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薄膜的紫外测试条件

本专题涉及薄膜的紫外测试条件的标准有237条。

国际标准分类中，薄膜的紫外测试条件涉及到橡胶和塑料制品、塑料、太阳能工程、建筑材料、涂料和清漆、管道部件和管道、纺织产品、电子电信设备用机电元件、陶瓷、玻璃、电工器件、家具、水质、半导体分立器件、机床、电工和电子试验、石蜡、沥青材料和其他石油产品、道路工程、声学和声学测量、土方机械、噪声(与人有关的)、皮革技术、半导体材料、道路车辆综合、通风机、风扇、空调器、光学设备、报警和警告系统、医疗设备、电气工程综合、粉末冶金、体积、质量、密度和粘度的测量、石油和天然气工业设备。

在中国标准分类中，薄膜的紫外测试条件涉及到合成树脂、塑料基础标准与通用方法、纸浆与纸板、塑料型材、涂料基础标准与通用方法、其他纺织制品、低压配电电器、特种陶瓷、环境卫生、水环境有毒害物质分析方法、电子设备专用微特电机、基础标准与通用方法、车身（驾驶室）及附件、屋面、铺面防水与防潮材料、半导体分立器件综合、石油沥青、噪声、振动测试方法、建筑工程施工机械、涂料、帽、手套、袜子、其他、图书馆、档案、文献与情报工作、半金属、压缩机、风机、粉末冶金综合、医疗器械综合、流量与物位仪表、体外循环、人工脏器、假体装置。


韩国科技标准局，关于薄膜的紫外测试条件的标准

KR-KS，关于薄膜的紫外测试条件的标准

英国标准学会，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • BS EN ISO 527-3:2018 塑料 拉伸性能的测定 薄膜和片材的测试条件
  • BS EN ISO 527-3:1996 塑料.塑料抗拉性能的测定.第3部分:薄膜和薄板材试验条件
  • BS 3900-F19:2000 涂料的试验方法.漆膜的耐久性试验.耐循环腐蚀条件的确定.湿的(盐雾)/干的/湿度/紫外光线的测定
  • PD IEC/TS 63337:2024 汽车用直流母线薄膜电容器的基本鉴定 一般要求、测试条件和测试
  • BS EN ISO 8580:1995(2000) 橡胶和塑料软管 静态条件下抗紫外线性能的测定
  • BS EN 62047-3:2006 半导体器件.微机电设备.拉伸测试的薄膜标准试样
  • PD IEC TS 63337:2024 汽车用直流母线薄膜电容器的基本资格 一般要求、试验条件和试验
  • BS EN 1297:2004 防水用软薄板.屋顶防水用沥青、塑料和橡胶薄板.长期暴露于紫外线辐射、升温和水雨综合条件的人工老化法
  • BS EN 62047-18:2013 半导体器件.微型机电装置.薄膜材料的弯曲测试方法
  • BS IEC 62047-36:2019 半导体器件 微机电器件 MEMS压电薄膜的环境和介电耐受测试方法
  • 16/30325091 DC BS ISO 3875 机床 外圆无心磨床的试验条件 准确性测试
  • 18/30361448 DC BS ISO 3875 机床 外圆无心磨床的试验条件 准确性测试
  • BS IEC 62951-6:2019 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 柔性导电薄膜方块电阻的测试方法
  • BS EN 62047-17:2015 半导体器件. 微型机电装置. 用于测量薄膜力学性能的胀形试验方法
  • 17/30352674 DC BS IEC 62788-6-2 光伏组件所用材料的测量程序 第6-2部分 一般测试 聚合物薄膜的透湿性测试
  • BS IEC 62951-1:2017 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 柔性基板上导电薄膜的弯曲测试方法
  • 20/30389593 DC BS ISO 23737 精细陶瓷（高级陶瓷、先进技术陶瓷） 精细陶瓷薄膜干湿条件下的磨损试验方法
  • BS ISO 17861:2014 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 在潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱透射率的测量方法
  • BS ISO 23738:2021 精细陶瓷（高级陶瓷、高级技术陶瓷） 精细陶瓷薄膜在潮湿条件下光谱反射率的测量方法
  • BS IEC 60747-14-11:2021 半导体器件 半导体传感器 基于声表面波的紫外、照度和温度测量集成传感器的测试方法
  • 23/30468403 DC BS EN IEC 60068-2-87 环境测试 第 2-87 部分 测试-测试 xx：材料和组件的 UV-C 暴露以模拟紫外线杀菌辐射或其他应用
  • BS EN 61215-1-4:2017 地面光伏组件 设计鉴定和型式批准 薄膜Cu（In，Ga）（S，Se）2基光伏（PV）组件测试的特殊要求
  • 20/30389596 DC BS ISO 23738 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱反射率的测量方法
  • BS EN IEC 61215-1-3:2021+A1:2022 地面光伏（PV）模块 设计资质和型式核准 薄膜非晶硅光伏（PV）组件测试的特殊要求
  • BS IEC 62951-7:2019 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 表征柔性有机半导体薄膜封装阻隔性能的测试方法
  • BS ISO 19741:2018 光学和光子学 光学材料及元件 红外光学材料条纹的测试方法
  • 18/30383935 DC BS EN IEC 62047-37 半导体器件 微机电装置 第37部分 传感器应用MEMS压电薄膜的环境测试方法
  • BS ISO 18192-3:2017 外科植入物. 整个脊椎间盘假体的磨损. 不良运动学条件下腰椎假体试验的撞击磨损检测和相应环境条件

印度尼西亚标准，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • SNI 06-4209.3-1998 塑料制品. 抗拉性的测定. 第3部分：薄膜和薄片的测试条件

VN-TCVN，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • TCVN 4501-3-2009 塑料.拉伸性能的测定.第3部分:薄膜和薄片的试验条件

国家质检总局，关于薄膜的紫外测试条件的标准

国际标准化组织，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • ISO 527-3:1995 塑料 拉伸性能的测定 第3部分:薄膜和薄板材的试验条件
  • ISO 527-3:2018 塑料.拉伸性能的测定.第3部分：薄膜和片材的试验条件
  • ISO 527-3:1995/cor 1:1998 塑料 拉伸性能的测定 第3部分:薄膜和薄板材的试验条件 技术勘误1
  • ISO 3875:2020 机床 - 外圆筒式无心磨床的试验条件 - 精度测试
  • ISO 6393:1998 声学 推土机发射的外部噪声的测量 稳态试验条件
  • ISO 6395:1988 声学 推土机发射的外部噪声的测量 动力试验条件
  • ISO 527-3:1995/cor 2:2001 塑料.拉伸特性的测定.第3部分:膜和片的试验条件.技术勘误2
  • ISO 23738:2021 精细陶瓷（高级陶瓷、高级工业陶瓷）.潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱反射率的测量方法
  • ISO 6395:1988/Amd 1:1996 声学 推土机发射的外部噪声的测量 动力试验条件 修改1
  • ISO 17861:2014 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 在潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱透射率的测量方法
  • ISO 13347-1:2004/Amd 1:2010 工业风扇.标准试验室条件下风扇声能级的测定.第1部分:外观.修改件1
  • ISO 19741:2018 光学和光子学 - 光学材料和组件 - 红外光学材料条纹的测试方法
  • ISO 18242:2016/Amd 1:2011 心血管植入物和体外系统 - 离心血泵 - 修正案1：最坏情况的测试条件
  • ISO 18242:2016/FDAmd 1 心血管植入物和体外系统 - 离心血泵 - 修正案1：最坏情况的测试条件
  • ISO 10070:1991 金属粉末 在稳态流动条件下粉末层的透气性试验外层表面区域的测定
  • ISO 6393:1985 声学.土方机械发出的气载噪音测量.符合室外噪音限制的测定方法.静态试验条件

法国标准化协会，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • NF T51-034-3:1995 塑料制品.抗拉性能的测定.第3部分:薄膜和薄板的试验条件
  • NF T51-034-3*NF EN ISO 527-3:2018 塑料 拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和片材的试验条件
  • NF P84-106*NF EN 1297:2005 防水用软薄板.屋顶防水用沥青、塑料和橡胶薄板.长期暴露于紫外线辐射、高温和水的组合条件下的人工老化法
  • NF EN ISO 11997-2:2013 色漆和清漆 - 耐循环腐蚀条件的测定 - 第 2 部分：盐雾/干燥/湿度/紫外线
  • NF EN 62374:2008 半导体器件 - 栅极介电薄膜的时间相关介电击穿测试 (TDDB)
  • NF X41-004-2*NF EN ISO 11997-2:2013 色漆和清漆 - 耐周期性腐蚀条件的测定 - 第2部分: 湿 (盐雾) /干/潮湿/紫外光
  • NF EN 62047-21:2014 半导体器件 微机电器件 第21部分：薄膜MEMS材料泊松比的测试方法
  • NF C96-050-17*NF EN 62047-17:2015 半导体器件-微机电器件-第17部分：测量薄膜机械性能的凸起试验方法
  • NF EN 62047-17:2015 半导体器件 微机电器件 第 17 部分：测量薄膜机械性能的凸出试验方法
  • NF EN 62047-8:2011 半导体器件微机电器件第8部分：测量薄膜拉伸性能的带材弯曲试验方法
  • NF E58-022:1997 声学.土方机械发出的外部噪声的测量.动态试验条件
  • NF G92-003:1989 书包和书包 测试方法 通过缝制片材（薄膜）中的柔性材料来测定组件的断裂强度
  • NF C96-050-16*NF EN 62047-16:2015 半导体器件 微机电器件 第16部分：测定 MEMS 薄膜残余应力的测试方法 晶片曲率和悬臂梁偏转方法
  • NF EN 62047-16:2015 半导体器件.微机电器件.第16部分：测定MEMS薄膜残余应力的测试方法.晶圆曲率和悬臂梁偏转方法
  • NF ISO 9957-2:1995 绘图液 第2部分：印度墨水以外的水性墨水 要求和测试条件
  • NF EN 62788-1-5:2017 光伏模块中使用的材料的测量程序 - 第 1-5 部分：封装剂 - 测量因施加的热条件而产生的薄膜封装材料的线性尺寸变化...
  • NF C96-050-12*NF EN 62047-12:2012 半导体器件 - 微型机电装置 - 第12部分: 使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法.
  • NF E51-006-1/A1*NF ISO 13347-1/A1:2011 工业风扇.标准试验室条件下风扇声能级的测定.第1部分:外观.修改件1
  • NF E17-010-2:2000 计量方法.除水以外的液体测量用装置.第2部分:试验方法、条件和程序

CEN - European Committee for Standardization，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • EN ISO 527-3:2018 塑料.拉伸性能的测定.第3部分:薄膜和薄板材用试验条件

澳大利亚标准协会，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • AS 1145.3:2001 塑料材料拉伸性能的测定．薄膜和板材的试验条件
  • AS/NZS 1580.602.2:1995 油漆及类似材料 测试方法 20度、60度和85度条件下进行非金属性油漆薄膜镜面光泽测量
  • AS 1145.5:2001 塑料材料拉伸性能的测定．薄纤维增强塑料复合材料的试验条件
  • AS/NZS 1301.455:2014 纸浆和纸张的试验方法 漫反射法测定颜色 室外日光条件（D65/10°）
  • AS/NZS 1301.535:2016 纸浆和纸张的测试方法 通过漫反射测定颜色 方法 535：室外日光条件（D65/10°）

ES-UNE，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • UNE-EN ISO 527-3:2019 塑料 拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和片材的测试条件
  • UNE-EN 62047-8:2011 半导体器件 微机电器件 第8部分：薄膜拉伸性能测量的条带弯曲试验方法
  • UNE-EN 62047-18:2013 半导体器件 微机电器件 第18部分：薄膜材料的弯曲测试方法
  • UNE-EN 62047-17:2015 半导体器件 微机电器件 第17部分：测量薄膜机械性能的凸起测试方法
  • UNE-EN 62047-6:2010 半导体器件 微机电器件 第6部分：薄膜材料的轴向疲劳测试方法
  • UNE-EN 62047-21:2014 半导体器件 微机电器件 第21部分：薄膜 MEMS 材料泊松比的测试方法
  • UNE-EN 301908-11 V3.2.1:2006 半导体器件 - 微机电器件 - 第 2 部分：薄膜材料的拉伸测试方法（IEC 62047-2:2006）。
  • UNE-EN 62047-2:2006 半导体器件 - 微机电器件 - 第 2 部分：薄膜材料的拉伸测试方法（IEC 62047-2:2006）。
  • UNE-EN 300417-5-1 V1.1.3:2006 半导体器件 - 微机电器件 - 第 2 部分：薄膜材料的拉伸测试方法（IEC 62047-2:2006）。
  • UNE-EN 62047-22:2014 半导体器件 微机电器件 第22部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸测试方法
  • UNE-EN 62047-12:2011 半导体器件 微机电器件 第12部分：利用 MEMS 结构共振的薄膜材料弯曲疲劳测试方法
  • UNE-EN 62047-16:2015 半导体器件 微机电器件 第16部分：测定 MEMS 薄膜残余应力的测试方法 晶圆曲率和悬臂梁偏转方法
  • UNE-EN IEC 61215-1-3:2022 地面光伏（PV）组件 设计资格和型式核准 第1-3部分：薄膜非晶硅光伏（PV）组件测试的特殊要求
  • UNE-EN IEC 61215-1-3:2022/A1:2022 地面光伏（PV）组件 设计资格和型式核准 第1-3部分：薄膜非晶硅光伏（PV）组件测试的特殊要求

德国标准化学会，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • DIN EN ISO 527-3:2019-02 塑料 拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和片材的测试条件
  • DIN EN ISO 527-3:2019 塑料 拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和片材的测试条件（ISO 527-3:2018）
  • DIN EN ISO 527-3:2003 塑料.抗拉性能的测定.第3部分:薄膜和片材的试验条件（包括勘误AC-1998和AC-2002）
  • DIN EN 1297:2004 防水用软薄板.屋顶防水用沥青、塑料和橡胶薄板.长期暴露于紫外线辐射、高温和水的组合条件下的人工老化法
  • DIN EN 62047-18:2014-04 半导体器件-微机电器件-第18部分：薄膜材料的弯曲测试方法
  • DIN EN ISO 11997-2:2013-12 油漆和清漆 耐循环腐蚀条件的测定 第2部分：湿（盐雾）/干/湿度/紫外线
  • DIN EN 62374:2008-02 半导体器件-栅极介电薄膜的时间相关介电击穿（TDDB）测试
  • DIN EN 62047-17:2015-12 半导体器件-微机电器件-第17部分：测量薄膜机械性能的凸起测试方法
  • DIN 53380-4:2006-11 塑料的测试 气体透过率的测定 第4部分：塑料薄膜和塑料模制品测试的二氧化碳特定红外吸收法
  • DIN EN 62047-8:2011-12 半导体器件微机电器件第8部分：薄膜拉伸性能测量的带材弯曲试验方法
  • DIN EN 62047-21:2015-04 半导体器件-微机电器件-第21部分：薄膜MEMS材料泊松比的测试方法（IEC 62047-21:2014）
  • DIN 53380-5:2014 塑料试验. 气体传输率的测定. 第5部分: 塑料薄膜和注塑件的光学方法
  • DIN 53380-5:2014-12 塑料测试 气体透过率的测定 第5部分：塑料薄膜和模制塑料部件的光学方法
  • DIN 53362:2003 带或不带涂层织物的塑料薄膜和纺织物(无纺织物除外)的试验.抗弯强度的测定.悬臂式试验法
  • DIN EN 62047-12:2012-06 半导体器件-微机电器件-第12部分：利用MEMS结构共振的薄膜材料弯曲疲劳测试方法
  • DIN 45687:2006-05 声学 用于计算室外声音传播的软件产品 质量要求和测试条件
  • DIN 53380-4:2006 塑料的试验.测定气体传输率.第4部分:塑料薄膜和塑料模压品试验用二氧化碳特殊红外线吸收法
  • DIN EN ISO 11997-2:2013 涂料和清漆.耐周期性腐蚀条件的测定.第2部分:湿(盐雾)/干燥/潮湿/紫外光(ISO 11997-2-2013).德文版本EN ISO 11997-2-2013
  • DIN EN 62047-16:2015-12 半导体器件-微机电器件-第16部分：确定MEMS薄膜残余应力的测试方法-晶圆曲率和悬臂梁偏转方法

未注明发布机构，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • DIN EN ISO 527-3 Berichtigung 1:1998 塑料拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和面板的测试条件
  • DIN EN ISO 527-3:1995 塑料拉伸性能的测定 DIN 第3部分：薄膜和面板的测试条件
  • DIN EN ISO 527-3 E:2018-09 塑料 抗拉性能的测定 第3部分：薄膜和片材的试验条件（草案）
  • ASTM RR-F02-1000 1990 F1249-使用调制红外传感器测量水蒸气透过塑料薄膜和薄片的标准测试方法
  • ASTM RR-D19-1163 1998 D5997-通过紫外线、过硫酸盐氧化和膜电导率检测在线监测水中总碳、无机碳的测试方法
  • ASTM RR-D19-1156 1997 D5904-通过紫外线、过硫酸盐氧化和膜电导率检测测定水中总碳、无机碳和有机碳的测试方法
  • DIN EN ISO 11997-2:2006 涂料和清漆 耐周期性腐蚀条件的测定 第2部分：湿(盐雾)/干燥/潮湿/紫外光
  • DIN 53380-4 E:2003-06 塑料的测试 气体透过率的测定 第4部分：塑料薄膜和塑料模制品测试的二氧化碳特定红外吸收法
  • ASTM RR-F02-1036 2013 F1249-使用调制红外传感器通过塑料薄膜和片材的水蒸气透过率的测试方法
  • DIN EN 62047-17 E:2011-06 半导体器件-微机电器件-第17部分：测量薄膜机械性能的凸起测试方法（草案）
  • DIN EN ISO 11997-2 E:2011-03 涂料和清漆 耐周期性腐蚀条件的测定 第2部分：湿(盐雾)/干燥/潮湿/紫外光（草案）
  • AS/NZS 1580.602.2:1995(R2013) 油漆及类似材料 测试方法 20度、60度和85度条件下进行非金属性油漆薄膜镜面光泽测量
  • DIN 53380-5 E:2013-12 塑料测试 气体透过率的测定 第5部分：塑料薄膜和模制塑料部件的光学方法
  • DIN EN 62047-16 E:2012-11 半导体器件-微机电器件-第16部分：确定MEMS薄膜残余应力的测试方法-晶圆曲率和悬臂梁偏转方法（草案）

丹麦标准化协会，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • DS/EN ISO 527-3/AC:2001 塑料 拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和片材的试验条件
  • DS/EN ISO 527-3/AC:1999 塑料 拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和片材的试验条件
  • DS/EN ISO 527-3:1996 塑料 拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和片材的试验条件
  • DS/EN ISO 8580:1995 橡胶和塑料软管．静态条件下抗紫外线性的测定
  • DS/EN 62047-8:2011 半导体器件微机电器件第8部分：薄膜拉伸性能测量的条带弯曲试验方法
  • DS/EN ISO 11997-2:2013 油漆和清漆 耐循环腐蚀条件的测定 第2部分：湿（盐雾）/干/湿度/紫外线
  • DS/ISO 6395:1992 声学．土方机械产生外部噪声的测量．动态试验条件
  • DS/EN IEC 61215-1-3:2021 地面光伏（PV）组件“设计鉴定和型式认可”第1-3部分：薄膜非晶硅基光伏（PV）组件测试的特殊要求
  • DS/EN IEC 61215-1-4:2021 地面光伏（PV）组件“设计鉴定和型式认可”第1-4部分：基于薄膜Cu（In，GA）（S，Se）的光伏（PV）组件测试的特殊要求
  • DS/ISO 6393:1986 声学. 土方机械发出的气载噪音测量. 符合室外噪音限制的测定方法. 静态试验条件

日本工业标准调查会，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • JIS K 7127:1999 塑料.抗拉性能的测定.第3部分:薄膜和片板材的试验条件
  • JIS R 1694:2012 潮湿条件下精细陶瓷薄膜的光谱透射率测量
  • JIS R 1698:2015 在潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱反射率的测量
  • JIS K 5600-7-8:1999 涂料的测试方法.第7部分:漆膜的长效性能.第8节:加速风化试验(暴露于荧光紫外灯)
  • JIS C 5630-2:2009 半导体器件.微型机电器件.第2部分:薄膜材料的拉伸测试方法
  • JIS K 5600-4-5 ERRATUM 1:2002 涂料试验方法.第4部分:薄膜的外观特性.第5节:比色法(测量)(勘误1)
  • JIS C 5630-6:2011 半导体器件.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳测试方法
  • JIS A 8317-1:2001 声学.土方机械发出的外部噪声的测量.动态试验条件
  • JIS C 5630-12:2014 半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法

美国材料与试验协会，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • ASTM D7238-06 荧光紫外冷凝装置对未增强聚烯烃土薄膜曝光作用的标准试验方法
  • ASTM F1595-00(2005) 薄膜开关目测检验时观测条件的标准实施规程
  • ASTM F1595-00(2012) 薄膜开关目测检验时观测条件的标准操作规程
  • ASTM F218-95(2000) 测定薄膜开关或薄膜开关组件上变频振动影响的标准试验方法
  • ASTM F2188-02(2019) 测定薄膜开关或薄膜开关组件上变频振动影响的标准试验方法
  • ASTM D5997-96(2000) 使用紫外线,过硫酸盐氧化和薄膜导电性检测法在线监测水中总碳量和无机碳量的标准试验方法
  • ASTM D5904-96 用紫外线、过(二)硫酸盐氧化物和薄膜导电率检测法测定水中总含碳量、有机碳和无机碳的标准试验方法
  • ASTM D5904-02 用紫外线、过硫酸盐氧化物和薄膜导电率检测法测定水中总含碳量、有机碳和无机碳的标准试验方法
  • ASTM D5904-02(2009) 用紫外线、过硫酸盐氧化物和薄膜导电率检测法测定水中总含碳量、有机碳和无机碳的标准试验方法
  • ASTM D7575-10e1 红外测定法测定无溶剂薄膜可回收油和油脂的标准试验方法
  • ASTM F2749-09 测定薄膜开关或组件压痕效应的标准试验方法
  • ASTM D7238-06(2017) 使用荧光紫外线冷凝仪的非增强聚烯烃地膜暴露效果的标准测试方法
  • ASTM D7238-20 使用荧光紫外线冷凝仪的非增强聚烯烃地膜暴露效果的标准测试方法
  • ASTM F1249-06(2011) 用调制红外线传感器测量水蒸气经塑料薄膜和薄片的传输率的标准试验方法
  • ASTM F1249-90(1995) 利用调幅红外线传感器对水蒸气透过塑料薄膜和薄板穿透率的标准测试方法
  • ASTM F1249-01 利用调幅红外线传感器对水蒸气透过塑料薄膜和薄板穿透率的标准测试方法
  • ASTM D3456-86(1996) 通过外部暴露测定的标准实践测试了油漆薄膜对微生物攻击的敏感性
  • ASTM D3456-18 通过外部暴露测定的标准实践测试了油漆薄膜对微生物攻击的敏感性
  • ASTM F1681-07 测定薄膜开关线路元件导体载流量的标准试验方法
  • ASTM F1681-07a 测定薄膜开关线路元件导体载流量的标准试验方法
  • ASTM F1681-96(2002) 测定薄膜开关线路元件导体载流能力的标准试验方法
  • ASTM F1681-96 测定薄膜开关线路元件导体载流能力的标准试验方法
  • ASTM D4799/D4799M-08(2013)e1 沥青加速老化试验条件和程序的标准做法（荧光紫外线 水喷雾和冷凝法）
  • ASTM D7238-06(2012) 使用荧光紫外冷凝装置测定未增强聚烯烃土工膜曝光效果的标准试验方法
  • ASTM D5904-02(2017) 通过紫外线 过硫酸盐氧化和膜电导检测在水中总碳 无机碳和有机碳的标准测试方法
  • ASTM D4799/D4799M-17(2023) 沥青材料加速老化试验条件和程序的标准实施规程（荧光紫外、喷水和冷凝法）
  • ASTM D5997-15 采用紫外线, 过硫酸盐氧化以及膜导电检测法在线监测水中总碳, 无机碳的标准试验方法
  • ASTM D4799/D4799M-17 沥青材料加速老化试验条件和程序的标准实施规程(荧光紫外线, 水雾和冷凝法)
  • ASTM D5997-96(2005) 通过紫外线,过硫酸盐氧化作用,膜导电位检测对水中总碳,无机碳在线监测的标准试验方法
  • ASTM D5997-96(2009) 通过紫外线、过硫酸盐氧化作用、膜导电位检测对水中总碳、无机碳在线监测的标准试验方法
  • ASTM D6317-98(2009) 通过紫外线 过硫酸盐氧化和膜电导检测低水平测定水中总碳 无机碳和有机碳的标准测试方法
  • ASTM F1249-13 使用调制红外线传感器测定水蒸汽对塑料膜和薄板的渗透率的标准试验方法
  • ASTM D6317-98 通过紫外线,过硫酸盐氧化,和膜导检测对水中总碳,有机碳,无机碳低水平测定的标准试验方法
  • ASTM D6317-98(2004) 通过紫外线,过硫酸盐氧化,和膜导检测对水中总碳,有机碳,无机碳低水平测定的标准试验方法
  • ASTM F1995-13 测定表面安装器件 (SMD) 和薄膜开关基板之间剪切强度的标准试验方法
  • ASTM D6317-15 使用紫外线, 过硫酸盐氧化以及膜电导检测对水中总碳, 无机碳以及有机碳进行低水平测定的标准试验方法
  • ASTM F374-00a 用单型程序直列式四点探针法测定硅外延层、扩散层、多晶硅层和离子注入层的薄膜电阻的测试方法

YU-JUS，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • JUS N.M1.030-1983 安全要求．紫外线和红外线皮肤处理装置．特殊技术条件及测试

国际电工委员会，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • IEC TS 63337:2024 汽车用直流母线薄膜电容器的基本资格 一般要求、测试条件和测试
  • IEC 62047-18:2013 半导体器件.微型机电器件.第18部分:薄膜材料的弯曲测试方法
  • IEC TS 62804-2:2022 光伏（PV）组件.检测潜在诱发退化的试验方法.第2部分:薄膜
  • IEC 62047-17:2015 半导体器件 - 微机电器件 - 第17部分:用于测量薄膜机械性能的膨胀测试方法
  • IEC 62047-12:2011 半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法
  • IEC 60747-14-11:2021 半导体器件 第 14-11 部分：半导体传感器 用于测量紫外线、照度和温度的基于表面声波的集成传感器的测试方法

立陶宛标准局，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • LST EN ISO 527-3+AC:2001 塑料 拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和片材的测试条件（ISO 527-3:1995）
  • LST EN ISO 527-3+AC:2001/AC:2008 塑料 拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和片材的测试条件（ISO 527-3:1995/Cor.1:2001）
  • LST EN 62047-8-2011 半导体器件微机电器件第8部分：薄膜拉伸性能测量的条带弯曲试验方法（IEC 62047-8:2011）
  • LST EN ISO 11997-2:2006 油漆和清漆 耐循环腐蚀条件的测定 第2部分：湿（盐雾）/干/湿度/紫外线（ISO 11997-2:2000）
  • LST EN 62374-2008 半导体器件 栅极介电薄膜的时间相关介电击穿（TDDB）测试（IEC 62374:2007）

AENOR，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • UNE-EN ISO 527-3:1996 塑料 拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和片材的测试条件 （ISO 527-3:1995）
  • UNE 15320:2006 机械工具 外圆无心磨床的试验条件 精度测试
  • UNE-EN ISO 11997-2:2014 油漆和清漆 耐循环腐蚀条件的测定 第2部分：湿（盐雾）/干/湿度/紫外线（ISO 11997-2:2013）
  • UNE 15319:2004 带移动工作台的外圆磨床和万能磨床 测试条件 精度测试

欧洲标准化委员会，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • EN ISO 527-3:1995 塑料.拉伸性能的测定.第3部分:薄膜和薄板材用试验条件.结合技术勘误1998-06和2001-04
  • EN 1297:2004 防水用软薄板.屋顶防水用沥青,塑料和橡胶薄板.长期暴露于紫外线辐射,高温和水的组合条件下的人工老化法
  • EN ISO 11997-2:2013 涂料和清漆.耐周期性腐蚀条件的测定.第2部分:湿(盐雾),干燥,潮湿,紫外光(ISO 11997-2:2013)
  • EN ISO 10070:2019 金属粉末 在稳态流动条件下粉末层的透气性试验外层表面区域的测定

美国通用公司（北美），关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • GM9011P-1988 封闭件,消音设置及乙烯基薄膜的抗冷震性测试

RO-ASRO，关于薄膜的紫外测试条件的标准

GOSTR，关于薄膜的紫外测试条件的标准

欧洲电工标准化委员会，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • EN 62047-17:2015 半导体器件-微机电器件-第17部分：测量薄膜机械性能的凸起试验方法
  • EN 62047-8:2011 半导体器件.微型电机装置.第8部分:薄膜拉力特性测量的带状抗弯试验
  • EN 62047-16:2015 半导体器件-微机电器件-第16部分：测定 MEMS 薄膜残余应力的试验方法 晶片曲率和悬臂梁偏转方法

CZ-CSN，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • CSN ISO 2433:1992 带移动工作台的外圆柱磨床的验收条件．精度测试
  • CSN 37 0612-1960 额外重负荷运行条件下机械连接压力测试的试验规范

BE-NBN，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • NBN-ISO 6395:1992 声学．土方机械发出的外部噪音的测定．动态试验条件

SAE - SAE International，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • SAE J/ISO 6395:2003 土方机械发出的外部噪声的声学测量动态测试条件（SAE 不再维护该文件）
  • SAE J/ISO 6393:2003 土方机械发出的外部噪声的声学测量静态测试条件（SAE 不再维护该文件）

(美国)海军，关于薄膜的紫外测试条件的标准

美国机动车工程师协会，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • SAE J2104-1991 声学 土方机械发出的外部噪声的测量 动态测试条件，标准； 1991年6月（ISO 6395）

PL-PKN，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • PN T80016-1987 电子元件．直流电的固定金属对苯二酸聚乙烯薄膜电介质电容器．一般要求和测试

RU-GOST R，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • GOST R 50777-2014 不同条件下的使用应用的无源红外线探测器. 通用要求和试验方法
  • GOST 10390-1986 电压为3kV及以上的电气设备.污染条件下外部绝缘的耐电强度的测试方法

行业标准-医药，关于薄膜的紫外测试条件的标准

  • YY/T 1427-2016 外科植入物.可植入材料及医疗器械静态和动态腐蚀试验的测试溶液和条件

薄膜的紫外测试条件，测试薄膜的紫外，紫外线测试的条件。

 

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半导体电阻率测试

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