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氧 半导体

本专题涉及氧 半导体的标准有357条。

国际标准分类中,氧 半导体涉及到半导体分立器件、集成电路、微电子学、电子元器件综合、阀门、半导体材料、电工和电子试验、光纤通信、电学、磁学、电和磁的测量、航空航天制造用材料、纺织产品、滤波器。

在中国标准分类中,氧 半导体涉及到半导体分立器件综合、半导体三极管、半导体集成电路、、敏感元器件及传感器、电工绝缘材料及其制品、半导体分立器件、阀门、光通信设备、微电路综合、电子测量与仪器综合、航空与航天用金属铸锻材料、计算机应用、基础标准与通用方法、场效应器件、计算机设备。


欧洲电工标准化委员会,关于氧 半导体的标准

  • EN 62417:2010 半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)
  • EN 62373:2006 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验 IEC 62373:2006

美国国防后勤局,关于氧 半导体的标准

英国标准学会,关于氧 半导体的标准

  • BS EN 62416:2010 半导体器件.金属氧化物半导体(MOS)晶体管的热载流子试验
  • BS EN 62373:2006 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
  • BS IEC 62373-1:2020 半导体器件 金属氧化物、半导体、场效应晶体管 (MOSFET) 的偏置温度稳定性测试 MOSFET 的快速 BTI 测试
  • 18/30381548 DC BS EN 62373-1 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试 第1部分.快速BTI测试方法
  • 17/30366375 DC BS IEC 62373-1 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试 第1部分.快速BTI测试方法
  • BS IEC 60747-8-4:2004 半导体分立器件.电力开关设备的金属氧化物半导体场效应晶体管
  • BS ISO 17299-5:2014 纺织品 除臭剂性能的测定 金属氧化物半导体传感器方法

法国标准化协会,关于氧 半导体的标准

国际电工委员会,关于氧 半导体的标准

  • IEC 62417:2010 半导体器件.金属氧化物半导体场效应管(MOSFETs)移动离子试验
  • IEC 62373-1:2020 半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的偏压温度稳定性试验.第1部分:MOSFET的快速BTI试验
  • IEC 62373:2006 金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
  • IEC 60747-8-4:2004 半导体分立器件.第8-4部分:电力开关装置用金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)

丹麦标准化协会,关于氧 半导体的标准

  • DS/EN 62417:2010 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的移动离子测试
  • DS/EN 62373:2006 金属氧化物、半导体、场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试

德国标准化学会,关于氧 半导体的标准

  • DIN EN 62417:2010-12 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的移动离子测试
  • DIN EN 62373:2007 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
  • DIN EN 62417:2010 半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的移动离子试验(IEC 62417-2010);德文版本EN 62417-2010
  • DIN EN 62373:2007-01 金属氧化物、半导体、场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试

ES-UNE,关于氧 半导体的标准

  • UNE-EN 62417:2010 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的移动离子测试
  • UNE-EN 62373:2006 金属氧化物、半导体、场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试

中国团体标准,关于氧 半导体的标准

  • T/CECA 35-2019 金属氧化物半导体气体传感器
  • T/CASAS 006-2020 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范
  • T/CASAS 015-2022 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)功率循环试验方法

立陶宛标准局,关于氧 半导体的标准

  • LST EN 62417-2010 半导体设备 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的移动离子测试(IEC 62417:2010)
  • LST EN 62373-2006 金属氧化物、半导体、场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试(IEC 62373:2006)

行业标准-电子,关于氧 半导体的标准

  • SJ 20025-1992 金属氧化物半导体气敏元件总规范
  • SJ 20026-1992 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
  • SJ 20079-1992 金属氧化物半导体气敏元件.试验方法
  • SJ/T 11824-2022 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)等效电容和电压变化率测试方法

国家质检总局,关于氧 半导体的标准

(美国)军事条例和规范,关于氧 半导体的标准

PH-BPS,关于氧 半导体的标准

  • PNS IEC 62373-1:2021 半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的偏压温度稳定性试验.第1部分:MOSFET的快速BTI试验

RU-GOST R,关于氧 半导体的标准

台湾地方标准,关于氧 半导体的标准

  • CNS 8104-1981 金属氧化物半导体场效晶体管线性临界电压测试法
  • CNS 8106-1981 金属氧化物半导体场效晶体管饱和临界电压测试法

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.,关于氧 半导体的标准

  • IEEE 641-1987 金属氮化物氧化物半导体阵列的标准定义和表征

美国电气电子工程师学会,关于氧 半导体的标准

美国通用公司(北美),关于氧 半导体的标准

  • GM GM6078M-1989 固体膜润滑剂涂层树脂粘合的金属氧化物半导体和聚四氟乙烯

国际标准化组织,关于氧 半导体的标准

  • ISO 17299-5:2014 纺织品. 除臭性能的测定. 第5部分: 金属氧化物半导体传感器法

工业和信息化部,关于氧 半导体的标准

  • SJ/T 9014.8.2-2018 半导体器件 分立器件第8-2部分:超结金属氧化物半导体场效应晶体管空白详细规范

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