二碲化钼迁移率

本专题涉及二碲化钼迁移率的标准有40条。

国际标准分类中,二碲化钼迁移率涉及到金属材料试验、绝缘流体、金属矿、空气质量、半导体分立器件、半导体材料、物理学、化学、建筑物的防护、粒度分析、筛分、网络、生物学、植物学、动物学、振动、冲击和振动测量。

在中国标准分类中,二碲化钼迁移率涉及到半金属及半导体材料分析方法、金属物理性能试验方法、化合物半导体材料、环境卫生、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、工业防尘防毒技术、建筑物理、半导体二极管、通信网技术体制、加工工艺综合、基础标准与通用方法、半导体分立器件综合。


国家质检总局,关于二碲化钼迁移率的标准

  • GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
  • GB 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
  • GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

美国材料与试验协会,关于二碲化钼迁移率的标准

  • ASTM E2242-21 用大气水迁移率法对矿山岩石进行柱渗滤提取的标准试验方法
  • ASTM E2865-12(2018) 纳米生物材料的电泳迁移率和Zeta电位的测量标准指南
  • ASTM F76-08(2016)e1 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
  • ASTM F76-08(2016) 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
  • ASTM E2865-12 纳米生物材料的电泳迁移率和Zeta电位的测量标准指南
  • ASTM E2865-2012 测量纳米生物材料电泳迁移率和电动电势的标准指南
  • ASTM F76-08 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
  • ASTM F76-2008(2016) 测量电阻率和霍尔系数和测定单晶半导体中霍尔迁移率的标准试验方法
  • ASTM F76-2008 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
  • ASTM E1470-92(1998) 用电泳迁移率表征蛋白质的标准试验方法
  • ASTM E1470-1992(2006) 电泳迁移率法表征蛋白质特性的标准试验方法
  • ASTM F76-86(2002) 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
  • ASTM F76-86(1996)e1 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
  • ASTM F76-1986(2002) 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
  • ASTM F76-1986(1996)e1 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法

,关于二碲化钼迁移率的标准

  • GOST R ISO 28439-2015 工作场所的大气. 超细气溶胶/纳米气溶胶的特性描述. 用差示电迁移率分析系统测定粒径分布和数量浓度
  • GOST R ISO 28439-2015 工作场所的大气. 超细气溶胶/纳米气溶胶的特性描述. 用差示电迁移率分析系统测定粒径分布和数量浓度

国际电工委员会,关于二碲化钼迁移率的标准

  • IEC 62951-2-2019 半导体器件.柔性和可伸展半导体器件.第2部分:柔性器件的电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压的评估方法
  • IEC 62951-2:2019 半导体器件.柔性和可伸展半导体器件.第2部分:柔性器件的电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压的评估方法

行业标准-电子,关于二碲化钼迁移率的标准

  • SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
  • SJ 3244.1-1989 砷化镓和磷化铟材料霍尔迁移率和载流子浓度的测量方法

韩国标准,关于二碲化钼迁移率的标准

  • KS I ISO 28439-2013 工作场所空气.超细悬浮微粒/纳米悬浮微粒的描述.用差示电迁移率分析系统测定粒径分布和数量浓度
  • KS I ISO 28439-2013 工作场所空气.超细悬浮微粒/纳米悬浮微粒的描述.用差示电迁移率分析系统测定粒径分布和数量浓度
  • KS B 0720-5-2001 振动及冲击.机械迁移率实验测定.第5部分:使用未附着在构造物上的励磁机测定冲击励磁
  • KS B 0720-1-2001 振动及冲击.机械迁移率实验测定.第1部分:基本术语定义及变换器
  • KS B 0720-2-2001 振动及冲击.机械迁移率实验测定.第2部分:单点加振和利用振动器的测定
  • KS B 0720-1-2001 振动及冲击.机械迁移率实验测定.第1部分:基本术语定义及变换器

法国标准化协会,关于二碲化钼迁移率的标准

  • NF X43-133-2011 工作场所大气.超细悬浮微粒/毫微悬浮颗粒表征.使用微分迁移率分析系统测定粒度分布和计数浓度.
  • NF Z82-691-2001 专用综合服务网(PISN).无绳终端迁移率(CTM).定位操作服务.服务说明
  • NF Z82-692-2001 专用综合业务网(PISN).无绳终端迁移率(CTM).定位操作服务.功能能力和信息流

英国标准学会,关于二碲化钼迁移率的标准

  • BS EN ISO 28439-2011 工作场所空气.工作场所超细悬浮微粒/纳米悬浮微粒的描述.用差示电迁移率分析系统测定粒径分布和数量浓度

国际标准化组织,关于二碲化钼迁移率的标准

  • ISO 28439:2011 工作场所空气——超细气溶胶/纳米气溶胶的表征——用微分电迁移率分析系统测定粒度分布和数浓度
  • ISO 15900:2009 粒度分布的测定——气溶胶粒子的微分电迁移率分析
  • ISO 7626-5:1994 振动和冲击.机械迁移率的实验测定.第5部分:用未连接到结构上的激励器进行冲击激励的测量
  • ISO 7626-1:1986 振动和冲击.机械迁移率的实验测定.第1部分:基本定义和传感器

德国标准化学会,关于二碲化钼迁移率的标准

  • DIN EN 15657-1-2009 建筑物和建筑元件的声学特性.来自建筑设备的空气传递或结构传递的声音的实验室测量.第1部分:设备迁移率大大高于接收迁移率的简化情况,以漩涡浴池为例.英文版本DIN EN 15657-1-2009-10




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