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电子显微镜的基本结构
本专题涉及电子显微镜的基本结构的标准有54条。
国际标准分类中，电子显微镜的基本结构涉及到光学和光学测量、煤、金属材料试验、光学设备、长度和角度测量、半导体分立器件、集成电路、微电子学、空气质量、分析化学、危险品防护、微处理机系统、信息技术应用、电子设备用机械构件。
在中国标准分类中，电子显微镜的基本结构涉及到基础标准与通用方法、光学仪器综合、电子光学与其他物理光学仪器、煤炭分析方法、金相检验方法、放大镜与显微镜、电子元件综合、半导体分立器件综合、、物理学与力学、光学计量、环境卫生、卫生、安全、劳动保护、电子技术专用材料、建材原料矿、基础标准和通用方法、标准化、质量管理。
国家质检总局，关于电子显微镜的基本结构的标准
- GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构.高分辨透射电子显微镜检测方法
- GB/Z 26083-2010 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法（扫描隧道显微镜）
- GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
- GB/T 28872-2012 活细胞样品纳米结构的磁驱动轻敲模式原子力显微镜检测方法
- GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
行业标准-机械，关于电子显微镜的基本结构的标准
- JB/T 5586-1991 透射电子显微镜分类和基本参数
日本工业标准调查会，关于电子显微镜的基本结构的标准
- JIS M 8816:1992 固体矿物燃料.煤的基本微观结构和反射系数的显微镜测量法
SE-SIS，关于电子显微镜的基本结构的标准
- SIS SS CECC 00013-1985 基本规范．半导体芯片的扫描电子显微镜观察
法国标准化协会，关于电子显微镜的基本结构的标准
- NF T25-111-4:1991 碳纤维-织构和结构-第4部分：扫描电子显微镜断口法
IT-UNI，关于电子显微镜的基本结构的标准
- UNI 7329-1974 使用复制品进行金属材料的电子显微镜检测．显微结构检测用复制品的准备
国际标准化组织，关于电子显微镜的基本结构的标准
- ISO 29301:2017 微光束分析.分析电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
- ISO 29301:2010 微光束分析.分析的透射电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
- ISO/FDIS 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
- ISO 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
- ISO 13095:2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
未注明发布机构，关于电子显微镜的基本结构的标准
- BS CECC 13:1985(1999) 电子元件质量评估协调制度：基本规范：半导体芯片的扫描电子显微镜检查
英国标准学会，关于电子显微镜的基本结构的标准
- BS CECC 00013:1985 电子元器件质量评定协调体系.基本规范:半导体小片的扫描电子显微镜检验
- BS ISO 29301:2017 微束分析 分析电子显微镜 利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
- BS ISO 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
- BS ISO 29301:2010 微光束分析.分析透射电子显微镜法.利用具有周期性结构的标准物质进行标定图像放大的方法
- BS ISO 13095:2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
美国材料与试验协会，关于电子显微镜的基本结构的标准
- ASTM D5755-95 用透射电子显微镜对尘埃中石棉结构值浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-02 用透射电子显微镜对尘埃中石棉结构值浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-03 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-09 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-09(2014)e1 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D6480-05(2010) 用透射电子显微镜对表面擦拭取样中石棉结构值浓度间接制备和分析的标准试验方法
- ASTM D6480-99 用传输电子显微镜检查法对石棉结构数密度进行表面抽样、间接制备和分析的标准试验方法
- ASTM D6480-05 用透射电子显微镜检查法对石棉结构数密度进行表面的擦拭取样、间接制备和分析的标准试验方法
- ASTM D6480-19 用透射电子显微术对石棉结构表面进行擦拭取样、间接制备和分析的标准试验方法
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子显微镜的基本结构的标准
- GB/T 33839-2017 基于生物效应含碳基纳米材料生物样品的透射电子显微镜检测方法
- GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
欧洲电信标准协会，关于电子显微镜的基本结构的标准
- ETSI TR 102 438-2006 电子签名和基础结构(ESI).欧洲电子签名标准的应用(版本1.1.1)
- ETSI TS 102 734-2007 电子签名和基础结构.基于TS 101 733的CMS高级电子签名(CAdES)模式(版本1.1.1)
- ETSI SR 002 176-2003 电子签名和基础结构(ESI).安全电子签名的算法和参数(版本1.1.1)
- ETSI TS 102 904-2007 电子签名和基础结构.基于TS 101 903(XAdES)的XML高级电子签名(CAdES)模式(版本1.1.1)
- ETSI TR 102 153-2003 电子签名和基础结构(ESI).认证模式的预研究(版本1.1.1)
- ETSI TR 102 272-2003 电子签名和基础结构(ESI).签字策略的ASN.1格式(版本1.1.1)
- ETSI SR 003 232-2011 电子签名和基础结构(ESI).PDF高级电子签名模式(PAdES).电子签名的可打印标志(版本1.1.1)
- ETSI TS 101 456-2005 电子签名和基础结构(ESI).鉴发资格证书的认证机构的政策要求(版本1.3.1)
- ETSI TS 101 456-2006 电子签名和基础结构(ESI).鉴发资格证书的认证机构的政策要求(版本1.4.3)
- ETSI TR 102 038-2002 TC安全.电子签名和基础结构(ESI).签名策略的XML格式(版本1.1.1)
- ETSI TR 102 045-2003 电子签名和基础结构(ESI).扩展商业模型的签字策略(版本1.1.1)
- ETSI TS 102 778-2009 电子签名和基础结构(ESI).PDF高级电子签名设置文件.基于ISO 32000-1的CMS设置文件(版本1.1.1)
- ETSI TR 102 317-2004 电子签名和基础结构(ESI).ETSI交付物的维护程序和工具(版本1.1.1)
- ETSI TS 102 778-2-2009 电子签名和基础结构(ESI).PDF高级电子签名设置文件.第2部分:PAdES基础-基于ISO 32000-1的设置文件(版本1.2.1)
RU-GOST R，关于电子显微镜的基本结构的标准
- GOST 25122-1982 电子计算机的统一系统.技术资料库结构.基本尺寸
- GOST R 57720-2017 教育中的信息和通信技术 电子档案袋信息基本结构
- GOST R 59631-2021 用于固定无线电电子装置的第三级基本承载结构 设计和尺寸
行业标准-电子，关于电子显微镜的基本结构的标准
- SJ 20370-1993 军用电子测试设备通用规范.设计和结构的基本要求
GOSTR，关于电子显微镜的基本结构的标准
- GOST R 58240-2018 低压系统 电缆系统 结构化电缆系统的水平子系统 基本原则
- GOST R 58241-2018 低压系统 电缆系统 结构化电缆系统的骨干子系统 基本原则
BELST，关于电子显微镜的基本结构的标准
- STB 2210-2011 纳米级碳和非碳材料以及基于它们的复合材料 使用扫描电子显微镜测量确定参数的方法
- STB 2209-2011 纳米级碳和非碳材料以及基于它们的复合材料 使用扫描电子显微镜测量确定元素组成的技术
