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RUHalbleitertesttechnik
Für die Halbleitertesttechnik gibt es insgesamt 43 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Halbleitertesttechnik die folgenden Kategorien: Wortschatz, Halbleitermaterial, Optoelektronik, Lasergeräte, Diskrete Halbleitergeräte, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Gleichrichter, Wandler, geregelte Netzteile.
未注明发布机构, Halbleitertesttechnik
- DIN SPEC 1994 E:2016-07 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung von Anionen in schwachen Säuren
- DIN 50451-7 E:2017-02 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung von Spuren von Elementen in Flüssigkeiten – Teil 7: Bestimmung von 31 Elementen in hochreiner Salzsäure mittels ICP-MS
- DIN 50451-7 E:2017-09 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung von Spuren von Elementen in Flüssigkeiten – Teil 7: Bestimmung von 31 Elementen in hochreiner Salzsäure mittels ICP-MS
German Institute for Standardization, Halbleitertesttechnik
- DIN SPEC 1994:2017-02 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung von Anionen in schwachen Säuren
- DIN 50455-1:2009-10 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Methoden zur Charakterisierung von Fotolacken – Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mit optischen Methoden
- DIN 50455-2:1999-11 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Methoden zur Charakterisierung von Fotolacken – Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von positiven Fotolacken
- DIN 50452-1:1995-11 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Prüfverfahren zur Partikelanalyse in Flüssigkeiten – Teil 1: Mikroskopische Bestimmung von Partikeln
- DIN 50453-1:2023-08 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen – Teil 1: Silizium-Einkristalle, gravimetrische Methode
- DIN 50452-3:1995-10 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Prüfverfahren zur Partikelanalyse in Flüssigkeiten – Teil 3: Kalibrierung optischer Partikelzähler
- DIN 50452-2:2009-10 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Prüfverfahren zur Partikelanalyse in Flüssigkeiten – Teil 2: Bestimmung von Partikeln durch optische Partikelzähler
- DIN 50451-3:2014-11 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung von Elementspuren in Flüssigkeiten – Teil 3: Bestimmung von 31 Elementen in hochreiner Salpetersäure mittels ICP-MS
- DIN 50451-7:2018-04 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung von Spuren von Elementen in Flüssigkeiten – Teil 7: Bestimmung von 31 Elementen in hochreiner Salzsäure mittels ICP-MS
- DIN 50451-6:2014-11 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik - Bestimmung von Spuren von Elementen in Flüssigkeiten - Teil 6: Bestimmung von 36 Elementen in einer hochreinen Ammoniumfluoridlösung (NH<(Index)4>F) und in Ätzmischungen aus hochreinem Ammonium. ..
- DIN 50450-1:1987-08 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik; Bestimmung von Verunreinigungen in Trägergasen und Dotierungsgasen; Bestimmung der Wasserverunreinigung in Wasserstoff, Sauerstoff, Stickstoff, Argon und Helium mithilfe einer Diphosphorpentoxidzelle
- DIN 50453-2:2023-08 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen – Teil 2: Siliziumdioxid-Beschichtung, optische Methode
- DIN 50450-4:1993-09 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik; Bestimmung von Verunreinigungen in Trägergasen und Dotierstoffgasen; Bestimmung von C<(Index)1>
——C<(Index)3>
——Kohlenwasserstoffen in Stickstoff mittels Gaschromatographie
- DIN 50451-4:2024-01 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung von Spurenelementen in Flüssigkeiten – Teil 4: Bestimmung von 34 Elementen in Reinstwasser mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS) / Hinweis: Ausgabedatum 24.11.2023*Int ...
- DIN 50451-4:2007-02 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung von Spurenelementen in Flüssigkeiten – Teil 4: Bestimmung von 34 Elementen in Reinstwasser mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS)
- DIN 50450-2:1991-03 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik; Bestimmung von Verunreinigungen in Trägergasen und Dotierungsgasen; Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in N<(Index)2>, Ar, He, Ne und H<(Index)2> durch Verwendung einer galvanischen Zelle
- DIN 51456:2013-10 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Oberflächenanalyse von Siliziumwafern durch Multielementbestimmung in wässrigen Analyselösungen mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS)
- DIN 50441-5:2001 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung der geometrischen Abmessungen von Halbleiterscheiben – Teil 5: Begriffe der Form- und Ebenheitsabweichung
- DIN 50451-2:2003-04 Prüfung von Werkstoffen für die Halbleitertechnik – Bestimmung von Spurenelementen in Flüssigkeiten – Teil 2: Calcium (Ca), Kobalt (Co), Chrom (Cr), Kupfer (Cu), Eisen (Fe), Nickel (Ni) und Zink (Zn). ) in Flusssäure mit plasmainduziertem Emissionsspektrum...
- DIN 50451-1:2003-04 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung von Spurenelementen in Flüssigkeiten – Teil 1: Silber (Ag), Gold (Au), Calcium (Ca), Kupfer (Cu), Eisen (Fe), Kalium (K) und Natrium (Na). ) in Salpetersäure durch AAS
CZ-CSN, Halbleitertesttechnik
Professional Standard - Electron, Halbleitertesttechnik
- SJ/T 11820-2022 Technische Anforderungen und Messmethoden für DC-Parameter-Testgeräte für diskrete Halbleiterbauelemente
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Halbleitertesttechnik
- GB/T 29299-2012 Allgemeine Spezifikation des Halbleiterlaser-Entfernungsmessers
- GB/T 31359-2015 Testmethoden von Halbleiterlasern
- GB/T 15873-1995 Richtlinien für die Ausarbeitung von Schnittstellenspezifikationen für Halbleiteranlagen
Group Standards of the People's Republic of China, Halbleitertesttechnik
HU-MSZT, Halbleitertesttechnik
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Halbleitertesttechnik
- JEDEC JEP140-2002 Messung der Temperatur von Halbleitergehäusen mit Perlen-Thermoelementen
RO-ASRO, Halbleitertesttechnik
Defense Logistics Agency, Halbleitertesttechnik
IN-BIS, Halbleitertesttechnik
Association Francaise de Normalisation, Halbleitertesttechnik
- NF ISO 10677:2011 Technische Keramik – UV-Lichtquellen zum Testen photokatalytischer Halbleitermaterialien
RU-GOST R, Halbleitertesttechnik
Professional Standard - Machinery, Halbleitertesttechnik