半导体 谱

本专题涉及半导体 谱的标准有2条。

国际标准分类中，半导体 谱涉及到金属材料试验、光学和光学测量。

在中国标准分类中，半导体 谱涉及到半金属及半导体材料分析方法。

国家质检总局，关于半导体 谱的标准

• GB/T 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法

台湾地方标准，关于半导体 谱的标准

• CNS 13805-1997 光电半导体晶圆之光激光谱量测法

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