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能谱射线
本专题涉及能谱射线的标准有71条。
国际标准分类中，能谱射线涉及到分析化学、无损检测、天文学、大地测量学、地理学、光学和光学测量、电子元器件综合、电学、磁学、电和磁的测量、辐射测量、犯罪行为防范、光学设备、土质、土壤学。
在中国标准分类中，能谱射线涉及到基础标准与通用方法、化学、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电子光学与其他物理光学仪器、标准化、质量管理、综合测试系统、水环境有毒害物质分析方法、半导体分立器件综合、通用核仪器、犯罪鉴定技术、土壤环境质量分析方法。
德国标准化学会，关于能谱射线的标准
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
英国标准学会，关于能谱射线的标准
- BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定
- BS EN ISO 18589-3:2024 环境中放射性的测量 土壤.用伽马射线能谱法测定伽马射线放射性核素的测试方法
- BS ISO 20903:2019 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- BS ISO 18118:2015 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- BS ISO 18118:2024 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
国际标准化组织，关于能谱射线的标准
- ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
- ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- ISO 18118:2024 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验确定的相对灵敏度因子的使用指南
- ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 - 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于能谱射线的标准
- GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
GSO，关于能谱射线的标准
- GSO ISO 19830:2016 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BH GSO ISO 19830:2017 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BH GSO ISO 16129:2015 表面化学分析 X射线光电子能谱 评估X射线光电子能谱仪日常性能的程序
- OS GSO ISO 16129:2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 评估X射线光电子能谱仪日常性能的程序
- BH GSO ISO 18516:2016 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定
- OS GSO ISO 18516:2013 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定
- GSO ISO 18516:2013 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定
- BH GSO ISO 20903:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰强度和报告结果时所需信息的方法
- GSO ISO 20903:2013 表面化学分析 电子钻能谱和 X 射线光电子能谱 用于确定峰强度的方法和准备结果报告时所需的信息
- GSO IEC 60759:2015 半导体 X 射线能谱仪的标准测试程序
- OS GSO IEC 60759:2015 半导体 X 射线能谱仪的标准测试程序
- BH GSO ISO 18118:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- GSO ISO 18118:2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- OS GSO ISO 18118:2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
SCC，关于能谱射线的标准
- DIN ISO 16129 E:2020 文件草案 表面化学分析 X 射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序（ISO 16129:2018） 英文文本
- BS PD ISO/TR 19319:2003 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- BS ISO 20903:2006 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- BS ISO 18118:2004 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
未注明发布机构，关于能谱射线的标准
- DIN ISO 16129 E:2020-01 表面化学分析 X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序
美国材料与试验协会，关于能谱射线的标准
- ASTM E996-10(2018) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E996-19 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E995-11 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
- ASTM C1402-17 土壤样品高分辨率γ射线能谱的标准指南
国家质检总局，关于能谱射线的标准
- GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
- GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
- GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 28893-2024 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法
- GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
- GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
- GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
国家计量技术规范，关于能谱射线的标准
- JJF 2067-2023 射线能谱仪校准规范
RU-GOST R，关于能谱射线的标准
- GOST 25645.118-1984 离散源的X射线辐射.能谱和角坐标
- GOST 25645.148-1989 太阳γ射线.能量谱
- GOST 25645.132-1986 离散源的宇宙伽玛射线.能谱和角坐标
行业标准-电子，关于能谱射线的标准
- SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
韩国科技标准局，关于能谱射线的标准
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- KS C IEC 60759:2009 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
- KS C IEC 60759-2009(2019) 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
- KS C IEC 60759-2019 半导体 X 射线能谱仪的标准测试程序
- KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- KS D ISO 19319-2020 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析仪观察到的样品面积的测定
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
- KS D ISO 18118-2020 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 均质材料定量分析中实验确定的相对灵敏度因子的使用指南
美国国家标准学会，关于能谱射线的标准
- ANSI/ASTM D3649:1998 水的高分辨率γ射线能谱测定方法
CZ-CSN，关于能谱射线的标准
- CSN 35 6575 Z1-1997 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
美国电气电子工程师学会，关于能谱射线的标准
- IEEE 759-1984 半导体X射线能谱分析器的试验程序
- ANSI/IEEE Std 759-1984 半导体 X 射线能谱仪的 IEEE 标准测试程序
国际电工委员会，关于能谱射线的标准
- IEC 60759:1983 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
行业标准-司法，关于能谱射线的标准
- SF/T 0139-2023 泥土检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
SE-SIS，关于能谱射线的标准
- SIS SS IEC 759:1986 核检测仪表．半导体X射线能谱仪检测程序
