JIS C 6409:1994 电子设备用氧化金属膜固定电阻器
• JIS H 8687:2013 铝和铝合金阳极氧化.电强度测定
• JIS H 8452:2008 抗氧化金属涂层热循环阻力的测试方法
• JIS Z 2287:2003 锅炉管道金属材料的蒸汽氧化试验方法

英国标准学会，关于金属 氧化 温度的标准

• BS EN 24501:1994 硬金属 钛的测定 过氧化光度法
• BS EN 62373:2006 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
• BS ISO 21608:2012 金属和合金的腐蚀 金属材料高温腐蚀条件下等温接触氧化测试 用检测方法
• PD ISO/TS 5094:2023 纳米技术 金属和金属氧化物纳米粒子的过氧化物酶样活性评估
• BS EN ISO 1463:2005 金属和氧化物覆层.覆层厚度的测定.显微镜法
• BS EN ISO 1463:2021 金属和氧化物覆层 覆层厚度的测定 显微镜法
• BS 2M 54:1991 金属热处理的温度控制规范
• BS EN ISO 6581:2010 铝和铝合金阳极氧化.有色阳极氧化涂层对紫外线和高温的比较牢固度测定
• BS EN 61152:1994 金属护皮温度元件的尺寸规范
• BS 2569-2:1965(1999) 喷涂金属涂层规范 - 第2部分：高温下保护钢铁免受腐蚀和氧化
• BS ISO 18338:2015 金属材料. 环境温度下的扭转试验
• BS 7253-2:1997 外科植入物用非金属材料.高纯度氧化铝陶瓷材料规范
• 20/30395419 DC BS EN ISO 1463 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微镜法
• BS IEC 61520:2000 用于温度计传感器的金属热套管 功能维度
• BS ISO 11357-6:2009 塑料 差示扫描量热法（DSC） 氧化诱导时间（等温OIT）和氧化感应温度（动力OIT）的测定
• BS ISO 11357-6:2008 塑料.差示扫描量热法(DSC).氧化诱导时间(等温OIT)和氧化感应温度(动力OIT)的测定
• BS EN ISO 11357-6:2013 塑料.差示扫描量热法(DSC).氧化诱导时间(等温OIT)和氧化诱导温度(动态OIT)的测定
• BS EN ISO 11357-6:2018 塑料 差示扫描量热法（DSC） 氧化诱导时间（等温 OIT）和氧化诱导温度（动态 OIT）的测定
• BS IEC 61520:2001 温度计传感器用金属套管.功能尺寸
• BS IEC 62373-1:2020 半导体器件 金属氧化物、半导体、场效应晶体管 (MOSFET) 的偏置温度稳定性测试 MOSFET 的快速 BTI 测试
• BS EN 4492:2013 航空航天系列.非金属材料.厌氧化合物乳化剂.螺纹锁.扭矩强度19 N
• BS ISO 22910:2020 金属和合金的腐蚀 增材制造钛合金电化学临界局部腐蚀温度（E-CLCT）的测量
• BS IEC 63275-1:2022 半导体器件 碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管的可靠性测试方法 偏置温度不稳定性测试方法

印度尼西亚标准，关于金属 氧化 温度的标准

• SNI 07-1057-1989 二氧化硅金属

行业标准-机械，关于金属 氧化 温度的标准

• JB/T 8803-2015 双金属温度计
• JB/T 8803-1998 双金属温度计
• JB/T 9670-1999 金属氧化物避雷器阀片用氧化锌
• JB/T 9670-2014 金属氧化物避雷器电阻片用氧化锌
• JB/T 10492-2011 金属氧化物避雷器用监测装置
• JB/T 9453-2015 气象用双金属温度计 技术条件
• JB/T 9453-1999 气象用双金属温度计 技术条件
• JB/T 7617-1994 六氟化硫罐式无间隙金属氧化物避雷器
• JB/T 8444-2015 粉末冶金法银金属氧化物电触头技术条件
• JB/T 8444-1996 粉末冶金法银金属氧化物电触头技术条件
• JB/T 9672.1-1999 直流有串联间隙金属氧化物避雷器
• JB/T 3751-1997 家用和类似用途双金属温度控制器
• JB/T 9672.2-2005 串联间隙金属氧化物避雷器.第2部分:35kV及以下交流系统用有串联间隙金属氧化物避雷器
• JB/T 9672.1-2013 串联间隙金属氧化物避雷器 第1部分:3 kV及以下直流系统用有串联间隙金属氧化物避雷器
• JB/T 5894-1991 交流无间隙金属氧化物避雷器使用导则
• JB/T 10492-2004 交流无间隙金属氧化物避雷器用监测器

行业标准-气象，关于金属 氧化 温度的标准

• QX/T 28-2004 双金属温度计

KR-KS，关于金属 氧化 温度的标准

• KS B 5320-2008(2023) 双金属温度计
• KS C 2608-2013(2023) 金属电阻材料电阻温度特性试验方法

德国标准化学会，关于金属 氧化 温度的标准

• DIN EN 62373:2007 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
• DIN EN 62373:2007-01 金属氧化物、半导体、场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试
• DIN EN ISO 1463:2021-08 金属和氧化物涂层 涂层厚度测量 显微方法
• DIN EN ISO 1463:2004 金属和氧化物镀层.镀层厚度的测定.显微镜法
• DIN EN 61152:1994 金属护套温度计元件的尺寸
• DIN 30901:2016 黑色金属材料的热处理. 内氧化深度和外观形式的测定
• DIN 30901:2016-12 黑色金属材料热处理内部氧化深度和外观形式的测定
• DIN 16196:2015-03 带电气限位接触装置的表盘式温度计 填充系统温度计和双金属温度计
• DIN EN 2744:1992-05 航天系列；非金属材料；首选测试温度
• DIN 16196:2015 带电气极限触点装置的指针式温度计.填充系统温度计和双金属片温度计
• DIN 16196:2013 带电气极限触点装置的指针式温度计.填充系统温度计和双金属片温度计
• DIN EN 12470-1:2009-11 临床温度计第1部分：具有最大装置的金属玻璃液体温度计

行业标准-电力，关于金属 氧化 温度的标准

• DL/T 1162-2012 火电厂金属材料高温蒸汽氧化试验方法
• DL/T 1702-2017 金属氧化物避雷器状态检修导则
• DL/T 1703-2017 金属氧化物避雷器状态评价导则
• DL/T 1156-2012 串联补偿装置用金属氧化物限压器

国际标准化组织，关于金属 氧化 温度的标准

• ISO 21608:2012 金属和合金的腐蚀 金属材料高温腐蚀条件下等温接触氧化测试 用检测方法
• ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层 - 涂层厚度测量 - 显微镜法
• ISO/TS 5094:2023 纳米技术.金属和金属氧化物纳米颗粒过氧化物酶样活性的评估
• ISO 1463:1973 金属和氧化物镀层.镀层厚度的测定.显微镜法
• ISO 1463:1982 金属和氧化物镀层.镀层厚度的测定.显微镜法
• ISO 1463:2003 金属和氧化物覆盖层.覆盖层厚度的测定.显微镜法
• ISO 6892:1998 金属材料 环境温度下拉伸试验
• ISO 2767:1973 金属表面处理.铝及其合金的阳极氧化.45度镜面反射.总反射.图像清晰度
• ISO 18338:2015 金属材料. 环境温度下的扭转试验
• ISO/TR 20489:2018 纳米技术.水样中金属和金属氧化物纳米材料表征的样品制备

GSO，关于金属 氧化 温度的标准

• GSO ISO 21608:2016 金属和合金的腐蚀 金属材料高温腐蚀条件下等温暴露氧化试验的试验方法
• OS GSO ISO 21608:2016 金属和合金的腐蚀 金属材料高温腐蚀条件下等温暴露氧化试验的试验方法
• GSO IEC 62373:2014 金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET) 的温度偏置稳定性测试
• OS GSO IEC 62373:2014 金属氧化物、半导体、场效应晶体管 (MOSFET) 的偏置温度稳定性测试
• GSO ISO 1463:2013 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微方法
• GSO IEC 61152:2015 金属涂层温度计元件尺寸
• BH GSO IEC 61152:2016 金属护套温度计元件尺寸
• OS GSO ISO 6892:2007 金属材料 环境温度下的拉伸测试
• GSO ISO 17864:2013 金属和合金的腐蚀 受控临界点蚀温度的测定
• GSO ISO 15721:2013 金属电镀 孔隙率测试 硫酸/二氧化硫蒸气金或钯金属电镀的孔隙率
• GSO ISO 4501:2015 硬质合金 钛的测定 过氧化光度法
• BH GSO ISO 4501:2017 硬质合金 钛的测定 过氧化光度法

ES-UNE，关于金属 氧化 温度的标准

• UNE-EN 24501:1993 硬金属 钛的测定 光度过氧化物法
• UNE-EN 62373:2006 金属氧化物、半导体、场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试
• UNE-EN ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微镜法
• UNE-EN 61152:1993 金属护套温度计元件的尺寸

US-CFR，关于金属 氧化 温度的标准

• CFR FED FCGS 07140-1979 金属氧化物防水

US-FCR，关于金属 氧化 温度的标准

• FCR UFGS-07 16 19-2007 金属氧化物防水
• FCR FED GSA/PBS 07140-1980 金属氧化物防水
• FCR FED FCGS 07140-1979 金属氧化物防水
• FCR COE CEAGS 07140A-1992 金属氧化物防水，NOTICE 1-4（1995）INCORPORATED
• FCR COE CWGS 16340-1993 户外站级金属氧化物型避雷器

丹麦标准化协会，关于金属 氧化 温度的标准

• DS/EN 62373:2006 金属氧化物、半导体、场效应晶体管（MOSFET）的偏置温度稳定性测试
• DS/EN ISO 4518:1995 金属和氧化覆盖层．覆盖层厚度测量．表面光度仪法
• DS/EN ISO 1463:2004 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微法
• DS/ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微法
• DS/ISO 1463:1983 金属和氧化物镀层. 镀层厚度的测定. 显微镜法
• DS/EN ISO 1463:1994 金属和氧化覆盖层．覆盖层厚度测量．显微镜法
• DS/EN 61152:2012 金属铠装温度计元件尺寸
• DS/EN ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微镜方法（ISO 1463:2021）
• DS/EN 12470-1+A1:2009 临床温度计 第1部分：带最大装置的金属玻璃液体温度计

SCC，关于金属 氧化 温度的标准

• CEI EN 62373:2007 金属氧化物、半导体、场效应晶体管 (MOSFET) 的偏置温度稳定性测试
• DANSK DS/EN 62373:2006 金属氧化物、半导体、场效应晶体管 (MOSFET) 的偏置温度稳定性测试
• CAN/CGSB 31.114-M91-1991 氧化黑色金属转化防护
• IEC PAS 62204:2000 测量和使用电阻温度系数确定金属化线温度的标准方法
• DANSK DS/ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微方法
• BS EN ISO 1463:2004 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微镜法
• BS EN ISO 1463:1995 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微镜法
• DANSK DS/EN 61152:2012 金属护套温度计元件尺寸
• CEI EN 61152:1998 金属护套温度计元件尺寸
• CAN/CGSB 14.5-M88-1988 商用/工业用双金属温度计
• BS M 54:1982 金属热处理温度控制规范
• CAN/CGSB-14.5-M88-1988 指示温度计 双金属 商业/工业型
• CAN/CGSB-31.114-M91-1991 用于黑色金属的黑色氧化物转化涂层
• NS-EN ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微镜法 (ISO 1463:2021)
• DANSK DS/EN ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层 涂层厚度测量 显微镜方法 (ISO 1463:2021)
• NS-EN ISO 1463:2004 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微镜方法（ISO 1463：2003）
• NS-EN ISO 1463:1994 金属和氧化物覆盖层 覆盖层厚度测量 显微镜法（ISO 1463:1982）
• NS 1181:1979 金属和氧化物涂层 通过横截面的显微镜检查测量厚度
• UNE-EN 12470-1:2000 临床温度计 第1部分：带最大装置的金属玻璃液体温度计
• NS-EN 12470-1:2000 临床温度计 第1部分：带最大装置的金属玻璃液体温度计
• DIN 16196 E:2013 带电气限位接触装置的表盘式温度计 填充系统温度计和双金属温度计 草案
• BS DD 215:1993 压力钢热处理中金属温度的验证规范

(美国)福特汽车标准，关于金属 氧化 温度的标准

• FORD WSK-M2G329-A-2007 结构用金属/金属最高固化温度180℃、最高工作温度80℃的无溶剂型环氧树脂胶粘剂***与标准FORD WSS-M99P1111-A一起使用***
• FORD E-MR004-4009-1984 氢氧化钙金属脱模涂料
• FORD WSK-M2G329-A2-2007 结构用金属/金属最高固化温度180℃、最高工作温度80℃的无溶剂型环氧树脂胶粘剂***与标准FORD WSS-M99P1111-A一起使用***列于标准WSK-M2G329-A上
• FORD WSK-M2G329-A3-2007 结构用金属/金属最高固化温度180℃、最高工作温度60℃的无溶剂型环氧树脂胶粘剂***与标准FORD WSS-M99P-1111A一起使用***列于标准WSK-M2G329-A上

美国机械工程师协会，关于金属 氧化 温度的标准

• ASME B40.3-1997 双金属精密温度计
• ASME B40.3-1990 双金属精密温度计

台湾地方标准，关于金属 氧化 温度的标准

• CNS 12114-1987 金属镀层与金属氧化层用横截面显微镜式厚度测定法
• CNS 7629-1981 电热用金属材料电阻随温度变化之系数测试法
• CNS 8660-1982 金属电阻材料之电阻–温度特性试验法

IT-UNI，关于金属 氧化 温度的标准

• UNI 5012-1962 船舶用机械温度计．金属盒温度计
• UNI 5821-1966 粉末冶金．氢重量损失的金属粉末氧化作用程度测定
• UNI 5019-1962 船舶用机械温度计．金属盒温度计．皿，套管和套箍
• UNI 6404-1969 P 化学和电化表面处理．金属沉淀物和氧化层的局部厚度的测量，取代UNI 4237．微观法

欧洲电工标准化委员会，关于金属 氧化 温度的标准

• EN 62373:2006 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验 IEC 62373:2006
• EN 61152:1994 金属护套温度计元件的尺寸

PL-PKN，关于金属 氧化 温度的标准

• PN H04733-1972 温度影响下金属和合金电阻变化因素的测定
• PN-EN ISO 1463-2021-10 E 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微法（ISO 1463:2021）
• PN C84039-09-1988 氢氧化钾技术重金属含量的测定
• PN BN 2211-10-1966 Pnom（名义压力）到40kG/cm2．温度300摄氏度的金属检修孔

国家质检总局，关于金属 氧化 温度的标准

• GB/T 12690.29-2000 稀土金属及其氧化物化学分析方法 荧光光度法测定稀土氧化物中氧化铈量
• GB/T 13397-2008 合金内氧化法银金属氧化物电触头技术条件
• GB 13397-1992 合金内氧化法银金属氧化物电触头技术条件
• GB/T 6462-2005 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法
• GB/T 16480.5-1996 金属钇及氧化钇化学分析方法 金属钇中氮量的测定
• GB/T 15072.12-2008 贵金属合金化学分析方法.银合金中钒量的测定.过氧化氢分光光度法
• GB/T 15917.1-1995 金属镝及氧化镝化学分析方法 发射光谱法测定氧化钆、氧化铽、氧化钬、氧化铒和氧化钇量
• GB/T 16480.1-1996 金属钇及氧化钇化学分析方法 氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钕、氧化钐、氧化铕、氧化钆、氧化铽、氧化镝、氧化钬、氧化铒、氧化铥、氧化镱和氧化镥量的测定
• GB/T 1425-1996 贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法
• GB/T 19900-2005 金属铠装温度计元件的尺寸
• GB 3490-1983 含铜贵金属材料氧化铜 金相检验方法
• GB 11032-2010 交流无间隙金属氧化物避雷器
• GB/T 11032-2010 交流无间隙金属氧化物避雷器
• GB 11032-2000 交流无间隙金属氧化物避雷器
• GB/T 14992-2005 高温合金和金属间化合物高温材料的分类和牌号
• GB/T 25083-2010 ±800kV直流系统用金属氧化物避雷器
• GB/T 4372.6-2001 直接法氧化锌化学分析方法 金属锌的检验
• GB/T 16480.3-1996 金属钇及氧化钇化学分析方法 氟量的测定
• GB/T 16480.4-1996 金属钇及氧化钇化学分析方法 硫量的测定
• GB/T 15652-1995 金属氧化物半导体气敏元件总规范
• GB/T 4067-1999 金属材料电阻温度特征参数的测定
• GB/T 22687-2008 家用和类似用途双金属温度控制器
• GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
• GB/T 31850-2015 非金属密封材料热分解温度测定方法
• GB/T 19901-2005 温度计检测元件的金属套管 实用尺寸
• GB/T 29189-2012 碳纳米管氧化温度及灰分的热重分析法
• GB/T 15072.17-2008 贵金属合金化学分析方法.铂合金中钨量的测定.三氧化钨重量法

行业标准-化工，关于金属 氧化 温度的标准

• HG/T 4749-2014 金属氧化物混相颜料
• HG/T 3942-2007 工业用氢氧化钠 金属及非金属离子含量的测定 ICP法

美国国防后勤局，关于金属 氧化 温度的标准

• DLA MIL-T-6508 B VALID NOTICE 3-2005 双金属自指示温度计
• DLA MIL-T-6508 B NOTICE 2-1999 双金属自指示温度计
• DLA MIL-T-6508 B (1)-1963 双金属自指示温度计
• DLA MIL-T-6508 B-1961 双金属自指示温度计
• DLA MS28028 REV C VALID NOTICE 3-2005 双金属自指示温度计
• DLA MS28028 REV C NOTICE 2-1999 双金属自指示温度计
• DLA MS28028 REV C-1969 双金属自指示温度计
• DLA MS28028 REV D-2011 温度计，自指示，双金属
• DLA A-A-54520-1991 双金属自动指示温度计
• DLA SMD-5962-96665 REV D-2005 抗辐射互补金属氧化物半导体晶体管对互补金属氧化物半导体,或互补金属氧化物半导体对互补金属氧化物半导体电压转换机构,硅单片电路数字微电路
• DLA A-A-55564/3 B-2004 金属氧化物,径向引线压敏电阻
• DLA A-A-55562 A VALID NOTICE 1-2006 芯片压敏电阻(金属氧化物可变电阻)
• DLA A-A-55562 A-2001 芯片压敏电阻(金属氧化物可变电阻)
• DLA QPL-24236-30-2006 温度调节装置(双金属)开关.一般规格
• DLA A-A-55562 A VALID NOTICE 2-2011 电阻器，电压敏感（变阻器，金属氧化物），芯片

立陶宛标准局，关于金属 氧化 温度的标准

• LST EN 62373-2006 金属氧化物、半导体、场效应晶体管（MOSFET）的偏置温度稳定性测试（IEC 62373:2006）
• LST EN ISO 1463:2004 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微镜法（ISO 1463:2003）
• LST EN ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层 涂层厚度的测量 显微镜法（ISO 1463:2021）
• LST EN 12470-1-2001+A1-2009 临床温度计 第1部分：带最大装置的金属玻璃液体温度计

ZA-SANS，关于金属 氧化 温度的标准

• SANS 144:2008 金属及氧化涂层.涂层厚度测量.显微方法
• SANS 144:1982 金属和氧化物涂层．涂层厚度测量．显微镜法
• SANS 6892:1998 金属材料．环境温度条件下的拉伸试验

行业标准-建材，关于金属 氧化 温度的标准

• JC/T 2142-2012 金属冶炼用氧化镁陶瓷
• JC/T 2022-2010 贵金属熔炼用氧化锆陶瓷制品
• JC/T 2024-2010 陶瓷金属卤灯用半透明氧化铝管

SE-SIS，关于金属 氧化 温度的标准

• SIS SS-ISO 1463:1983 金属和氧化涂层．涂层厚度的测量．显微镜法
• MNC 60-1981 铁合金、金属和氧化物．合金材料．概述
• MNC 60 E-1981 铁合金、金属和氧化物．铝合金材料．概述
• SIS SS 11 23 24-1981 金属材料．环境温度下的松弛测试
• SIS SMS 2953-1971 通过显微镜观察横截面，对金属和氧化物涂层厚度的测量

美国国防部标准化文件（含MIL标准），关于金属 氧化 温度的标准

• DOD A-A-53034-1987 二金属自动指示温度计
• DOD A-A-51838-1987 牙科研磨的带分类(金属铝氧化物)
• DOD A-A-54699-1992 8-1/2英尺刻度盘二金属自动指示温度计

国家计量检定规程，关于金属 氧化 温度的标准

• JJG 226-2001 双金属温度计检定规程
• JJG 287-1982 气象用双金属温度计检定规程

国家计量技术规范，关于金属 氧化 温度的标准

• JJF 1908-2021 双金属温度计校准规范

IEC - International Electrotechnical Commission，关于金属 氧化 温度的标准

• PAS 62204-2000 测量和使用电阻温度系数确定金属化线温度的标准方法（1.0 版）

YU-JUS，关于金属 氧化 温度的标准

• JUS C.A6.031-1990 金属和氧化物镀层．镀层厚度的测定．显微镜法
• JUS C.T7.226-1984 铝和铝合金的阳极氧化．氧化物涂层厚度的微观测定

欧洲标准化委员会，关于金属 氧化 温度的标准

• EN ISO 1463:1994 金属和氧化物镀层.镀层厚度的测定.显微镜法
• EN ISO 1463:2021 金属和氧化物镀层.镀层厚度的测定.显微镜法
• EN ISO 1463:2004 金属和氧化物镀层.镀层厚度的测定.显微镜法 ISO 1463-2003
• EN 12470-1:2000+A1:2009 医用温度计.第1部分:带限位装置的玻璃式液体金属温度计

HU-MSZT，关于金属 氧化 温度的标准

• MNOSZ 5719-1952 铁，温度，钢铁和金属锭错误
• MSZ 18092/2-1971 没有氧化膜的铝生产和他的合金金属设备色阳极氧化，检测
• MSZ 105/16-1979 室温下对金属，合金强度试验缺口试件
• MSZ 105/27-1982 室温下对金属，合金松弛试验强度的测试
• MSZ KGST 1883-1979 工业氢氧化钠重金属含量的测定

国家军用标准-总装备部，关于金属 氧化 温度的标准

• GJB 445-1988 胶粘剂高温拉伸强度试验方法（金属对金属）
• GJB 3794-1999 电接触银基金属氧化物合金规范
• GJB 448-1988 胶粘剂低温90°剥离强度试验方法（金属与金属）
• GJB 447-1988 胶粘剂高温90°剥离强度试验方法（金属与金属）
• GJB 444-1988 胶粘剂高温拉伸剪切强度试验方法（金属对金属）
• GJB 2030A-2021 金属材料高温断裂韧度试验方法
• GJB 3794A-2018 电接触银基金属氧化物加工材规范
• GJB 1806A-2021 铌铪合金推力室高温抗氧化涂层规范
• GJB 1806-1993 铌铪合金推力室高温抗氧化涂层规范
• GJB 2030-1994 高温下金属材料断裂韧度JIC试验方法
• GJB 952-1990 贵金属及其合金应变丝电阻－温度特性试验方法
• GJB 9573-2018 航天发动机用TaW10合金高温抗氧化涂层规范
• GJB 9568-2018 航天用铌钨合金(NbW5-1)高温抗氧化涂层规范

美国国家标准学会，关于金属 氧化 温度的标准

• ANSI/ASTM B70:1990 电加热金属材料电阻随温度变化的测试方法
• ANSI/ASTM F1330:1991 金属研磨法除去管内氧化皮指南
• ANSI/IEEE C62.11:2005 交流电源电路用金属氧化物避雷器标准

RU-GOST R，关于金属 氧化 温度的标准

• GOST 26318.6-1984 非金属矿物材料.氧化钙和氧化镁含量测定法
• GOST 26318.7-1984 非金属矿物材料.氧化钾和氧化钠含量测定法
• GOST 25702.18-1983 稀土金属精选矿.三氧化二铝、氧化钡、氧化铁、氧化钙、二氧化硅、氧化镁、二氧化钛、三氧化二铬、二氧化锆含量光谱测定法
• GOST 23862.19-1979 稀土金属及其氧化物.钛测定法
• GOST 23862.20-1979 稀土金属及其氧化物.钒测定法
• GOST 23862.23-1979 稀土金属及其氧化物.锰测定法
• GOST 23862.24-1979 稀土金属及其氧化物.铁测定法
• GOST 23862.25-1979 稀土金属及其氧化物.钴测定法
• GOST 23862.26-1979 稀土金属及其氧化物.镍测定法
• GOST 23862.27-1979 稀土金属及其氧化物.铌测定法
• GOST 23862.29-1979 稀土金属及其氧化物.钼测定法
• GOST 23862.30-1979 稀土金属及其氧化物.钽测定法
• GOST 23862.31-1979 稀土金属及其氧化物.钍测定法
• GOST 23862.32-1979 稀土金属及其氧化物.氟测定法
• GOST 23862.33-1979 稀土金属及其氧化物.硅测定法
• GOST 23862.34-1979 稀土金属及其氧化物.磷测定法
• GOST 23862.35-1979 稀土金属及其氧化物.硫测定法
• GOST 23862.36-1979 稀土金属及其氧化物.氯测定法
• GOST 22706-1977 金属.在-100～-269℃温度下拉伸试验法
• GOST 4.156-1985 气压式温度计.临界点测量和双金属温度计与温度调节装置.指标名称
• GOST 23862.7-1979 稀土金属及其氧化物.测定稀土元素氧化物杂质的化学光谱法
• GOST 25702.9-1983 稀土金属精选矿.五氧化二铌和五氧化二钽总含量测定法
• GOST 23862.1-1979 稀土金属及其氧化物.稀土元素氧化物杂质的光谱测定法
• GOST 23862.2-1979 稀土金属及其氧化物.稀土元素氧化物杂质的光谱测定法
• GOST 25702.6-1983 稀土金属精选矿.氧化钙含量测定法
• GOST 26318.3-1984 非金属矿物材料.氧化铁含量测定法
• GOST 23862.28-1979 稀土金属及其氧化物.钼和钨测定法
• GOST 25702.2-1983 稀土金属精选矿.氧化钡含量测定法
• GOST 22848-1977 金属.在-100～-269℃温度下冲击变曲试验法
• GOST R 50233.5-1992 五氧化铌.化学原子发射光谱法测定金属杂质
• GOST 26318.2-1984 非金属矿物材料.二氧化硅含量测定法
• GOST 26318.5-1984 非金属矿物材料.二氧化钛含量测定法
• GOST 26318.9-1984 非金属矿物材料.三氧化硫含量测定法
• GOST 25702.7-1983 稀土金属精选矿.二氧化硅含量测定法
• GOST 25702.14-1983 稀土金属精选矿.二氧化钛含量测定法
• GOST 25702.17-1983 稀土金属精选矿.二氧化锆含量测定法
• GOST 25702.8-1983 稀土金属精选矿.五氧化二铌含量测定法
• GOST 26318.4-1984 非金属矿物材料.三氧化二锰含量测定法
• GOST 26318.10-1984 非金属矿物材料.五氧化二磷含量测定法
• GOST 23862.0-1979 稀土金属及其氧化物.分析方的一般要求
• GOST 25702.1-1983 稀土金属精选矿.三氧化二铝含量测定法
• GOST 25702.13-1983 稀土金属精选矿.五氧化二钽含量测定法
• GOST 25702.15-1983 稀土金属精选矿.五氧化二磷含量测定法
• GOST 25702.16-1983 稀土金属精选矿.三氧化二铬含量测定法

行业标准-兵工民品，关于金属 氧化 温度的标准

• WJ 461-1995 金属覆盖层.光学仪器用黑色金属氧化层规范

CZ-CSN，关于金属 氧化 温度的标准

• CSN ISO 1463:1993 金属涂层和氧化涂层．涂层厚度测量．显微镜方法
• CSN 70 0641 Cast.3-1976 玻璃的化学分析．测定碱金属氧化物．火焰光度法（使用合成溶液）
• CSN 65 2063-1981 氢氧化钠技术．重金属的测定方法
• CSN 65 1410-1961 碱金属氢氧化物，技术．技术提供代码
• CSN 65 2106-1986 工业用氢氧化钾．重金属含量的测定．硫化氢法

(美国)军事条例和规范，关于金属 氧化 温度的标准

• ARMY MIL-T-55221 (1)-1964 M2型二金属自动指示温度计
• ARMY MIL-T-55221-1963 M2型二金属自动指示温度计
• ARMY MIL-DTL-13924 D VALID NOTICE 1-2003 黑色金属涂层、氧化层和黑色涂层
• ARMY MIL-DTL-13924 D-1999 黑色金属涂层、氧化层和黑色涂层
• ARMY MIL-M-48646 NOTICE 1-1997 多片互补金属氧化物半导体SCO/DLA数字化微电路
• ARMY MIL-M-48646-1986 多片互补金属氧化物半导体SCO/DLA数字化微电路
• ARMY MIL-M-63530 NOTICE 1-1997 互补金属氧化物半导体(逻辑)数字微电路
• ARMY MIL-M-63530 (1)-1987 互补金属氧化物半导体(逻辑)数字微电路
• ARMY MIL-M-63530-1981 互补金属氧化物半导体(逻辑)数字微电路

加拿大通用标准委员会，关于金属 氧化 温度的标准

• CGSB 14.6M-1989 船用自动指示双金属温度计

行业标准-石油，关于金属 氧化 温度的标准

• SY 5900-1993 双金属井下温度计技术条件
• SY/T 5900-1993 双金属井下温度计技术条件

工业和信息化部/国家能源局，关于金属 氧化 温度的标准

• JB/T 12854-2016 金属表面氧化锆转化处理技术条件
• JB/T 8444-2014 粉末冶金法银金属氧化物电触头技术条件

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