硅 氧 峰
本专题涉及硅 氧 峰的标准有33条。
国际标准分类中，硅 氧 峰涉及到半导体材料、金属材料试验、绝缘流体、化工产品、复合增强材料、太阳能工程、有关航空航天制造用镀涂和有关工艺、纸和纸板。
在中国标准分类中，硅 氧 峰涉及到元素半导体材料、半金属及半导体材料分析方法、半金属与半导体材料综合、金属无损检验方法、金属物理性能试验方法、化学试剂综合、航空与航天用非金属材料、玻璃纤维、太阳能、氧化物、单质、半金属、基础标准与通用方法、一般有机化工原料。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于硅 氧 峰的标准
- GB/T 40561-2021 光伏硅材料 氧含量的测定 脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法
- GB/T 38976-2020 硅材料中氧含量的测试 惰性气体熔融红外法
- GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
国家质检总局，关于硅 氧 峰的标准
- GB/T 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
- GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
- GB/T 14144-1993 硅晶体中间隙氧含量经向变化测量方法
- GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
- GB/T 32281-2015 太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法
行业标准-化工，关于硅 氧 峰的标准
- HG/T 5335～5339-2018 分子筛吸附温升测定方法、分子筛落粉度测定方法、锂低硅X型分子筛、脱碳氧化合物用分子筛吸附剂和稳定性同位素15N标记的三聚氰胺（2018）
行业标准-电子，关于硅 氧 峰的标准
- SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入射P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
- SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
- SJ/T 11495-2015 硅中间隙氧的转换因子指南
- SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
行业标准-航天，关于硅 氧 峰的标准
- QJ 2727A-2014 碳纤维／酚醛－高硅氧纤维／酚醛复合摸压制品规范
- QJ 1853A-2004 玻璃/酚醛、高硅氧/酚醛模压制品拉伸性能试验方法
- QJ 2727-1995 碳纤维/酚醛-高硅氧纤维/酚醛复合模压制品规范
- QJ 1853-1990 玻璃/酚醛、高硅氧/酚醛模压制品拉伸强度试验方法
美国材料与试验协会，关于硅 氧 峰的标准
- ASTM C1494-2013 氨化硅粉末中碳、氮和氧的质量分数测定的标准试验方法
- ASTM C1494-2001(2007) 氨化硅粉末中碳、氮和氧的质量分数测定的标准试验方法
- ASTM F1188-00 红外吸收法测定硅的间隙原子氧含量的标准试验方法
- ASTM F1188-2000 红外线吸收法测定硅中填隙原子氧含量的标准试验方法
- ASTM F1366-92(1997)e1 用二次离子质谱法测量重掺杂硅衬底中氧浓度的标准试验方法
- ASTM F1366-1992(1997)e1 用次级离子质谱仪测量重掺杂硅基底中氧含量的测试方法
行业标准-建材，关于硅 氧 峰的标准
- JC/T 1089-2008 高硅氧连续玻璃纤维纱
国家军用标准-国防科工委，关于硅 氧 峰的标准
- GJB 1679A-2008 高硅氧玻璃纤维纱规范
- GJB 1873-1994 高硅氧玻璃纤维布规范
德国标准化学会，关于硅 氧 峰的标准
- DIN V VDE V 0126-18-6-2007 太阳能硅片.第6部分:光电器件用硅中代位碳原子和间隙氧含量的测量方法
- DIN 50438-1-1995 半导体工艺材料检验.用红外吸收法测量硅的杂质含量.第1部分:氧
，关于硅 氧 峰的标准
- GOST 26239.7-1984 半导体硅.氧、碳、氮测定法
欧洲标准化委员会，关于硅 氧 峰的标准
- EN 2260-1995 航空航天系列.硅氧橡胶(VMQ).硬度60 IRHD
台湾地方标准，关于硅 氧 峰的标准
- CNS 12105-1987 纸中硅氧聚合物含量试验法
法国标准化协会，关于硅 氧 峰的标准
- NF T77-151-1986 工业用基础硅塑料.烃氧自由基的测定.气相色谱法
