半导体 能隙

本专题涉及半导体 能隙的标准有1条。

国际标准分类中，半导体 能隙涉及到辐射测量、半导体分立器件。

在中国标准分类中，半导体 能隙涉及到辐射防护仪器。

美国电气电子工程师学会，关于半导体 能隙的标准

• IEEE/ANSI N 42.31-2003 电离辐射的宽能隙半导体探测器的分辨率和能效用测量规程用美国国家标准

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