半导体 隙 测量

本专题涉及半导体 隙 测量的标准有2条。

国际标准分类中，半导体 隙 测量涉及到辐射测量、半导体分立器件。

在中国标准分类中，半导体 隙 测量涉及到通用核仪器、辐射防护仪器。

美国国家标准学会，关于半导体 隙 测量的标准

• ANSI N42.31-2003 离子辐射的宽能带隙半导体探测器的分辨和功效的测量规程

美国电气电子工程师学会，关于半导体 隙 测量的标准

• IEEE/ANSI N 42.31-2003 电离辐射的宽能隙半导体探测器的分辨率和能效用测量规程用美国国家标准

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