GB/T 30856-2014
LED外延芯片用砷化镓衬底
GaAs substrates for LED epitaxial chips
GBT30856-2014, GB30856-2014
GB/T 30856-2014 发布历史
本标准规定了LED外延芯片用砷化镓单晶衬底片(以下简称衬底)的要求、检验方法和规则以及标志、包装、运输、储存、质量证明书与订货单(或合同)内容。本标准适用于LED外延芯片用的砷化镓单晶衬底。
GB/T 30856-2014由国家质检总局 CN-GB 发布于 2014-07-24，并于 2015-04-01 实施。
GB/T 30856-2014 在中国标准分类中归属于: H83 化合物半导体材料，在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。
GB/T 30856-2014 发布之时，引用了标准
- GB/T 13387 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
- GB/T 13388 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
- GB/T 14140 硅片直径测量方法
- GB/T 14264 半导体材料术语
- GB/T 14844 半导体材料牌号表示方法*， 2018-12-28 更新
- GB/T 1555 半导体单晶晶向测定方法
- GB/T 191 包装储运图示标志
- GB/T 2828.1 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
- GB/T 4326 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
- GB/T 6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
- GB/T 6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法
- GB/T 6620 硅片翘曲度非接触式测试方法
- GB/T 6621 硅片表面平整度测试方法
- GB/T 6624 硅抛光片表面质量目测检验方法
- GB/T 8760 砷化镓单晶位错密度的测试方法*， 2020-09-29 更新
* 在 GB/T 30856-2014 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
GB/T 30856-2014的历代版本如下：
- 2014年 GB/T 30856-2014 LED外延芯片用砷化镓衬底
- 标准号
- GB/T 30856-2014
- 别名
- GBT30856-2014
GB30856-2014 - 发布
- 2014年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 30856-2014
- 引用标准
- GB/T 13387 GB/T 13388 GB/T 14140 GB/T 14264 GB/T 14844 GB/T 1555 GB/T 191 GB/T 2828.1 GB/T 4326 GB/T 6616 GB/T 6618 GB/T 6620 GB/T 6621 GB/T 6624 GB/T 8760 SEMI M9.7-0200
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