本标准规定了太阳能电池用硅单晶切割片(简称硅片)的技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及质量证明书与订货单内容。 本标准适用于直拉法(CZ/MCZ)制备的地面太阳能电池用硅单晶切割片。
GB/T 26071-2010由国家质检总局 CN-GB 发布于 2011-01-10,并于 2011-10-01 实施,于 2019-06-01 废止。
GB/T 26071-2010 在中国标准分类中归属于: H80 半金属与半导体材料综合,在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。
* 在 GB/T 26071-2010 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片 于 2013-03-01 变更为 CTI STD-137-2013 用于冷却塔的玻璃纤维拉挤结构产品。
本设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探器行业已运用了三十多年,积累了丰富的使用经验,经过数次十多个单位巡回测试的考验,证明是一种成熟的测试方法,特别适合于硅块、硅棒的少子体寿命测量;也可对硅片进行测量,给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面,因此制样特别简便。...
-06-0182GB/T 30866-2014碳化硅单晶片直径测试方法2015-02-0183GB/T 30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法2015-02-0184GB/T 30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法2015-02-0185GB/T 30869-2014太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法2015-02-0186GB/T 30870-...
-2014碳化硅单晶片直径测试方法2015-02-0183GB/T 30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法2015-02-0184GB/T 30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法2015-02-0185GB/T 30869-2014太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法2015-02-0186GB/T 30870-2014特种致密定形耐火制品分类2015...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号