GB/T 30855-2014
LED外延芯片用磷化镓衬底

GaP substrates for LED epitaxial chips

GBT30855-2014, GB30855-2014


GB/T 30855-2014 中,可能用到以下仪器设备

 

万通EQCM石英晶体微天平模块

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瑞士万通中国有限公司--实验室分析仪器

 

3T analytik 石英晶体微天平qCell

3T analytik 石英晶体微天平qCell

德祥科技有限公司

 

GB/T 30855-2014

标准号
GB/T 30855-2014
别名
GBT30855-2014
GB30855-2014
发布
2014年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 30855-2014
 
 
引用标准
GB/T 13387 GB/T 13388 GB/T 14140 GB/T 14264 GB/T 14844 GB/T 1555 GB/T 191 GB/T 2828.1 GB/T 4326 GB/T 6616 GB/T 6618 GB/T 6620 GB/T 6621 GB/T 6624 GJB 3076-1997
本标准规定了LED外延芯片用磷化镓单晶衬底片(以下简称衬底)的要求、检验方法以及标志、包装、运输、储存、质量证明书与订货单(或合同)内容。本标准适用于LED外延芯片的磷化镓单晶衬底。

GB/T 30855-2014相似标准


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GB/T 30855-2014 中可能用到的仪器设备





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