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微电子元件
本专题涉及微电子元件的标准有14条。
国际标准分类中，微电子元件涉及到电子设备用机械构件、医学科学和保健装置综合、半导体分立器件、电容器。
在中国标准分类中，微电子元件涉及到电子元件综合、电子设备机械结构件、医药、卫生、劳动保护综合、胶粘剂、半导体集成电路、电容器。
美国材料与试验协会，关于微电子元件的标准
- ASTM F542-98 电子元件及微电子元件封装用密封化合物发热温度的试验方法
- ASTM F542-02 电子元件及微电子元件封装用密封化合物发热温度的标准试验方法
- ASTM F542-07 电子元件和微电子元件封装用电器外封胶的放热温度用标准试验方法
美国国家标准学会，关于微电子元件的标准
- ANSI/ASTM F542:2007 电子元件及微电子元件封装用密封化合物发热温度的试验方法
上海市标准，关于微电子元件的标准
- DB31/ 842-2014 微电子元件制造业职业病危害控制规范
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于微电子元件的标准
- JEDEC JESD22-C101D-2008 微电子元件静电放电耐受阈值的场致充电器件模型测试方法
- JEDEC JESD22-C101F-2013 微电子元件静电放电耐受阈值的场致充电器件模型测试方法
- JEDEC JESD22-C101C-2004 微电子元件抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法
韩国科技标准局，关于微电子元件的标准
- KS C IEC PAS 62162-2002(2022) 微电子元件静电放电耐受阈值的场致带电器件模型试验方法
- KS C IEC PAS 62162-2002(2017) 用于静电放电场感应带电装置模型试验方法承受微电子元件的阈值
- KS C IEC PAS 62162:2002 微型电子元件的静电放电耐受阈值的电器传导荷电元件模型试验方法
IEC - International Electrotechnical Commission，关于微电子元件的标准
- PAS 62162-2000 微电子元件静电放电耐受阈值的场感应带电器件模型测试方法（1.0 版）
PT-IPQ，关于微电子元件的标准
- NP 3081-1985 电子元件．微电子扫描中的半导体芯片检验，基础规格说明
法国标准化协会，关于微电子元件的标准
- NF C93-171:1985 电子设备元件.微调电容器
